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51.
由于解析法在研究相干光通信的相位补偿等问题中存在困难,采用多层相位屏分步传输的数值仿真方法研究大气湍流对星地相干光通信下行传输的影响。首先建立了卫星地面之间的大气湍流中激光传输的仿真模型,可以实现不同天顶角和不同湍流条件下的光传输仿真计算。然后用其进行地球同步轨道(GEO)卫星下行光通信的数值仿真分析,并通过与理论值的对比来检验算法的可靠性。最后结合二进制相移键控(binary phase shift keying, BPSK)相干激光通信系统的误码率(bit error rate, BER)模型,计算分析了下行激光通信信号的衰落系数和BER。 相似文献
52.
随着移动卫星通信和地面移动通信的发展,融合两种通信网络,成为移动通信网络的重要研究方向.在"天通一号"移动卫星通信网络和地面移动通信网络的话音业务融合中,需要解决移动卫星通信网络中电路域话音与地面移动通信网络中VoIP话音相互融合的问题.本文提出了一种利用网关实现卫星通信电路域话音与VoIP相互融合的方式,并以开源软件... 相似文献
53.
采用低温熔融法制备了有机染料芪3掺杂的不同浓度的铅-锡-氟磷酸盐玻璃,通过对掺杂玻璃激发光谱、发射光谱和吸收光谱的测试,研究了芪3在无机玻璃中的聚集状态和光谱性能。 结果表明,有机染料芪3以单体和二聚物的形式共存于无机玻璃中,和芪3单体分子的激发峰相比,二聚物的激发峰位于短波段,随掺杂浓度的增加,掺杂玻璃的发射峰发生红移,同时在荧光光谱中观察到浓度猝灭现象;芪3分子与无机玻璃通过亲水作用发生了键合,从而导致芪3在无机玻璃中的吸收光谱和发射光谱比在乙醇溶液中出现较大红移;与芪3在乙醇溶液中的荧光强度相比,芪3分子受无机玻璃的“笼”化作用有效的提高了其荧光强度。 相似文献
54.
少数载流子寿命是长波红外HgCdTe材料的重要性能参数。从大量实际数据统计中发现长波红外n型HgCdTe材料的液氮温度电阻和室温电阻的比值与材料载流子寿命有定关系,电阻比值在2 ̄6之间有较大的载流子寿命值,而电阻比值大于10的寿命值较小。 相似文献
55.
56.
0-3型压电复合材料以其柔软性,易加工成型和制备工艺简单等优点,具有广泛的应用前景.该文利用0-3型压电复合材料作为压电悬臂梁压电振子的压电体,利用Ansys软件对振子做有限元分析,包括静态和模态分析,得出压电振子各参数对其发电能力及谐振频率的影响:振子发电能力与外力及振子的长度成正比,与振子宽度成反比,存在最佳长度比和厚度比;振子的固有频率与长度及质量块的质量成反比,宽度对固有频率的影响较小.这些数据为压电悬臂梁的结构参数提供设计依据. 相似文献
57.
Chaos in fractional-order generalized Lorenz system and its synchronization circuit simulation 总被引:1,自引:0,他引:1 下载免费PDF全文
The chaotic behaviours of a fractional-order generalized Lorenz
system and its synchronization are studied in this paper. A new
electronic circuit unit to realize fractional-order operator is
proposed. According to the circuit unit, an electronic circuit is
designed to realize a 3.8-order generalized Lorenz chaotic system.
Furthermore, synchronization between two fractional-order systems is
achieved by utilizing a single-variable feedback method. Circuit
experiment simulation results verify the effectiveness of the
proposed scheme. 相似文献
58.
59.
60.
The energy deposition and electrothermal behavior of SiC metal-oxide-semiconductor field-effect transistor(MOSFET)under heavy ion radiation are investigated based on Monte Carlo method and TCAD numerical simulation.The Monte Carlo simulation results show that the density of heavy ion-induced energy deposition is the largest in the center of the heavy ion track.The time for energy deposition in SiC is on the order of picoseconds.The TCAD is used to simulate the single event burnout(SEB)sensitivity of SiC MOSFET at four representative incident positions and four incident depths.When heavy ions strike vertically from SiC MOSFET source electrode,the SiC MOSFET has the shortest SEB time and the lowest SEB voltage with respect to direct strike from the epitaxial layer,strike from the channel,and strike from the body diode region.High current and strong electric field simultaneously appear in the local area of SiC MOSFET,resulting in excessive power dissipation,further leading to excessive high lattice temperature.The gate-source junction area and the substrate-epitaxial layer junction area are both the regions where the SiC lattice temperature first reaches the SEB critical temperature.In the SEB simulation of SiC MOSFET at different incident depths,when the incident depth does not exceed the device's epitaxial layer,the heavy-ion-induced charge deposition is not enough to make lattice temperature reach the SEB critical temperature. 相似文献