基于电压应力的加速试验设计

实现幅度可控制的电源纹波,对于不同纹波的电压应力下电子产品性能可靠性的研究具有重要的意义。以开关电源为例,通过对其纹波信号进行时频域分析,选择尖顶脉冲作为叠加在开关电源输出上的纹波比较符合实际。为了不破坏尖顶脉冲电路的结构,运用交直流叠加和阻抗变换,对不同纹波的电压应力进行了硬件设计,电路由尖顶脉冲生成、交直流叠加、阻抗匹配三部分组成,解决了电应力加速试验中的应力实现问题。根据试验样本的特点,以样本信号的失真度来构建评价指标,以确定试验的加速应力范围。     

雷达设备无线监测与诊断系统设计

为了解决雷达设备监测中的连线问题,从雷达设备与无线通信系统的电磁兼容性出发,通过对几种无线通信方式的比较,提出一种无线监测与诊断系统解决方案。给出系统实现中的无线前端和无线终端部分硬件设计方案,并给出系统应用层软件设计功能模块。在不损失有效监测信息的前提下,用数据稀化的方法对大量监测诊断数据进行有效管理。该方案经实验达到系统设计要求,对相关系统设计有一定的指导意义。     

用于胚胎电子阵列的实验系统

胚胎电子阵列是新兴的研究方向,基于胚胎电子阵列实现的电路具有与生物类似的自修复、自组织等能力。当前研究多限于软件仿真,缺少相应的实验系统。设计了实验系统体系框架和电子细胞模拟模块结构并进行了实现,多块细胞模拟模块组成胚胎电子阵列,与外围的信号发生器、逻辑分析仪等仪器连接,构成胚胎电子阵列的实验系统。基于该实验系统进行了某胚胎电子阵列上目标电路的实现,实验表明,实验系统能够验证胚胎电子阵列功能,并能够监测阵列中关键信号,为研究阵列结构及自修复机制提供了硬件实验条件,具有很大的实际意义。     

具有自修复能力的数字电路实现平台

胚胎型仿生硬件自提出以来已取得很大的研究进展,但偏重理论研究,与实际应用还有一定的差距。从工程应用的角度出发,详细介绍了如何设计一个基于电子细胞阵列的平台来实现具有自修复能力的数字电路。首先,对作为实现平台的细胞阵列结构进行简要的介绍,然后对阵列中电子细胞内的关键模块进行详细分析和具体设计,并以一个简单的数字电路为例说明了以上设计的合理性、可行性及通用性。     

一种LUT型胚胎电子阵列的功能分化方法

针对LUT型胚胎电子阵列功能分化方法的不足,提出了一种新型的LUT型胚胎电子阵列功能分化方法,根据目标电路的功能描述,通过前端综合、逻辑优化、逻辑映射、打包等操作,将目标电路转换为电子细胞为基本节点的电路形式,通过物理映射、基因库生成,将电路映射到阵列上,确定阵列中每个细胞的功能、连接,最终生成目标电路的基因库并确定每个细胞的表达基因,完成胚胎电子阵列的功能分化.该方法无需对计算过程中每一代电路进行功能评估,运算量小,计算速度快,为基于LUT型胚胎电子阵列的自修复电路应用提供了设计方法.最后,使用一个算例阐述了功能分化过程,并通过多个电路验证了该方法的分化速度.     

电子装备战备完好率预测算法研究

从战备完好性的预测模型出发，基于装备的产品树，给出了装备处于连续工作状态和连续非工作状态的战备完好率预测算法。     

一种新的基于真值表分解技术的电路加速演化策略

硬件演化技术在电路演化过程中具有自组织、自适应、自修复性能,具有重要的工程应用价值,硬件演化技术能够实现的核心就是演化算法。目前中等规模及大规模电路演化的时候存在演化速度慢等缺陷,直接影响电路演化的时效性。提出了一种新颖的电路加速演化策略,即基于真值表分解的电路演化策略,从不同的角度对电路演化算法进行了改进,有别于常规的改进演化算法。通过对典型电路进行仿真分析,证明了所提出的加速演化策略的有效性,并且具有重要的应用价值。     

电磁环境中电子器件的失效分析

以现在应用较广泛的电子器件-MOS器件在电磁环境中的失效建模为例,针对MOS器件受到电磁脉冲和周期脉冲的冲击后,所表现出来的失效特征,得出它符合基于随机过程的退化失效模型所描述的结论.根据结论和两种电应力的特点,分别提出基于随机过程的失效建模和动态应力-强度干涉建模.通过模型的建立和分析,初步制定出电子器件失效的试验方案.     

不同评价函数下阵列天线自修复分析

由大量阵元组成的阵列天线其性能受不断出现的失效阵元影响,可通过进化重配置阵列中剩余正常阵元激励实现性能修复。分析了阵列天线进化重配置过程,综合分析了自修复过程中评价函数类型,设计了不同评价函数分析流程,通过Chebyshev直线阵的自修复仿真实验,分析了不同评价函数对阵列天线自修复结果的影响,分析结果表明,基于性能参数的评价函数和方向图匹配与性能参数相结合评价函数具有较好性能,该分析结果为具有失效阵元的阵列天线自修复中评价函数选择提供了参考。     

基于性能退化的功能电路软故障可靠性分析

通过对电子功能电路退化量分布的分析,提出了一种基于性能退化的功能电路软故障可靠性分析方法,并以某型雷达放大电路功能电路为例进行了试验,根据静态工作点的变化所引发的软故障,进行了电路的软故障可靠性分析.