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181.
采用简单的相转化法制备了掺杂La0.5Li0.5TiO3(LLTO)的以聚偏氟乙烯(PVDF)和聚氧乙烯(PEO)为基体的PVDF-PEO/LLTO复合微孔聚合物膜.添加入LLTO快离子导体后,由于在LLTO的表面形成了新的锂离子传输通道,使得复合微孔聚合物膜的电化学性能提高.当LLTO的掺杂量为8%时,该复合微孔膜的...  相似文献   
182.
随着网络技术的高速发展,即时通讯几乎已经成为了人们利用网络进行沟通的主流方式。文章对即时通讯系统的相关情况进行了概述,并利用Java的多线程机制和跨平台特性,给出了一套基于Java的即时通讯系统的设计方案,最后还简单分析了该设计方案的可扩展性及应用。  相似文献   
183.
为了模拟细胞色素P450酶的催化活性功能,提高金属卟啉的重复使用催化效率,通过π-π叠加相互作用将CoTNPP固载在氧化石墨烯(GO)上,形成一种仿生催化材料(CoTNPP/GO).用紫外可见光谱(UV-Vis)、傅里叶红外光谱(FT-IR)、比表面测试(BET)、X射线光电子能谱(XPS)、扫描电镜(SEM)和热重分析(TG)技术对该催化材料进行表征,并用于催化分子氧氧化乙苯.在最佳的反应温度和氧气压力(150℃和0.8 MPa)条件下,0.25g固载催化材料可重复使用8次,平均的乙苯转化率和醇酮产率分别为24.5%和16.3%.  相似文献   
184.
本文采用水热合成法一步合成具有不同荧光性能的N/P-掺杂碳点。利用X-ray光电子能谱(XPS)和透射电子显微镜(TEM)对所得碳点的元素组成和微观形貌进行测试和分析。通过荧光光谱研究了不同碳点的光学性能,并考察了合成体系、碳源和掺杂情况对所得碳点荧光性能的影响。研究表明,通过加入植酸作为磷源成功实现了P-掺杂,所得碳点粒径约为2.3 nm。合成体系和碳源将影响所得碳点的荧光发射光谱和量子产率,通过P-掺杂可使其峰位发生明显移动,并改善碳点的荧光量子产率。  相似文献   
185.
采用光学法检测血糖浓度是现今国际研究的热门课题,目的是实现对糖尿病患者进行快速、无创、频繁、实时的血糖监测。本文介绍了光学旋光法检测血糖浓度的原理,对基于光学旋光法进行无创血糖检测技术的研究状况进行综述,讨论了各测量法的优缺点。  相似文献   
186.
一种新的OFDM帧同步检测法   总被引:1,自引:0,他引:1  
文章在研究T.Schmidl&D.Cox算法和H.Minn算法的基础上.提出一种OFDM系统的帧同步检测方法.利用特殊训练符号的互相关信息来完成帧同步检测,提高了帧同步的精度。计算机仿真表明.文中提出的算法具有更强的适应性和抗多径能力。  相似文献   
187.
谢恒义  郭勇 《信息通信》2007,20(3):45-47
文章主要介绍了利用现代无线通信技术及视频数据处理技术、控制技术,设计家庭无线监控系统的思路和工作原理.重点介绍了核心器件,如视频数据处理器件DSP(TMS320VC5402)、系统控制器件单片机(AT89C2051)、无线发射收发模块(WE915CTX1).给出了前端(用户家庭)和后端(多媒体手机)设计原理框图,重点介绍发射系统的信息处理过程,器件的选择与关键连接,并对控制系统的软件设计给出了设计流程.  相似文献   
188.
为检测和定位航空电子系统的故障,研究了ASAAC标准和自动测试技术。参照ASAAC标准的多级结构,将自测试系统分为节点级、子系统级和系统级三级测试,每一级分别设计了上电自测试、周期自测试和维护自测试,实现了对系统各个运行阶段及不同层次的测试。该系统不仅能检测系统的硬件状态,还能检测软件的启动和运行状态,提高了航空电子系统的自检测能力。  相似文献   
189.
采用层层自组装(LBL-SA)技术制备了新型的氧化铝包裹硅胶(Al2O3/Si O2)核-壳型色谱填料。对该填料进行了光电子能谱表征、扫描电镜表征、比表面孔径表征,结果表明Al2O3被成功的组装到了Si O2表面。考察了Al2O3/Si O2填料在正相色谱条件下对碱性、中性和酸性化合物色谱分离行为并与Si O2填料进行了比较性研究。结果表明,由于氧化铝表面的Lewis酸性位点的存在,相比较于Si O2填料而言,Al2O3/Si O2在分离碱性化合物和中性化合物时具有很大的优势,但是也是由于这些Lewis酸性位点,造成酸性化合物在Al2O3/Si O2柱上具有很长的保留时间和严重拖尾的峰形,流动相中少量乙酸的加入可以有效地掩盖Al2O3表面的Lewis酸性位点,减弱其对酸性化合物的吸附。  相似文献   
190.
李霞  郭勇 《中国集成电路》2010,19(8):67-69,74
本文根据通信系统的特点及通信需求,提出一种基于FX589的位同步提取电路设计方法。本电路结构简单,功耗低,速度快,避免了由于分立元件而造成的硬件电路庞杂问题。  相似文献   
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