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爱立信为中国移动TD-LTE C-RAN现网部署前传解决方案:近日,中国移动联合爱立信首次采用基于密集波分复用技术的移动前传方案暨PAU 6000产品,成功部署了C-RAN架构的TD-LTE网络。在该部署中,远端无线站点只有室外天线和RRU(射频拉远单元),不需要空调和机柜。从施工角度来说, PAU6000即插即用,十分简单,还能抵抗室外各种恶劣环境的考验,体积比RRU还小,且功耗超低。通过将BBU和MU集中化部署,并充分利用现有光纤网络与PAU 6000产品,实现了到简化无线基站远端站点的通用公共无线电接口(CPRI)通信,因而大大降低了中国移动的总拥有成本。采用高速度、低时延CPRI前传的C-RAN架构能够实现无线多点紧密协同,带来更高的LTE网络利用效率和用户体验。 相似文献
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机房动力环境对油田通信系统的安全稳定运行至关重要,机房的温湿度、电源设备的运行状况、机房门开启状态等都是事关通信设备能否正常工作的要素。因此,油田通信动力环境监控系统的重要性日益突出。文章介绍了油田通信动力环境监控系统的监控内容、系统组网结构、数据传输方式等。 相似文献
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ILLLI对银屑病患者外周血CD4+T细胞Fas蛋白表达的影响 总被引:2,自引:0,他引:2
目的:探索ILLLI治疗对银屑病患者外周血CD4+T细胞Fas蛋白表达的影响。方法:取患者及正常对照组静脉血10ml,肝素抗凝,等份分别加入4支试管中,1支为未照射组,3支照射组分为30、60和120分钟,以输出功率5mW的氦氖激光照射,并进行荧光染色和流式细胞分析。结果:照射前银屑病组表达Fas蛋白的CD4+T细胞百分比为21.4±3.1%,较正常对照组的16.8±2.1%显著增加,差异有显著性,p<0.05。正常对照组在激光照射30分钟、60分钟和120分钟,表达Fas蛋白的CD4+T细胞百分比分别为18.0±5.3%、16.4±5.2%和19.8±6.7%,与照射前差异无显著性,p>0.05;而患者组在激光照射30分钟、60分钟和120分钟时,表达Fas蛋白的CD4+T细胞百分比分别为24.3±2.8%、28.3±5.3%和30.5±7.9%,可以看出,随着照射时间的延长,表达Fas蛋白的CD4+T细胞的数量不断增加,60分钟和120分钟,表达Fas蛋白的CD4+T细胞百分比较照射前增加显著,有统计学差异,p<0.05。结论:银屑病的发病机制可能与细胞凋亡失控等多种因素有关。激光治疗银屑病的机制可能与它下调IL—8水平、上调TNF—(表达、纠正患者的凋亡失控状态有关。 相似文献
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牛中允 《通信技术政策研究》2004,(5):28-37
阐述了信息高速公路及信息社会与国家信息基础设施(NII)的概念,分析了产业发展的基础与通信网在信息产业中的作用,对我国的通信发展政策提出了几点建议。 相似文献
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Inner Surface Modification of a Tube by Magnetic Glow-Arc Plasma Source Ion Implantation 总被引:3,自引:0,他引:3
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A new method named the magnetic glow-arc plasma source ion implantation (MGA-PSⅡ) is proposed for inner surface modification of tubes. In MGA-PSⅡ, under the control of an axial magnetic field, which is generated by an electric coil around the tube sample, glow arc plasma moves spirally into the tube from its two ends. A negative voltage applied on the tube realized its inner surface implantation. Titanium nitride (TIN) films are prepared on the inner surface of a stainless steel tube in diameter 90mm and length 600mm. Hardness tests show that the hardness at the tube centre is up to 20 GPa. XRD, XPS and AES analyses demonstrate that good quality of TiN films can be achieved. 相似文献
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研究腔靶辐射温度与靶型及激光辐照条件的关系.实验利用神光Ⅱ基频光,激光能量为3—5kJ8束,脉宽为0.6—0.9ns打Au腔靶.采用滤片x射线二极管(XRD)阵列谱仪及平响应x射线二极管(PXRD)分别测量腔靶诊断口辐射软x射线强度谱及其角分布,给出了等效辐射温度为140—180eV.同时,利用多针孔时、空分辨成像技术,观测诊断口发射软x射线时空特性,实验现象表明两种诊断口(衬Be环与无Be环)在160—170eV辐射温度条件下,辐射烧蚀产生的等离子体云均对腔内发射x射线流形成一定程度的阻挡作用,数据处理 相似文献