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UHF RFID是一款超高频射频识别标签芯片,该芯片采用无源供电方式,对于无源标签而言,工作距离是一个非常重要的指标,这个工作距离与芯片灵敏度有关,而灵敏度又要求功耗要低,因此低功耗设计成为RFID芯片研发过程中的主要突破点。在RFID芯片中的功耗主要有模拟射频前端电路,存储器,数字逻辑三部分,而在数字逻辑电路中时钟树上的功耗会占逻辑功耗不小的部分。本文着重从降低数字逻辑时钟树功耗方面阐述了一款基于ISO18000-6Type C协议的UHF RFID标签基带处理器的的优化和实现。 相似文献
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为了提高光纤周界安防系统中扰动信号端点检测的 性能,提出一种新型端点检测方法。首先通过计算信号 的短时能量和过零率分布分别找出信号中短时能量比和过零率满足一定门限的信号点,通过 对这两信号点 进行一定的加权确定扰动信号的端点位置。与离散小波提取起始点信号相比,本文方法由于 综合了短时能量 和过零率法的优势,能够适应更多的扰动事件类型,通过加权极大提高了端点检测的精度 ,并且运算时 间大幅降低,提高了系统的实时性。实验结果表明,本文算法在10M Hz的采样速度和采集0. 3s数据情况下,93.47%的数据定位误差低于10m,计算时间少于0.3s。 相似文献
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本文介绍了一种依据单张真实照片人工复原三维模型的方法,这种方法不需要解算复杂的数理方程,只需对原始图片做一些处理,然后根据明暗度置换贴图的原理,借助Zbrush软件强大的非线性建模和变形功能,在较短的时间内(1~2小时)就能快速生成较为复杂的三维模型,相似程度在7成以上,为实现快速三维物体复原以及复杂物体基本形态快速构建开辟了一条新的途径。 相似文献
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在集成电路技术发展越来越快、集成电路市场竞争越来越激烈的今天,如何降低芯片制造成本,是各个芯片设计公司关心的头等大事。而对于芯片设计工程师来说,芯片面积的优化和估算已经成为降低芯片制造成本的重要课题。影响芯片面积的因素有很多方面,有系统设计的问题,有Verilog代码编写风格的问题,有综合时约束条件设置的问题,有工艺制造厂商(Foundry)提供的工艺线宽的问题。由于篇幅有限,我们不想讨论集成电路设计的前端(Frontend)和工艺对芯片面积的影响,而只考虑后端(Backend)设计过程中的一些问题。因此,我们假定使用HHNEC0.25um的工艺… 相似文献
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本文对Adobe公司最新的动画及网页制作软件Flash CS4的动画新特性作了简要介绍和演示,总结了部分工具的使用特点和规律,为Flash新老用户熟悉Flash CS4提供了有益的参考. 相似文献
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建模是整个三维动画制作工程的起点,传统的三维建模方法主要有两种:Nurbs(曲线曲面非均匀有理B样条)建模和Polygon(多边形)建模。Nurbs适合制作外表光滑流畅的工业模型,模型复杂度较低(对于计算机而言),但对于细节很多的物体则有些力不从心,在处理接缝和面面连接处时需要相当的技巧,导致其高端模型的建模过程非常复杂; 相似文献
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本文对Maya的数学节点的使用方法作简要介绍,并以两则实例展示如伺运用数学节点进行高效的动画设置. 相似文献
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光电轴角编码器轴线与棱体轴线不平行会降低转角误差测试结果的置信度,为了减小光电轴角编码器转角测试误差,将由光电轴角编码器轴线与棱体轴线不平行引入的转角测试误差控制在光电轴角编码器转角误差的1/3~1/5以内,建立了由光电轴角编码器轴线和棱体轴线平行度引入的转角测试误差数学模型及Y向偏置数学模型。由仿真结果可知,光电轴角编码器转角测试误差和Y向偏置随转角的增大呈现周期性变化,周期分别为和2,棱体轴线倾斜方向相同时,两轴线夹角越大,转角测试误差峰值和Y向偏置峰值越大,两轴线夹角相同时,棱体轴线倾斜方向大小只会改变转角测试误差曲线和Y向偏置曲线相位,不会改变曲线形状。根据多面棱体-自准直仪法对建立的数学模型进行了实验验证。实验结果表明:测试结果与数学模型具很好的自洽性。在实际测试中,对转角误差进行预先测试,绘制偏置曲线并对曲线进行最小二乘法拟合,求取平行度与倾斜方向,根据倾斜方向调整两轴线平行度大小,直到误差峰值满足测试要求。 相似文献
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双界面智能卡芯片静电放电(ESD)可靠性的关键是模拟前端(AFE)模块的ESD可靠性设计,如果按照代工厂发布的ESD设计规则设计,AFE模块的版图面积将非常大.针对双界面智能卡芯片AFE电路结构特点和失效机理,设计了一系列ESD测试结构.通过对这些结构的流片和测试分析,研究了器件设计参数和电路设计结构对双界面智能卡芯片ESD性能的影响.定制了适用于双界面智能卡芯片AFE模块设计的ESD设计规则,实现对ESD器件和AFE内核电路敏感结构的面积优化,最终成功缩小了AFE版图面积,降低了芯片加工成本,并且芯片通过了8 000 V人体模型(HBM) ESD测试. 相似文献