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利用切伦科夫辐射方向性极好的特性进行电子束发散角的测量是一个比较有希望的方法,但转换靶材料对电子的库伦作用力等因素又使得电子束散角展宽,对发散角的测量产生影响。在将转换靶划分成多重薄片并以串联的形式构建了靶模型,考虑了库仑力、多重散射、轫致辐射、电离等全物理过程作用效果的情况下,利用蒙特卡罗模拟软件相关程序对电子在靶材料中的发散过程进行了仿真。基于电子束散角分布与切伦科夫辐射光子分布相对应的原理,完成了对电子束发散角测量技术的模拟,获得了转换靶材料及其厚度、电子束能散、测量系统光学带宽等对电子束发散角测量的影响规律,为测量系统的设计及数据反演处理工作提供了指导性的建议。模拟结果显示,基于切伦科夫辐射进行电子束发散角测量的方法具有可行性,具有一定的对电子束发散角分布进行测量的能力。 相似文献
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The same-sign tetralepton signature via the mixing of neutral Higgs bosons and their cascade decays to charged Higgs bosons is a unique signal in the type-Ⅱ seesaw model with the mass spectrum MA0≈MH0>MH+>MH±±.In this study,we investigate this signature at future lepton colliders,such as the ILC,CLIC,and MuC.Direct searches for doubly charged scalar H±±at the LHC have excluded MHg+t<350(870) GeV in the H±±+W±W(±)(l±±)decay mode.Therefore,we choose MA0=400,600,1000,1500 GeV as our benchmark scenarios.Constrained by direct search,H±±+W±W(±)(l±±)d=is the only viable decay mode for Mρ=400 GeV at the √s=1 TeV ILC.With an integrated luminosity L=8 ab-1,the promising region,with approximately 150 signal events,corresponds to a narrow band in the range of 10-4 GeV≤v△≤10-2GeV.Meanwhile,for Mpo=600 GeV at the √s=1.5 TeV CLIC,approximately 10 signal events can be produced with L=2.5 ab-1.For heavier triplet scalars MA0■870 GeV,although the H±± decay mode is allowed,the cascade decays are suppressed.A maximum event number~16 can be obtained at approximately v△~4×104GeV and λ14~0.26 for MA0=1000 GeV with L=5 ab-1 at the √s=3 TeV CLIC.Finally,we find that this signature is not promising for MA0= 1500 GeV at the √s=6 TeV MuC.Based on the benchmark scenarios,we also study the observability of this signature.In the H±±+W±W(±)(l±±)d mode,one can probe MρS 800(1160) GeV at future lepton colliders. 相似文献
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对业务安全的概念进行了深入分析与研究,提出了广义和狭义业务安全的概念.广义业务安全将业务安全系统分为五大层次并定义各层网络安全要素和安全要求,狭义业务安全则聚焦于业务系统应用层的安全,是研究重点,主要包括应用层通用安全漏洞和业务逻辑漏洞两方面,并对这两方面进行定义和深入分析.针对狭义业务安全,首次提出了面向业务系统全生命安全周期的安全架构,该安全架构对业务系统的设计和实现具有很好的指导意义. 相似文献