一种新的射线追踪方法-三区分划处理法

从射线的矢量方程出发,假设射线折射角的变化和群路径的变化是平滑的,文章提出了三区分划处理法,把射线路径按照不同的物理规律分为平滑区、介电常数的“极小值”区和拐点区。拐点区和介电常数的“极小值”区并不重合,一般拐点区位于介电常数的“极小值”区两侧。当在拐点区和介电常数的“极小值”区射线平滑性有可能被破坏时,有必要进行针对性的处理。文中以二维的带有水平梯度的指数分层的电子浓度不均匀体等离子体频率分布为例,展示了三区分划处理法的必要性和在射线追踪中的优点。     

一种基于相位差拟合的二次相关测向处理方法

相位差拟合测向处理方法较之传统的相关干涉仪测向方法具有更高的精度,但存在计算量过大的缺点.针对这一问题,提出了一种基于相位差拟合的二次相关测向处理方法.该方法通过粗测找到来波方向范围,在该范围内进行相位差拟合,生成拟合标准库,并在此基础上进行第二次相关.经仿真验证,该方法在保证测向精度的同时,极大地提高了系统的测向速度.     

基于EGARCH过程的电磁频谱占用状态波动特性分析

针对传统频谱占用度自回归移动平均(ARMA)模型由于未考虑序列的条件二阶矩,导致无法准确描述频谱占用状态的非线性时变特性问题,该文提出一种基于指数广义自回归条件异方差(EGARCH)过程的频谱占用状态时间序列建模方法。首先通过对ARMA模型的剩余残差进行条件异方差性检验,表明频谱占用时间序列存在明显的时域波动集聚性;其次基于EGARCH过程构建频谱占用度时间序列模型以及对实测数据的分析,表明该模型相较ARMA模型对频谱占用度的拟合与预测精度更高;最后由EGARCH模型参数存在杠杆效应系数,表明频谱占用状态变化对电磁环境波动的影响具有非对称性。研究结果表明EGARCH模型能够量化反映频谱占用状态的复杂非线性时变过程。     

一种电磁干扰源成像多分辨率分区算法

在利用抛物反射面对电磁干扰源成像过程中,由于系统衍射受限导致干扰源成像模糊,分辨率低,难以分辨,由于不同频率不同区域干扰源所成图像分辨率不同,具有分区域多分辨率的特征,采用已有超分辨算法难以提高分辨率。利用Mean Shift算法,在原有算法基础上改进使其能够适应多分辨率的电磁干扰源成像,在图像分割的基础上对多分辨率图像进行分块抽离,并采用基于L_R迭代的盲反卷积算法分别对各区域进行分辨率的提高,仿真结果表明算法能够适应对干扰源的多分辨率电磁成像并提高分辨率。     

电离层斜向返回探测仪中主程序的设计与实现

使用面向对象的程序设计方法和可视化的开发工具 ,实现了电离层斜向返回探测仪的硬件控制、系统检测和数据的实时处理、显示与保存 ,并使软件具有较好的可移植性、可维护性和便于操作的特点。系统的开放性与灵活性使得在一台探测仪上实现多模式电离层探测成为可能     

地磁脉动信号的双谱分析

根据地磁脉动信号在更多情况下表现为非高斯的随机过程,提出采用高阶统计方法对地磁脉动信号进行分析处理,导出基于三经积量的双谱间接估计,并由此重构得到原随机信号的功率谱和其信号本身,结合实例说明了,双谱分析方法与传统的功率谱分析方法相比较,具有不可比拟的优越性。     

碳纳米管光学天线的有效波长和谐振特性

将经典金属自由电子气模型应用于金属型碳纳米管, 基于光学天线有效波长理论, 得出了金属型碳纳米管光学天线响应的有效波长与碳纳米管介电特性之间的普适关系. 在对碳纳米管介电特性进行第一性原理计算的基础上, 以金属型4 Å碳纳米管为例, 进一步研究了金属型碳纳米管光学天线响应的有效波长与入射波长之间的关系, 以及金属型碳纳米管光学偶极子天线的谐振特性. 通过将已有传统金属光学天线和碳纳米管天线有效波长的研究结果进行对比, 验证了本文理论的正确性. 结果表明, 碳纳米管光学天线响应的有效波长与入射波长呈近似线性关系, 与传统金属材料构成的同直径光学天线相比, 碳纳米管天线显示出了更强的波长压缩能力, 并且在可见光到红外波段内易于发生谐振. 该研究方法可为碳纳米管光学天线研究提供新的思路.     

电离层探测系统中PC与DSP通信方案的设计

介绍电离层斜向返回探测系统中PC与DSP板的通信方法，包括PC向DSP板装载程序、从DSP板读取数据、与DSP参数的传递机制。该方案保证了探测过程的连续性，提高了探测数据处理结果的有效性。     

电离层后向散射探测中m序列和FH序列的应用

在高频电离层后向散射雷达探测中,由于电波传播路径长、陆空传播环境复杂,因此要保证接收信号具有较高的信噪比一般需要大功率的射频信号,或积累足够时间的接收信号。基于间隔收发相干积累雷达体制,首先介绍了电离层后向散射探测的相位编码脉冲压缩方法以及相关检测的基本原理,然后介绍了具有良好周期自相关性的m序列和Frank-Heimiller（FH）序列在等间隔收发应用中的相关检测算法,提出了一种简单的针对m序列的检测误差修正算法。同时给出了使用m序列和FH序列进行电离层后向散射探测的信号波形及其调制解调电路模块。最后计算了这两种相关检测的增益和噪声性能及动目标对其相关检测性能的影响。