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能够直观地"看到"半导体材料中制作的p-n结,对于半导体器件的设计和制造工艺很有意义,知道p-n结的厚度及其在样品中的位置,有利于设计器件的结构、保护膜的厚度、电极的尺寸等,也可以优化离子注入、表面处理、电路互联等工艺参数。本文用EBIC(电子束诱生电流)法观察了InSb半导体器件中的p-n结。同时观察到了器件中的肖特基结,其中肖特基结显示出明显的温度特性:温度降低,肖特基结响应区域扩大,温度降至80K,Cr-InSb肖特基结响应区域可扩展至47mm。用离子注入法在InSb材料中制成的p-n结其空间电荷区并不呈对称的空间分布,靠n区一侧的空间电荷区较薄,电荷密度较大,靠p区一侧的空间电荷区较厚,电荷密度相对较小。作为一种常用的观察分析工具,EBIC法在观察分析半导体器件结构方面有透视和显微等优点。 相似文献
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羰基镍Ni(CO)4系剧毒化合物,为研制羰基镍报警仪的需要,应用分光光度计测得了羰基镍蒸气的紫外光谱图,找到了羰基镍最大吸收峰位置在205nm处。 相似文献
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我们知道,两个互为反函数的图像一定关于直线y=x对称.有不少同学因此而认为:互为反函数的两个函数如果有交点的话,其交点一定在直线Y=x上.其实这个结论是错误的.我们先举几个例子来说明一下: 相似文献
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磨床是一种对控制精度要求较高的工件加工机器,磨床通过对砂轮和工件进给位置的控制来实现对磨削量的控制,控制系统对进给量控制精度的高低将会对磨床加工精度产生直接影响,传统的基于运动控制卡的磨床控制系统价格较为昂贵,且系统扩展性差,为了解决上述问题,论文提出了一种基于双CPU的磨床控制系统,以较低的价格实现磨床的高精度控制。 相似文献