透射电镜电学测试样品杆与扫描电镜联合系统的搭建

透射电子显微镜电学测试样品杆是用于透射电子显微镜中测试样品外场加载下电学性能的专用仪器。本文介绍通过对法兰及其它对接接口的系列设计,使该系统可应用于扫描电子显微镜中。该系列设计改造,能够大大拓展该电学测试系统的应用范围。以单根Si纳米线为例,在扫描电子显微镜中利用该电学测试系统实现Si纳米线弯曲变形下电输运性能的研究。     

基于FPGA的TS流的UDP封装实现

为实现数字广播接收机输出的传输（TS）流方便地接入嵌入式平台,实现综合业务接收,本文基于现场可编程门阵列（FPGA）,实现了将集成DVB-T（Digital Video Broadcasting-Terrestrial）高频头输出的TS流转化为UDP协议的IP流,进一步通过以太网接口进入嵌入式平台,支持综合业务接收。该接口转化模块借助FPGA,将缓存的TS流进行有效封装,设置以太网接口,输出UDP格式的IP流。实测表明,该接口转换模块可实现TS流到IP流的转换,支持嵌入式平台视频播放与综合业务接收。     

有关WINDOWS95造字程序应用一例

应用进行文字处理时,有时会遇到的系统没有提供的生僻汉字、不规则字或特殊符号,利用ＷＩＮＤＯＷＳ９５操作系统的辅助工具－造字程序,可以解决此类问题。     

探头修正用坐标变换

在天线近场测量中探头的波瓣图影响需要修正,修正以后才能获得被测天线的远场波瓣图。大线波瓣回常使用球坐标（θ,Φ）来表示,但是在球坐标系（θ,Φ）中进行探头效应修正十分不便,而且在某些角度上探头效应修正精度差。另外,为适合不同远场波瓣图的输出坐标系要求,也需要作坐标变换。如果需要也可以再返回到（θ,Φ）球坐标系中去。     

分立逻辑器件将便携式系统连结起来

诸如微处理器、控制器、DSP和ASIC产品等超大规模半导体集成电路是启动便携式电子产品快速成长的最主要技术;然而,在今天的几乎每一款便携式产品内部也会看到很多的分立逻辑器件,这些器件在连结便携式系统方面扮演了一个关键性的角色:将内核部分与外界联系起来的接口部分以及给产品增加的诸如升级、时钟分配和调节、电源管理支持等任选功能方面。这个角色与高集成度器件一样重要。     

遇等长 圆帮忙——以中考试题中“隐圆”问题为例

<正>每年的中考试题都对后续的教学具有引导性和指向性,作为一线数学教师,分析中考试题是很有必要的．纵观南京市近几年中考数学试题,有很多值得我们去细细研究．挖掘试题要表现的内涵,可以提升课堂教学的有效性,也能够提高学生学习的积极性和效率,促进学生逻辑思维、发散思维和高阶思维的发展．解题时,学生如果能读懂条件,揭示其本质,挖掘出隐含信息就能从根本上解决问题．本文中以南京的中考题和部分区的模拟题为例,寻找出“隐圆”,突出圆的独特性质来彰显其魅力,现将笔者的思考与大家分享．     

一种解耦式主动脚轮全向移动机器人的标定方法

由于机器人的加工制造和装配等因素引起的几何参数误差影响了运动学模型的准确性,因此会同时降低运动控制和里程计精度.为提升全向移动机器人的运动精度,提出了一种针对基于解耦式主动脚轮的全向移动机器人的分步标定方法,该方法通过限制关节空间运动输入来简化运动学矩阵,并利用最小二乘法获得运动学参数的实际值,从而提升运动学模型的精度.搭建了基于解耦式主动脚轮的全向移动机器人实验平台,并通过仿真和实验对标定算法进行验证,实验结果显示在平面内三个自由度上速度控制精度和里程计精度均得到了显著提升,证明了标定算法的有效性.     

退火对电子束热蒸发Al2O3薄膜性能影响的实验研究

 用电子束热蒸发方法镀制了Al₂O₃材料的单层膜,对它们在空气中进行了250~400 ℃的高温退火。对样品的透射率光谱曲线进行了测量,计算了样品的消光系数、折射率和截止波长。通过X射线衍射仪（XRD）测量分析了薄膜的微观结构,采用表面轮廓仪测量了样品的表面均方根粗糙度。结果发现随着退火温度的提高光学损耗下降,薄膜结构在退火温度为400 ℃时仍然为无定形态,样品的表面粗糙度随退火温度的升高而增加。引起光学损耗下降起主导作用的是吸收而不是散射,吸收损耗的下降主要是由于退火使材料吸收空气中的氧而进一步氧化,从而使薄膜材料的非化学计量比趋于正常。     

不同类型蒸发源对平面夹具薄膜均匀性的影响

 分析了几种可能的实际蒸发源与薄膜均匀性的关系,其中包括扩展的平面蒸发源和曲面蒸发源。通过实验论证了薄膜均匀性对蒸发源尺寸和蒸发特性的依赖关系。得到的分析结果表明：当蒸发源半径和夹具高度的比值小于1/17时,蒸发源可以被视为一个点面源;大于 1/10时,应当把蒸发源视为面面源进行考虑。当挖坑深度和蒸发源半径的比值介于0和0.5之间时,挖坑对薄膜均匀性造成的影响基本可以忽略;大于0.6时,挖坑效应明显影响薄膜的均匀性。     

窄带干涉滤光片抗击不同输出方式激光的损伤特性研究

利用Nd∶YAG调Q单脉冲激光和自由脉冲激光对硬膜窄带干涉滤光片进行激光损伤阈值的测试,并且采用表面热透镜技术测量了滤光片的吸收率。实验发现:窄带干涉滤光片的吸收率和激光损伤阈值强烈依赖于辐照激光波长与窄带干涉滤光片通带的相对位置;在调Q单脉冲激光作用下,不同中心波长的滤光片损伤形貌存在明显的差别,而在自由脉冲激光作用下,各滤光片的损伤形貌则趋于相同,均表现为典型的热熔烧蚀破坏。根据实验结果,结合损伤形貌,通过驻波场理论对激光作用下滤光片内电场分布的分析与模拟,探讨了两种激光模式作用下滤光片的损伤特征和损伤机理的不同特点。