J304βy计数管盐雾失效原因分析

1概述 J304βy计数管是G—M计数管（盖-革计数管）的一种,该管被广泛应用在国防、科研领域。由于计数管在使用时被密封在探头盒内,盐雾、霉菌试验对辐射探测仪没有影响。但随着国防装备对电子元器件的技术要求不断提高,因此,对J304βy计数管提出了必须进行盐雾、霉菌试验的考核要求。我们在盐雾试验时曾出现过J304βy计数管失效现象,本文试图通过对失效原因的查找、分析并进而提出的解决方法作简要介绍。     

高精度激光近炸引信阈值电路设计与应用

设计了一种适合激光近炸引信的小体积新型高精度时刻鉴别电路, 采用偏置开关补偿技术来抵消因电荷积累造成的过零点漂移,即依据激光回波幅度来决定偏置电压大小。分析了改进的恒比定时方法的时刻鉴别误差,并进行了详细测试,实验结果表明:信噪比大于20 时,输入信号为0.2～2.134V,既在20.12dB 动态范围内,由输入信号幅度变化和噪声变化引起的时刻鉴别误差小于125ps,信噪比大于60时,误差小于100ps。最后将该时刻鉴别电路应用于整机系统中进行实际检测,激光重复频率20kHz条件下,20m的作用距离范围内单次定距标准偏差为1.45cm极大提高了激光近炸引信的定距精度。     

基于专业需求的“电工电子技术”课程内容的优化

为了解决“电工电子技术”课程内容多、学时少和专业针对性差的问题。笔者将课程教学内容划分为基础内容与专业内容两部分。基础内容是各非电专业共同的学习内容,专业内容则是根据各专业人才培养计划的实际需求设置的学习内容,贯穿在理论教学和实验环节之中。实践结果表明,基于专业需求的电工学教学内容对提高学生学习兴趣,改善课程教学质量、...     

化广义判断矩阵问题为普通判断矩阵问题

给出将广义判断矩阵排序向量的计算及一致性检验转化为普通判断矩阵的相应计算的具体算法 .     

弹道终端飞机目标红外图像瞄准点识别方法

依据飞机目标红外图像的特点,将飞机机头选定为跟踪瞄准点。利用弹道终端目标未充满视场前的红外序列图像、视场中心角、弹目距离等,建立了弹体坐标系下飞机轴线方向的求解模型。采用MAT、Hough变换等技术,对目标充满视场后的红外序列图像进行处理,检测出了飞机轴线,识别出了飞机机头。利用从弹道终端的两个序列图像中抓取出来的四帧红外图像进行了仿真,并给出了实验结果。     

线性调频信号DDS频率合成源的设计与实现

介绍了直接数字频率合成源的基本原理及其一种专用芯片AD9854的功能特点，提出了利用可编辑逻辑器件(CPLD)控制AD9854产生基带线性调频信号的设计方案，并具体分析了CHD和AD9854产生调频信号的工作原理。最后给出了设计方案的测试结果。经实用达到了比较满意的效果。     

稀土催化低温熔融渗硫层的摩擦学性能研究

采用稀土催化低温熔融渗硫新工艺在Crl2钢和45^#钢表面获得一定厚度的渗硫层，用X射线衍射仪分析了渗硫层结构；在环-块摩擦磨损试验机上测定了干摩擦条件下渗硫层的摩擦学性能，并利用扫描电子显微镜研究了渗硫层及其磨痕表面形貌．结果表明：渗硫层呈多孔结构，由FeS、FeS2相和基体相组成；渗硫层具有明显的减摩作用，渗硫层的摩擦系数仅为相应无渗层材料的30％左右，其减摩作用同基体硬度及渗层厚度有关．与此同时，渗硫层在一定程度上提高了材料表面的耐磨性；而在相同试验条件下，Crl2钢表面渗硫层的减摩及耐磨性能优于45^#钢表面渗硫层．     

Z型光催化材料的研究进展

与植物光合作用相似, Z型光催化材料体系是由电子传输介质、光还原剂和光氧化剂组成的双光子体系, 其应用于光催化反应具有很大的优势: 借助双光子激发过程, 在不同光催化剂上分别完成氧化反应和还原反应, 有效促进了光生电荷的分离和迁移. Z型反应体系中的光催化剂只需分别满足各自的光激发过程和对应的半反应, 为光催化材料的选择和设计提供了很大的空间. 光催化还原位点和氧化位点分别在两个光催化半导体上, 还原和氧化过程相互分离, 可以有效抑制逆反应的发生. 同时, 催化材料光还原剂中的光生空穴被来自光氧化剂中的光生电子复合, 光催化体系的稳定性随之增强. Z型光催化材料体系, 表现出了宽光谱响应, 高稳定性, 高光生载流子的分离效率, 强氧化还原能力, 具有广阔的应用前景.     

不可靠存储环境下的数据完整性检测技术研究

在今天这个信息数据爆炸式增长的时代,数据存储的需求和成本也成倍的增长.而且数据管理的成本要比初始购置成本高5-10倍,所以很多企业将数据交由第三方的外包提供商提供的远端服务器来管理.在这样一个"存储作为一种服务"的外包模式下,客户将数据管理外包给"存储服务供应商",让其代为存储和管理,这导致存储环境的不可靠性增加.数据完整性是一个存储的安全性和可靠性的一个基本方面.外包存储服务的出现,导致存储出现新的故障模式,在确保数据完整方面出现了新的挑战.本文总结了不可靠存储环境下的进行存储完整性检测的技术.