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11.
在碘蒸气中研究了染料激光稳定性对简并四波混频(DFWM)信噪比的影响。实验中采用多模Nd∶YAG激光器倍频的输出泵浦染料激光器(染料PM580溶于酒精)。在具有前向补偿分光系统和图像探测系统的帮助下,在常温常压条件下测得泵浦光在波长为554.013 nm时达到饱和光强为290 μJ。同时发现染料激光器的光稳定性(输出波长范围,光束质量和能量转换效率等)随使用时间,泵浦激光脉冲次数和能量的增加而逐渐减弱。另外通过对比发现在染料激光器输出不稳定时,光源单色性和指向性等指标的变化导致在同一泵浦强度不同时刻获得的DFWM信号强度相差很大,且DFWM信号信噪比低。染料激光器光源稳定性对DFWM信号影响的研究结果对物质的痕迹量探测以及无荧光物质光谱定标等方面的应用具有重要意义。  相似文献   
12.
报道了一种低相位噪声VCOMMIC芯片,采用传统的源端反馈形成负阻来消除谐振回路中的寄生电阻,通过合理的输出匹配实现起振条件并抑制谐波,利用南京电子器件研究所0.15μmGaAsMHEMT工艺,研制的Ka波段GaAsMHEMT压控振荡器,典型振荡频率为39.34GHz,频率变化范围38.6~41.3GHz之间,调谐带宽2.7GHz,典型输出功率6.97dBm,频偏100kHz,相位噪声为-81.1dBc/Hz。  相似文献   
13.
介绍了光纤光栅传感器中测量布拉格波长移动量的几种方法的研究现状和存在问题,并指出其未来发展前景。  相似文献   
14.
扩压室对喷射器内混合流体的降速增压有着重要影响.本文基于真实流体物性,采用气体动力学方法建立改进的一维混合模型并提出扩压室结构设计优化方法.将模型计算结果与文献实验值对比验证了模型的准确性.分析了扩压室结构参数与喷射器膨胀比、喷嘴喉部直径和混合室直径之间的关系.结果表明,扩压室半锥角α随膨胀比Pg/Pe、扩压室出口直径...  相似文献   
15.
模拟移动床色谱分离制备手性农药甲霜灵的研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用自行组建的模拟移动床色谱(SMBC),在正相条件下,在自制的涂敷型纤维素-三(3,5-二甲基苯基氨基甲酸酯)手性固定相上成功制备出甲霜灵对映体,所制备的对映体纯度达到99%以上,与高效液相色谱法制备相比较,模拟移动床技术制备甲霜灵对映体的效率以及流动相的利用率均明显高于高效液相色谱法.  相似文献   
16.
TiO2的联吡啶-钌化合物敏化及电子转移过程   总被引:3,自引:0,他引:3  
用飞秒时间分辨的泵浦一探测方法对两种联吡啶-钌化合物[3,3'-(LL)]_2Ru(NCS)_2和[4,4'-(LL)]_2Ru(NCS)_2敏化体系的光吸收、电子注入(injection)及电子-空穴复合(recombination)动力学过程作了研究.提出了一个简单有效的计算模型,通过计算拟合得出两种敏化体系的电子注入均在50fs内完成。最后还对光电流谱作了研究,对影响光电转换效率(incidentphoton-to-currentef-ficiency(IPCE))的各种因素作了讨论.结果对太阳光的电能转换和太阳能电池的制作有一定的意义。  相似文献   
17.
微电子机械系统(MEMS)关键的体加工工艺——各向异性腐蚀的样品表面会出现一定程度的不平面貌,针对这一现象提出了“应力模型”,用来解释腐蚀后表面粗糙度出现的物理机制,对表面激活能、腐蚀液激活能等物理概念进行了分析,提出了腐蚀表面粗糙度的计算公式,解释了各向异性腐蚀与表面形貌相关的实验现象。  相似文献   
18.
针对太赫兹波段固态大功率应用需求,基于氮化镓功率放大器单片集成电路(Monolithic Microwave Integrated Circuit,MMIC),采用功率合成技术实现了太赫兹波段瓦级功率输出。通过太赫兹波段微带/波导转换结构和键合金丝补偿技术,结合E面T型结二路合成功率分配/合成器,将两片MMIC封装成最大输出功率为160 mW的功率单元模块。在此基础上,采用八路E面合成器设计了频率覆盖180~238 GHz的十六路功率合成放大器。在漏极电压为+10 V时,带内输出功率大于300 mW,189 GHz输出功率达到了1.03 W。  相似文献   
19.
利用β-环糊精包裹方酸类化合物(SQ),很好地改善了SQ在纯水体系中的溶解度.包合物中SQ的两个苯环分别嵌入到两个不同的β-环糊精的空腔内,而中间的四元环裸露在外边.方酸类化合物在近红外区强而窄的吸收以及它们对氰化物特有的敏感性使它们成为理想的氰根离子的传感器.β-环糊精的包裹作用使不溶入水的SQ能够直接在纯水体系中选择性识别氰根离子而不需要任何化学修饰.  相似文献   
20.
负载牵引(Load pull)测试系统是一个复杂的微波测试系统,在不同的频段有不同的实现方案以及测试误差。本文从Load pull系统及待测器件的固有特性出发,分析了系统高频测试误差产生的原因,并且提出了一种提高系统高频测试精度的新型测试方案。  相似文献   
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