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随着雷达技术的发展,采用多芯片组装T/R组件的有源相控阵雷达越来越引起人们的关注并获得广泛的应用。在多芯片组装的T/R组件中,芯片可靠性是组件可靠性的决定因素。文中在对T/R组件构成及可靠性影响因素分析的基础上,从芯片制造、转运和使用等方面对芯片可靠性的影响进行了分析,并给出了提高芯片使用可靠性的措施及建议。 相似文献
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本文主要针对低压功率开关管的功耗进行了理论分析,并在此基础上分别对两种典型结构槽栅MOSFET和e-JFET在不同工作频率 下的功耗分布和总功耗进行了定量的仿真计算和对比。通过研究发现,在一定工作条件下,常闭型e-JFET比目前常用的沟槽栅型MOSFET仅开关功耗就降低约24%,总功耗则降低约30%,将其运用于CPU电源电路中的开关功率管的制造,在高频领域有着极好的应用前景。 相似文献
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摘要用原位红外和脉冲实验研究了甲醇在氧化锌表面的吸附行为. FTIR结果表明, 甲醇吸附于氧化锌上易生成甲氧基, 且其生成量随着吸附温度的提高而增加. 进一步的研究结果表明, 甲氧基是由甲醇同氧化锌表面的羟基反应生成的, 将其暴露于水蒸汽中后很快消失. 脉冲实验发现, 氧化锌上脉冲甲醇时产生水, 再脉冲水则产生甲醇. 因此甲醇在氧化锌表面吸附生成甲氧基和水的反应是可逆的. 相似文献
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用自洽场理论 (HF)和密度泛函理论 (DFT)的B3LYP方法 ,在 6 31G 的水平上对化合物(HAlNH) 2 和 (HAlNH) 3 的几何结构进行优化 ,并分别与环丁二烯C4 H4 和苯分子C6H6的结构和成键方式进行比较。以B3LYP STO 3G方法讨论其分子轨道波函数 (Ψ)。结果表明 :C4 H4 和 (HAlNH) 2 均为D2h对称 ,前者为长方形结构 ,形成两个孤立的π键 ;而后者为菱形结构 ,形成一个π44键。C6H6和 (HAlNH) 3分子点群分别为D6h和D3h,并均形成一个π66键。成键原子对分子轨道的贡献不同 ,其中C原子是完全等价的 ,而Al和N原子各不相同 ,N原子比Al的贡献要大得多 相似文献
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乘积形式的n倍角正弦公式徐和郁(浙江普陀中学316100)三角函数中,有一个非常有用的三倍角公式,即或写成注意到sin2θ可表达成sin2θ=2sinθsin(θ+),而应用上式,又可把sin4θ表达成即以上几个公式引发我们得到了更一般性的结论,即定... 相似文献