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81.
电子元器件失效模式影响分析技术 总被引:2,自引:0,他引:2
在元器件中进行失效模式影响分析(FMEA)技术研究和应用的基础上,论述了适合元器件的失效模式、机理影响分析(FMMEA)技术,在国内首次将FMMEA技术应用到元器件的基础上,研制了FMMEA技术分析软件,为元器件的研制和使用中控制或消除相关的失效模式及机理,提高产品质量和可靠性提供了一个新的方法和思路。 相似文献
82.
该文提出一类具有水平传播和环境传播的反应扩散传染病模型,讨论模型的适定性,包括解的全局存在性和一致有界性.进一步,通过下一代算子的谱半径定义给出基本再生数R0的精确表达式,并利用单调动力系统理论和一致持续性理论研究模型的阈值动力学. 相似文献
83.
84.
在5%Nb掺杂的SrTiO3衬底上用磁控溅射法外延生长了La1/aCa7/aMnO3薄膜形成异质结,该异质结有类似于传统P-n结的整流特性.磁场下扩散电压减小,当温度低于130 K以下,扩散电压的减小非常明显.这和在此温度以下,La1/8Ca7/aMnO3出现自旋倾斜态密切相关.我们计算出异质结的结电阻和磁致电阻(MR),在不同大小的正负偏压,不同磁场下,都得到负的MR值.我们给出界面附近的La1/8Ca7/8MnO3的能带结构并分析了外加磁场对洪德耦合,Jahn-Teller畸变等机制的作用,来解释该异质结的磁输运行为.结果有助于了解高Ca掺杂锰氧化物异质结的性质. 相似文献
85.
通过拆分上料流程,分析并计算出各个环节运行一个周期所用的时间,找到PSG设备产能瓶颈;改进了纵向传送组件,由之前的一段传输改为两段传输;改进后的设备产能提升明显。 相似文献
86.
针对锂电材料行业匣钵缺陷检测需求,设计了一种基于机器视觉的匣钵缺陷检测系统。该系统结合了光度立体算法以及机器学习算法,使用光度立体算法检测匣钵的腐蚀和裂纹,使用机器学习算法检测匣钵的缺口,并通过大量的模型训练来进行缺陷判别。通过实验测试,该系统具有较好的匣钵缺陷检测效果,大大提高了检测效率。 相似文献
87.
88.
用“平稳增长”总结2005年全行业发展态势再恰当不过了,因为各项指标充分验证了这一观点。公报也分析了出现“平稳增长”发展态势的原因,比如,行业发展阶段问题、国民经济水平制约问题、创新能力有待进一步提升等,这些主客观原因致使全行业在2005年步入了相对平稳的增长期。但仔细解读公报就能发现许多亮点,在未来一段时期里,这些亮点很可能成为支撑行业发展的关键点,推动全行业“继续保持持续、健康、稳定的发展”。 相似文献
89.
电子元器件长期贮存过程发生的失效是由多种失效机理共同作用的结果.以器件贮存寿命整体为基础的寿命评价难度很大。选择对器件贮存寿命影响最大的单一失效机理.以失效物理为基础.通过高加速应力试验进行寿命评价研究,获得的寿命可以较准确地反映器件真实的贮存寿命。单一失效机理贮存寿命的研究是元器件贮存可靠性工作的重要内容。 相似文献
90.