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101.
高温超导轴承用超导材料在冷却过程中处于场冷状态,俘获磁通的存在使高温超导轴承具有自稳定性。场冷高度影响轴承的钉扎力,从而产生不同的刚度,最终导致整个轴系的转子动力学变化。本文以冷压缩机为应用背景,基于实验测量得到YBCO在不同场冷高度下的刚度值,利用有限元分析软件Ansys,得到设计轴系的模态频率和主轴振幅。结果表明,由于场冷偏心距的存在,导致高温超导轴承合力比不偏心时大,从而改善了转子的动力学特性。  相似文献   
102.
压电微动杆作为光学设备主动调焦系统的关键设备,会因压电迟滞非线性及复杂机电耦合效应严重影响其位移输出精度,进而影响光学设备的性能。为实现压电微动杆的高精度控制,建立了压电微动杆的多场耦合迟滞动力学模型。在此基础上,对压电微动杆设计鲁棒H_∞反馈控制和逆Bouc-Wen前馈控制构成鲁棒复合控制器,在保证系统鲁棒性的同时补偿压电迟滞影响,提高控制精度。最后设计压电微动杆实验系统进行跟踪实验验证,结果表明所设计的鲁棒复合控制方法能够实现压电微动杆的高精度位移控制。  相似文献   
103.
采用液相组装法通过改变组装条件制备了高结晶性、宽度为2μm、长度为10~40μm的1,4-二咔唑基苯一维微米线(BeCzMW). X射线衍射和选区电子衍射结果表明,BeCz分子沿着晶体[100]方向生长.通过扫描近场光学显微镜进一步发现,BeCzMW被紫外激光激发后产生的荧光被限域在一维结构中,并沿着一维方向进行传导.BeCzMW在420 nm处的光学损耗系数R=0. 0628 dB/μm,表明BeCzMW具有良好的光波导性能.  相似文献   
104.
中性束离子源弧放电具有气体放电等离子体的非线性特性,工作时还会受到气体压强、外磁场、阴极状态等因素的影响,采用晶闸管相控调压技术的弧电源很难实现对这种大功率电弧的稳定的闭环控制。为此,提出了一种多相多重的大电流DC/DC变换器,具有响应速度快、电流上升时间短、电流纹波小等特点,大幅提高了离子源弧放电闭环控制的稳定性。设计了滤波电感能量回馈电路,弧电源可以根据中性束系统的需要使弧电流快速减小0%~100%(可调),然后根据控制信号迅速恢复正常弧电流输出,形成一个弧电流凹坑。电源还采用超级电容储能技术,使电源体积减小了2/3,电网容量小于10 kVA。离子源放电时不会受到电网波动的影响,弧放电更加稳定。实验数据显示:该电源最大输出为220 kW/1500 A,电流纹波在1%以内,电流上升时间约100 s,最大超调量小于3%,可以满足5 MW中性束离子源及系统的要求。  相似文献   
105.
利用MATLAB对中国聚变工程实验堆(CFETR)低混杂波高压电源系统的调节模块进行仿真,分析了静态电网波动、负载变化、滤波参数等对输出电压的影响。利用补偿网络可以大大减少纹波,增加输出电压的稳定性。该系统的稳定时间在几个毫秒之内,纹波系数<1%。通过仿真决定对该高压电源系统调节模块采用比例积分微分(PID)控制与超前-滞后补偿策略。  相似文献   
106.
利用MATLAB仿真工具,搭建HL-2M中心螺线管(CS)电源系统模型,研究了CS电源变流器过流保护策略。通过仿真研究,为HL-2M CS电源系统中变流器制定了最优的过流保护策略,这为电源安全可靠的运行提供了理论依据。  相似文献   
107.
以STC单片机为控制核心,设计出一种多功能液体容器装置。系统利用压力、超声波和PH值传感器计算出容器中液体的重量、液位高度和PH值,通过液位高度计算出液体体积,再利用液体的重量和体积计算出液体比重值,最后通过液体比重值和PH值判断液体成分。根据测试结果,多功能液体容器系统液位误差小于1mm,重量误差小于0.5g。  相似文献   
108.
张旭苹  李青 《电子器件》1999,22(4):270-274
设计和研制高对比度宽视角LC屏具有非常重要的意义。准直背光源加漫射观察屏的液晶盒外光学补偿法在改善LCD视角的同时,还可提高LCD的对比度。本文对准直和漫反射膜进行设计。  相似文献   
109.
堆排序应用及分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
李青 《微电子技术》2002,30(6):54-54,58
本文阐述了应用堆排序的思想方法对基本有序的大批量的数据进行排序的另一种方法-分段堆排序。对分段堆排序法进行了时间复杂度和空间复杂度的分析及与其它排序方法的对比。  相似文献   
110.
PDP器件中MgO薄膜二次电子发射系数γ的研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
结合等离子体显示器件 ( PDP)的放电机理 ,论述了 PDP中 Mg O保护膜的二次电子发射过程 :势能型发射和动能型发射。讨论了两种二次电子发射系数 γ的测量方法和装置 ,在此基础上 ,建立了一套简单可行的适用于 PDP样品的实验装置 ,文中给出γ值的测量结果。通过γ值的测试 ,可以反馈 Mg O保护膜的性能 ,为提高PDP性能提供依据  相似文献   
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