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121.
混合von Mises 模型的参数估计 总被引:1,自引:0,他引:1
有限混合von Mises模型在天文学、生物学、地理和医药等许多领域都有重要的应用.可是,不论样本量有多大,此模型的似然函数都是无界的.因此,参数的最大似然估计(MLE)是不相合的.我们发现,与混合正态模型一样,上述困难可以通过引入关于分布浓度参数的一个惩罚函数或对参数空间添加适当的约束来克服.在此文中,我们从理论上证明了这两种方法是可行的,相应的参数估计是强相合的,且是渐近有效的.我们还通过计算机模拟来探讨这些新方法在有限样本情况下的统计性质,并与现有的矩估计作了比较.结果发现,惩罚极大似然估计在均方误差方面表现最佳.最后我们还分析了一组实际数据,以进一步介绍新的估计方法. 相似文献
122.
热退火γ-Al2O3/Si异质结构薄膜质量改进 总被引:1,自引:0,他引:1
采用高真空MOCVD外延技术,利用TMA(Al(CH3)3)和O2作为反应源,在Si(100)衬底上外延生长γ-Al2O3绝缘膜形成γ-Al2O3/Si异质结构材料.同时,引入外延后退火工艺以便改善γ-Al2O3薄膜的晶体质量及电学性能.测试结果表明,通过在O2常压下的退火工艺可以有效地消除γ-Al2O3外延层的残余热应力及孪晶缺陷,改善外延层的晶体质量,同时可以提高MOS电容的抗击穿能力,降低漏电电流. 相似文献
123.
现有的软件无线电侦察系统一般采用DSP作预处理,但DSP的开发和升级难度大。在分析嵌入式实时Linux(RTLinux)操作系统的基础上,介绍了采用嵌入式实时Linux系统的预处理方案,具有良好的应用前景。 相似文献
124.
125.
光纤白光干涉法与膜厚纳米测量新技术研究 总被引:6,自引:3,他引:3
运用薄膜光学干涉原理、光纤技术和干涉光谱分析技术,用光纤反射式干涉光谱仪(Reflectromic Interference Spectroscopy)直接测试宽带入射光在单晶硅表面超薄SiO2膜层前后界面反射形成的干涉光谱曲线,并用专业软件对被测光谱信号数据处理后,可直接用公式准确计算出SiO2氧化膜的厚度和光学折射率通过对单晶硅片表面超薄SiO2氧化膜的实测,并与成熟的椭圆偏振仪测试结果相比,测试误差≤2nm但该方法测试简单、快速,精度高,不需要制定仪器曲线和数表,可对薄膜任意位置的厚度在线测试经过对不同厚度聚苯乙烯薄膜的厚度测试表明,该方法适合0.5~20μm薄膜厚度的精确在线测量,测量误差小于7nm. 相似文献
126.
高精度全息干涉计量—相移技术的应用 总被引:2,自引:1,他引:1
本文介绍了一种精确的全息干涉相位测量系统。采用双曝光、双参考光束,并引入相移技术,能够同时获得全场256×256个点的相位变化值;相位测量的重复性优于2%,全场处理时间少于2分钟。 相似文献
127.
本文将相移技术应用在频闪全息干涉计量中,获得了振动物体的定量分析结果.分析了频闪光脉冲宽度对计算结果的影响,并给出了实验结果. 相似文献
128.
129.
130.
根据文(1)的思想对一类奇异摄动问题给出了高精度的任意不等距二点差分格式,在边界条件处理上对文(1)的算法作了改进,使算法不等距,在奇异点附近网格可任意加密并重点研究了离散方程组的计算方法。数值试验表明,本算法在处理奇异摄动问题时更灵活,更有效。 相似文献