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11.
基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计
刘红亮
肖振宇
黄龙杰
《电子设计应用》
2007,(4):100-102
本文设计了一种由SPCE061控制核与DDS扫频信号源组成的测量系统,可自动测量集成运放输入失调电压VIO、输入失调电流IIO、交流差模开环电压增益AVD、交流共模抑制比KCMR和单位增益带宽BWG。测量精度由符合GB3442-82标准的标定电路校正。控制软件采用二分优化算法,提升了系统响应灵敏度,DDS的高分辨率则有效地改善了BWG测量精度。
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