全文获取类型
收费全文 | 212篇 |
免费 | 91篇 |
国内免费 | 50篇 |
专业分类
化学 | 84篇 |
晶体学 | 17篇 |
力学 | 5篇 |
综合类 | 2篇 |
数学 | 9篇 |
物理学 | 112篇 |
无线电 | 124篇 |
出版年
2024年 | 7篇 |
2023年 | 9篇 |
2022年 | 26篇 |
2021年 | 15篇 |
2020年 | 14篇 |
2019年 | 11篇 |
2018年 | 6篇 |
2017年 | 23篇 |
2016年 | 22篇 |
2015年 | 11篇 |
2014年 | 18篇 |
2013年 | 10篇 |
2012年 | 18篇 |
2011年 | 13篇 |
2010年 | 15篇 |
2009年 | 23篇 |
2008年 | 20篇 |
2007年 | 22篇 |
2006年 | 13篇 |
2005年 | 12篇 |
2004年 | 9篇 |
2003年 | 3篇 |
2002年 | 3篇 |
2001年 | 3篇 |
2000年 | 5篇 |
1999年 | 5篇 |
1996年 | 2篇 |
1995年 | 2篇 |
1994年 | 4篇 |
1990年 | 1篇 |
1986年 | 1篇 |
1984年 | 1篇 |
1983年 | 3篇 |
1982年 | 1篇 |
1981年 | 2篇 |
排序方式: 共有353条查询结果,搜索用时 15 毫秒
321.
利用微波等离子体化学气相沉积(MPCVD)方法,在不锈钢衬底上直接沉积碳纳米管膜.研究碳纳米管膜在放电过程中对其场发射性能的影响.通过XPS、Raman光谱等手段,分析碳纳米管膜在放电过程中sp2碳和sp3碳含量的变化,对碳纳米管膜场发射性能变化的根源进行研究.结果显示,在放电过程中,碳纳米管膜中sp2碳的含量减少,场发射性能变差.经过分析,我们认为发生这种现象的原因是:发射电子主要是从sp2碳发出的,sp2碳的减少直接影响了发射电子的减少,故其场发射性能降低. 相似文献
322.
在GALILEO/SAR系统中,FOA参数的估计精度直接决定着系统的定位精度。对GALILEO/SAR信号的特点进行了分析,在对FFT方法进行阐述的基础上,对Rife和相位差校正法2种频率估计算法进行了分析和仿真,并在此基础上提出了一种综合频率估计算法。该算法结合了上述2种算法的优点,在接收到达信号各频率区间和不同信噪比条件下,都可以满足到达信号频率检测的精度要求。 相似文献
323.
324.
325.
用FTIR-FTS3000光谱仪和漫反射附件分别采集了二氧化硅纳米颗粒、炭黑纳米颗粒和二氧化硅纳米颗粒与碳黑纳米颗粒的不同配比的混合样品的红外漫反射光谱。通过对测量结果的分析,发现二氧化硅纳米颗粒的红外漫反射光谱较之体材料有蓝移和宽化现象,此现象可以用纳米粒子的小尺寸效应和量子尺寸效应来进行初步解释。而碳黑纳米颗粒因为其强吸光性的原因,实验中没有得到理想的光谱。混合样品中,碳黑纳米颗粒有一个最大吸收临界浓度,此时二氧化硅纳米颗粒与碳黑纳米颗粒的质量比是100∶20。在这个比例以内,碳黑纳米颗粒的特征峰位的F(R)函数与浓度符合朗伯-比尔定律。当碳黑纳米颗粒在体系中的含量超过这个比值,随着碳黑在体系中比例的增加,吸光度将不再增大。 相似文献
326.
327.
光学元件表面疵病检测扫描拼接的误差分析 总被引:2,自引:0,他引:2
为实现大口径光学元件表面疵病的高效率、高精准的检测,本文提出一种能分辨微米级疵病的光学显微散射扫描成像检测系统,因为该检测系统单个子孔径的物方视场为毫米级,所以检测大口径光学元件需对X、Y方向进行子孔径扫描成像并将子孔径图拼接成同一坐标系下的全孔径图.在进行扫描时,系统的机构误差会被引入到子孔径列阵中,导致子孔径拼接处产生像素错位,甚至造成拼接断裂的情况,从而严重影响疵病等级及位置的正确评定.鉴于此,本文对影响全孔径拼接最敏感的误差因素进行了分析,并根据其特点找到合理减小误差的方法,确保子孔径的正确拼接. 相似文献
328.
329.
330.
携带有轨道角动量(OAM)的涡旋电磁(EM)波在雷达应用领域已经受到了广泛关注,利用涡旋电磁波,不仅可以观测到目标的线多普勒频移,还能够获取角多普勒频移信息。基于角多普勒效应,涡旋电磁波雷达具有检测垂直于径向运动分量的能力,可以实现对自旋目标微动特征的提取。首先,该文建立直角坐标系下角多普勒频移的参数化模型,给出了涡旋电磁波雷达、目标运动参数与角多普勒频移之间的定量关系描述。其次,当目标自旋轨迹垂直雷达视线(LOS)方向时,对获取的角多普勒频移信息进行分析,并提取了自旋目标微动特征。最后,通过仿真实验验证了所提方法的有效性和分析的准确性。 相似文献