基于核光谱角余弦的高光谱图像空间邻域聚类方法

 针对高光谱图像分类精度对光谱角余弦阈值非常敏感的问题,提出了一种新的光谱相似性度量方法,即核光谱角余弦.论文给出了核光谱角余弦的定义及求解式;分析了多项式核函数参数对核光谱角余弦影响,设计了以核光谱角余弦作为相似性度量的空间邻域聚类方法.对深圳红树林高光谱图像的仿真结果表明,基于核光谱角余弦完成空间邻域聚类时,阈值取值区间大小约为现有基于光谱角余弦的阈值取值区间大小的9倍.     

基于logistic模型的企业和谐劳动关系影响因素研究

选取广东省佛山市顺德区国家级和谐劳动关系综合试验区162家企业为样本,以劳动合同、薪酬福利与社会保障、劳动安全卫生保护、员工发展与民主管理、劳动争议及调处等作为劳动关系评价的5个维度.从企业、高管及员工层面基于logistic回归模型研究和谐劳动关系的影响因素.研究结果表明:企业层面,企业的所有权登记状态以及生产方式属性对劳动关系有显著影响.高管层面,年龄、教育程度、是否本企业的业主之一、是否企业的开创者、本行业工作的年限、现企业工作的年限、担任高管职位的年限对劳动关系有显著影响.员工层面,年龄、文化程度、婚姻状况对劳动关系有显著影响.据此,提出了改善劳动关系的具体建议,这对正确认识和处理新时代劳动关系的和谐运行具有一定现实意义.     

一致分数阶非线性微分方程的精确解

同时考虑了Kudryashov方法和Khalil一致分数阶变换,构造了求解一致分数阶非线性微分方程精确解的新方法,并将其用于求解时间-空间一致分数阶Whitham-Boroer-Kaup方程,得到了Whitham-Boroer-Kaup方程新的精确解,验证了该方法的有效性和可行性.     

一个多线性振荡奇异积分算子

本文建立多线性算子ＴＡ１，Ａ２，…Ａｋｆ（ｘ）＝ｐ．ｖ∫ＲｎｅｉＰ（ｘ，ｙ）Ω（ｘ－ｙ）｜ｘ－ｙ｜ｎ＋Ｍ－ｋｋｊ＝１Ｒｍｊ（Ａｊ；ｘ，ｙ）ｆ（ｙ）ｄｙ，ｎ２，的一个变形的ｓｈａｒｐ估计，其中Ｐ（ｘ，ｙ）是Ｒｎ×Ｒｎ上的实值多项式，Ω是零阶齐性函数且满足某种消失性条件，Ｍ＝∑ｋｊ＝１ｍｊ，Ｒｍｊ（Ａｊ；ｘ，ｙ）表示Ａｊ在ｘ点关于ｙ的ｍｊ阶Ｔａｙｌｏｒ级数余项，对所有满足｜α｜＝ｍｊ－１（ｊ＝１，２，…，ｋ）的指标α，ＤαＡｊ∈ＢＭＯ（Ｒｎ）．作为ｓｈａｒｐ估计的推论，得到了算子ＴＡ１，Ａ２…Ａｋ在Ｌｐ（１＜ｐ＜∞）上的有界性．     

基于公平与效率的城市应急车辆配置研究

在城市中,消防、医疗、警务等应急车辆的配置是城市管理的一个重要方面.对该问题进行了研究,提出了对其评价的两个标准:公平与效率.作者根据这两个标准建立数学模型,该模型可用于这类车辆的管理.     

城市区域性人口承载力动态综合测度

对马尔萨斯人口增长模型进行研究,设计人口承载力发展路径和基于增长模型的隶属函数,从概率角度构建人口承载力动态综合测度模型,同时,以城市区域为研究对象,以经济作为人口承载力主导影响因素,辅之以自然、环境、资源与科技因素,构建人口承载力综合评价指标体系,多角度、多因素分析区域人口承载力,寻找人口承载短板,为人口承载力研究提供新的研究方法和视角.实证研究结论显示,研究区域人口承载力当前处于承载力强阶段,并开始向适度阶段过渡,其内部指标和子系统发展不平衡,人口系统自身发展稳定,经济和环境人口承载力强,资源和科技承载力较弱,随着区域经济的发展,在相当长一段时间内可进入适度人口阶段.     

构造正交小波基的基本方法之一

本文不仅给出一种构造局部性好的正交小波基的方法,并且给出了构造各种优良性质的正交小波基的一般思想方法。其特点:使构造的小波母函数有具体的表达式,既有较好的光滑性,又有很好的局部性,并且其收敛速度与│t│~（-（3k 1））同阶,其中k为任意自然数。这种方法不需要每次重新构造函数,只要改变k的值,就能满足不同实际问题的需要。     

正交试验设计与优化的理论基础与应用进展

阐述了化学实验设计与优化方法中的正交试验设计方法,重点介绍了此方法的优点,特点及其对实验研究的科学指导作用,正交试验设计方法可以用少数几个代表性的实验代表全部实验,节约资源与劳动力,起到事半功倍的效果.确定在所有影响因素中哪个因素的影响最显著,为进一步提高试验设计提供理论基础.     

高压氧化对硅中杂质扩散的影响

用扩展电阻探针等方法观测了经5～6atm高压水汽氧化后,(111)-Si中P、B、Sb的扩散分布,在823～940℃的工艺低温区发现:P、Sb的扩散减缓(ORD),而B则出现增强扩散和减缓扩散的转变.与常压下硅中杂质ORD的数据比较表明,加大氧压将引起从DED到ORD的转变温度(T_R)向低温方向移动.     

TP—83椭圆仪的某些应用

本文用TP-83型椭圆仪给出了硅器件工艺的若干重要数据:如硅片清洗后不同烘干方法的自然氧化层厚度;二氧化硅及其掺磷时的浓度与工艺条件对膜层折射率的影响等.文中用测量数据证明了在200A以内薄层时,取近Brewster角为方位角可以提高测量精度.最后还介绍了用TP-83椭圆仪可以同时输入两组不同角度的(?)、△值,而得到膜层的绝对厚度.