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本文设计了一款抗辐照设计加固的锁相环。通过增加一个由锁定探测电路、两个运放和4个MOS器件组成的电荷补偿电路,该锁相环显著地减小了单粒子瞬态引起失锁后系统的恢复时间。许多传统的加固方法主要是致力于提高电荷泵输出结点对单粒子瞬态的免疫力,本文的加固方法不仅能够降低电荷泵输出结点对单粒子瞬态的敏感性,而且也降低了其他模块对单粒子瞬态的敏感性。本文还提出了一种新的描述锁相环对单粒子顺态敏感性的系统模型,基于该模型比较了传统的和加固的锁相环对单粒子瞬态的免疫能力。通过Sentaurus TCAD 仿真平台模拟了单粒子瞬态引起的电流脉冲,用于电路仿真。基于130 nm CMOS 工艺设计了两个锁相环电路,晶体管级的仿真表明本文提出的抗单粒子加固锁相环的恢复时间比传统的锁相环提高了94.3%,同时,电荷补偿电路没有增加系统参数设计的复杂性。 相似文献
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集成电路的低功耗、高集成度已经成为发展趋势.传统的欠压锁定电路需要外部电路提供带隙基准电压和偏置电流,电路结构复杂;同时,当发生欠压锁定,关断芯片时,却要保证带隙基准电路始终正常工作,不利于芯片功耗的降低.针对传统欠压锁定电路结构的缺点,设计了一种基于三极管的欠压锁定电路,不需要外部电路提供基准电压和偏置电流,电路结构... 相似文献