正交频分复用技术(1)

正交频分复用(OFDM)是多载波传输技术之一,近年来受到广泛关注。目前,这项技术已在许多高速信息传输领域得到应用,并且有可能成为下一代蜂窝移动通信系统的物理层传输技术。本讲座将分3讲来介绍OFDM技术的基本原理及其应用。第1讲首先介绍OFDM的基本原理,第2讲介绍OFDM中的相关信号处理技术,第3讲介绍OFDM中的多址方式及其在通信系统中的应用情况。     

正交频分复用技术(3)

前两讲已经对正交频分复用[OFDM]的基本原理和OFDM的相关信号处理技术进行了介绍。本讲我们将介绍OFDM中的多址接入方式．包括时分多址、码分多址和频分多址．并简要探讨各种多址方式的特点;然后以数字音频广播、非对称数字用户线以及IEEE802．110无线局域网系统为例．介绍OFDM技术在实际通信系统中的应用。     

双极晶体管的1/f噪声参数fL和γ的测量提取——噪声电流谱测量法

晶体管低频噪声主要是1/f噪声,其参数f_L和γ的测出,不仅对低频低噪声设计,而且对于研究半导体噪声机理以及应用它来分析半导体内部缺陷或表面清洁处理情况都有着重要意义。本文给出了双极晶体管的1/f噪声参数的测量方法、系统及实例,获得了已有噪声测量系统所不能给出的参数。     

噪声电路理论的实验研究

文献建立了较完善的噪声理论,其显著的优点是使电路或器件的嗓声性能分析及低噪声设计的精度和效率大为提高.本文给出了针对该噪声理论的实验研究,从实测角度证明了该理论的正确性及其相应优点.文中给出的噪声谱测量系统相对已有其它噪声测量仪器具有能对整个低频噪声谱测量,精确度优于4％及自动测量等优点.文中还提出了器件噪声参数测量及优化提取方法.最后,给出了理论与实测结果的对比实例.     

并联,反馈环节的噪声系数计算及其噪声设计准则

本文研究了噪声在电路中的传输特性,对构成任意复杂电路基本环节的噪声系数计算公式进行了推导,从而,解决了任意复杂电路的噪声系数计算问题。文末,还讨论了各种结构,特别是反馈的低噪声设计,得出了一些有实际意义的设计原则。     

对《判断遥控器好坏一法》一文的补充

笔者曾采用94年《家庭电子》杂志第七期周新年同志介绍的低阻耳塞判断法检修彩电遥控器若干,甚感方便。但是有几次,当有按键按下时,耳塞里亦发出“哒哒”声,据上法笔者起初认为遥控器没有故障,浪费了许多时间。后来才发现是遥控器晶体振荡额率发生变化(多数频率变低)所致。实际上,当有按键按下时,无任何声响乃遥控器停振,有“哒哒”声但节奏     

基于ASL1000的Bandgap Trim设计及其算法研究

在芯片生产过程中,由于工艺的影响,带隙基准电压V_(BG)会存在偏差。在芯片测试阶段,需要对V_(BG)进行trim修调,使其满足芯片参数要求。简要分析了带隙基准电压误差的来源,提出了一种E-Fuse修调电路,通过程序中的代码控制修调电阻的大小,使V_(BG)满足要求。同时,在该修调电路的基础上,采用了一种新型算法,使得测试芯片V_(BG)的时间缩短了近558 ms,减少了测试时间,降低了测试成本。     

智能反射表面辅助的无线通信系统的物理层安全综述

为了满足未来无线通信系统高谱效、高能效的要求,智能反射表面(IRS)技术得到了广泛的关注与研究。通过对IRS进行设计优化,能够从不同的角度增强无线通信系统的物理层安全(PLS)。基于此,对现有的IRS增强物理层安全的研究进行整理,从信息理论安全、隐蔽通信、密钥生成等主要方向对现有研究进行了归纳总结,阐述了各研究热点的模型特点和关键方法。最后,对IRS增强的物理层安全进行了总结梳理,并探讨了未来的研究热点方向。     

XRF和LA-ICPMS测定硫化物熔片中的主次量元素

采用高纯HNO₃为氧化剂代替传统的氧化剂,以GeO₂为玻璃化试剂,建立了一种简单、高效的硫化物熔融玻璃片的前处理方法。XRF和LA-ICPMS分析结果表明,相对于粉末压片法,熔片法制备的样品具有更好的均一性和可靠性。3种硫化物国家一级标准物质的XRF和LA-ICPMS主次量元素(Si,Al,Fe,Mg,K,Ca,Na,Mn,Cu,Zn)分析测试结果均与推荐值相吻合(Ti缺少推荐值),测定误差都在允许范围内,XRF三次熔片测试结果的精密度RSD<5.6%;LA-ICPMS 15次测试结果精密度RSD<3%。表明建立的硫化物熔融玻璃片的前处理方法可较好的应用于XRF和LA-ICPMS分析硫化物中的主次量元素。