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71.
针对中物院高功率太赫兹自由电子激光(THz FEL)装置,结合FEL光腔振荡器实验的实际情况,提出了全波导近共心谐振腔设计方案。完成了THz波段波导光腔对光腔品质影响的理论分析和模拟计算,确定了波导设计尺寸为14 mm和22 mm。同时针对最初实验调试过程中无法出光饱和的问题,提出将波导更换为22 mm大尺寸波导的建议,波导更换后很快在2.56 THz获得饱和出光。另外针对实验频段无法覆盖到1~2 THz的问题,我们通过波导内壁粗糙度进行分析判断,提出采用14 mm铜材质的全波导FEL振荡器的设计方案,采用该方案后,实验成功将辐射频段拓展到0.7~4.2 THz,获得饱和输出。 相似文献
72.
自旋反极化电子注入现象是1996年由美国IBM公司的JohnSlonczewski发现并公布的。极化的原意是指磁性材料中的电子会按照同一个方向自旋。只要注入反方向的自旋电子,与原来的电子发生碰撞,就可实现反极化。但是在强磁性材料中,一个电子的自旋方向反转后,受周围电子的影响,会立刻恢复原来的方向。因此,要实现所有电子的反极化,必须使用巨大的电流。针对这一点,Slonczewski从钟摆中得到一些启示,以极小的电流使磁性材料中的自旋电子像钟摆那样持续小幅摇摆并渐渐加大幅度,最终就可实现反极化(见图A-6)。基于此,他认为以1×107A/cm2的电流密… 相似文献
73.
据韩国的主要存储器厂商介绍:“在日本,许多电子词典制造厂家都开始在其产品中采用NAND型闪存替代掩膜ROM。而在韩国,几乎所有手机制造厂家的产品都已经将代码存储从N O R型转换为NAND型。”用于数据存储的闪存,通常适用于存储静态画面和音乐、动态画面以及PC数据等,其存储器的典型结构是NAND型与AG-AND型。同以NOR型为主的用于代码存储的闪存相比,易于增大容量,每位的成本低,而且写入速度快。NAND型闪存的用途正在发生巨大变化。目前主要是面向数码相机,用作存储卡的存储,最近,在嵌入式设备中正逐渐将其用于代码存储。今后几… 相似文献
74.
漏检与信息公开不充分导致问题的发生近年来,CCD图像传感器质量问题对数码相机市场造成了很大的影响。出现问题的产品总数已达1000万台,造成的损失高达数十亿日元(100日元约合6.9元人民币),主要原因来自于Sony生产的CCD。这些问题对Sony公司、数码相机厂商及最终消费者都造成了相当大的损害。其实,如果及早在合适的时间作出正确的分析、判断与处理,可能不会引起如此轩然大波。在加速实验中蒙混过关C C D所发生的质量问题具体表现为其引线与电极的接合部位会随时间而老化,从而产生接触不良。目前为止,分析其原因主要有两个方面,一个是C… 相似文献
75.
最近,业内开始关注ReRAM(resistive RAM)的开发,它是一款利用器件阻抗值的变化来记录信息的非易失降存储器。2005年12月召开的半导体国际会议“2005 IEDM”上,韩国三星电子、Spansion公司发布了最新的研究报告。Intel等其他一些企业也在进行ReRAM的开发。 相似文献
76.
77.
78.
电子厂商常用的一些研发方法,诸如材料的反复试验、元器件的微细化以及减少杂质等都已经无法进一步提高产品的特性.厂商们计划从物质的原理开始寻求新的研发方向.他们不再像以前那样为了研发而研发,而是把要开发设计的元器件和产品看作是整个战略的基础.最近,物理学的新成果不断涌现,那些看似不可能存在的物质和现象逐渐被发现.例如,负折射率的人工特异材料"左手材料"、磁化方向由磁场改为电流控制的"自旋反极化电子注入"、利用电子云特异动态的"强相关电子类材料"等.有几家厂商十分关注上述技术,并计划将它们早日运用到实际的研究开发中. 相似文献
79.
X射线CT检测技术通过投影重建方法获取被检测物体的数字图像,解决了传统X射线透视成像中影像重叠、密度分辨率低等缺点。ICT(工业CT)是一种重要的无损检测工具,能紧密、准确地再现物体内部的三维立体结构,能定量地提供物体内部的物理、力学特性,如缺陷的位置及尺寸、密度的变化,异型结构的形状及精确尺寸,物体内部的杂质及分布等。高能工业CT具有穿透能力强、成像精度高等特点,不仅可以用来进行工件的无损检测和探伤,还是开发逆向CAD技术的基础,实现被检测工件的三维结构复制。 相似文献
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