电弧炉制备的Sm2Fe17-χCrχ化合物的结构与磁性

通过X射线衍射、磁测量等手段对电弧炉制备的不同热处理条件的Sm2Fe17-χCrχ(χ=1-3)化合物的结构和磁性进行了研究.结果表明1050℃下退火5 d的Sm2Fe17-χCrχ(χ=1-3)化合物具有菱方相的Th2Zn17型结构,同样温度下退火7 d的Sm2Fe17-χCrχ(χ=2.5,3.0)化合物具有单斜晶系的Nd3(Fe,Ti)2型结构.分析表明与重稀土元素的E2Fe17-χCrχ化合物不同,较长的退火时间以及高含量的Cr可以使得Sm-Fe-Cr化合物的3:29相更加稳定.对晶胞体积及晶胞参数的分析结果表明在Sm2Fe17-χCrχ化合物中存在着较强的各向异性的磁体积效应.磁测量研究结果表明在Th2Ni17型结构及Th2Zn17型结构中,Cr对哑铃晶位上的Fe原子的替代无论是对居里温度还是对磁晶各向异性的影响都是不同的,在Th2Ni17型结构中的影响比较大,在Th2Ni17型结构中的影响比较小.     

介观结构对纳米晶软磁合金巨磁阻抗效应影响的理论分析

根据用原子力显微镜对Fe基纳米晶Fe_73.5Cu₁Nb₃Si_13.5B₉合金薄带的介观结构和巨磁阻抗效应的实验研究结果，提出了纳米晶软磁合金巨磁阻抗效应受其介观结构影响的理论模型.该模型成功地解释了低频对纳米晶软磁合金巨磁阻抗效应的影响，反映了现有“三明治”理论的主要特征，并弥补了它的不足；同时指出了纳米晶粒电导率σ、磁导率μ对合金巨磁阻抗效应有影响. 关键词： 铁基纳米晶合金 介观结构 巨磁阻抗效应 介观模型     

对数正态分布下可靠性验收方案

本文论述了产品寿命为对数正态分布时,在给定变异系数前提下的平均寿命、可靠寿命和某时刻失效率的定时截尾验证试验方案,并给出了试验有关的常用数值表和实例计算。     

乙烯在FeO(100)面吸附的理论研究

运用密度泛函理论中的广义梯度近似的PW91方法结合周期性平板模型,探讨了乙烯分子在FeO(100)面上不同吸附位的平行吸附行为.结果表明,乙烯在hollow位上吸附最稳定,与底物的两个Fc原子形成双σ键,吸附能为86.8 kJ/mol.吸附前后的态密度、电荷布居、轨道成分和振动频率的分析结果表明,在吸附过程中,乙烯的π电子向底物转移,同时Fe将3d轨道的电子反馈给乙烯的反键π轨道,乙烯C的杂化方式由印sp2部分转化为sp3.     

回流焊对SnAgCu焊点IMC及剪切强度的影响

研究了回流焊次数对Sn-0.3Ag-0.7Cu-xNi/Cu(x=0,0.05)焊点的界面反应及其剪切强度的影响。结果表明:随着回流焊次数的增加,界面金属间化合物(IMC)Cu6Sn5和(Cu1-xNix)6Sn5的厚度均增加。在钎料中添加w(Ni)为0.05%,可有效抑制IMC的生长,与回流焊次数无关。回流焊次数对Sn-0.3Ag-0.7Cu/Cu和Sn-0.3Ag-0.7Cu-0.05Ni/Cu的剪切强度影响都不大,五次回流焊后剪切强度略有下降,剪切强度分别为21MPa和25MPa。发现断裂面部分在钎料中,部分在钎料和IMC之间。     

基于TL494和IR2110的断路器操作电源的设计

动作电压试验、机械特性测试是最能反映高压断路器机械性能的测试.为了做好该项测试,可调电压的断路器操作控制电源是关键.文章设计了一种基于TL494和IR2110的断路器操作电源,介绍了TL494和IR2110的基本性能、使用方法.最后给出了控制电路的设计电路图,并对电路进行了分析.     

三元合金缺陷层对有限超晶格中局域界面光学声子模的影响

在宏观介电连续近似下，采用转移距阵方法，研究了三元合金缺陷层对有限超晶格中局域界面光学声子模的影响.在这种有限超晶格结构中，可以清楚地看到所有界面模的演化轨迹.结果表明：存在两类局域模，它们的宏观静电势波函数分别局域在缺陷层和表面层附近，且这些模随着超晶格组分层和缺陷层的相对厚度和介电常数的改变，其局域位置和特性发生显著变化.此外，发现虽然能隙中局域模的数目不守恒，但所有界面模的总数守恒.     

对数正态分布定时截尾样本下的寿命试验与加速寿命试验的统计分析

对数正态分布定时截尾样本下的寿命试验与加速寿命试验的统计分析王玲玲，陈元（华东师范大学数理统计系，上海２０００６２）ＳＴＡＴＩＳＴＩＣＡＬＡＮＡＬＹＳＩＳＯＦＬＩＦＥＴＥＳＴＡＮＤＡＣＣＥＬＥＲＡＴＥＤＬＩＦＥＴＥＳＴＵＮＤＥＲＴＹＰＥ１ＣＥＮＳＯＲ...     

电动机平均寿命的零失效验收方案

某工程所用的电动机的可靠性要求很高,按技术规范,要求其平均寿命为40年,对这样高的可靠性指标,如何对电动机进行考核呢? 电动机采用F级绝缘结构,并配装国外进口轴承,由于轴承是作为易耗零件,可定期检查调换,所以考核电动机的寿命,主要是考核F级绝缘结构的寿命。IEC34-18-1出版物及IEEE-STd-117等出版物都认为,最好用整机作试样进行绝缘结构的可靠性,功能性评定试验,这样试验条件可尽量接近工况,但整机试验较复杂、技术难度大、试验费用昂贵,需要寻找省时、省人力、省费用的,而结论又可靠的鉴定试验方案。