电子隧穿问题的数值算法

文中给出了计算电子隧穿问题的一种新的数值方法，该方法适用于任意形状的一维势垒。在该算法中，首先用Ｎｕｍｅｒｏｖ算法注解薛定谔方程，然后再利用所得结果计算电子透射系数，为检测算法的精度，计算了电子对矩形双势垒及三角形势垒的透射系数，并与相应的精确解做了比较，结果表明该方法具有很高的精度。     

一种基于数据融合方法的高可靠性的图像信号处理系统

介绍了基于数据融合方法的高可靠性红外图像信号处理系统,分析了检测算法、阈值因子、检测概率和虚警率之间的关系,对比讨论了提高图像检测可靠性的两种方法,设计了基于算法多模型数据融合(Arithmetic-Multi-Model-Data-Fusion-Method,AMMDFM)的新方案.依据该方案所设计的系统,原理上保证了具有实时多目标处理能力,并且检测概率和虚警率指标大大优于以往常规硬件系统.可以在离线和在线两种方式下工作,方便了系统的调试,系统性能稳定,功耗低,体积小,集成度高,适用于安装在导弹等武器平台上作末制导寻的导引头.该方法是以增加系统硬件复杂程度为代价换取对红外图像目标检测可靠性的.     

仅由PV图能求出热机效率吗?

仅由 PV图上的循环过程难以判定哪些吸放热量是向高低温热源吸放的 .哪些是与系统内部的子系统交换的 .因此仅由 η=1- Q2Q1不一定能得出热机效率的正确表达式 .     

经验性状态方程

主要介绍了P－K方程的特点及经验性状态方程的引出。     

基于自会聚多光束阵列的薄膜应力传感器

介绍了一种通过分析二元光束阵列的反射光图像,利用Stoney方程解算出薄膜应力的在线测量传感器.传感器是以二维Dammann光栅和Fresnel波带板所组成的集成二元光学分束器为核心设计的.该传感器可进行各种单晶、多晶和非晶结构材料沉积过程的现场应力测量,灵敏度优于2.5×106Pa,精度优于4.27%.它具有结构简单、测量速度快、适应性强、设备集成度高而且易于安装调试等特点.与计算机自动控制系统相结合,可以应用于半导体集成电路生产线的薄膜生长过程控制.     

圆片上缺陷光学诊断设备的几个关键技术

简述半导体产业为追求投资回报率已经使得诊断设备由简单的工具发展成为检测缺陷、分类缺陷、分析成因、调整工艺的完善的IYM解决方案。讨论了国外诊断设备当前发展趋势。介绍了半导体圆片缺陷现场光学自动诊断设备的组成,给出了圆片诊断设备的一些重要性能指标。重点介绍了缺陷诊断设备从光机扫描成像到形成圆片图(wafermap)所采用的主要方法及其关键技术的几点考虑,包括:缺陷光散射的计算、空间信号滤波器、暗场显微技术和扫描成像技术、空间信息分析及生成圆片图等。     

基于移位算子时域有限差分的色散薄层节点修正算法

提出了一种时域有限差分（FDTD）计算中色散介质薄层问题处理的新算法.对于厚度小于一个元胞尺度的电小尺寸色散介质薄层问题,采用将元胞内电位移矢量和磁感应强度加权平均的方法,求得薄层所在元胞内修正点处的等效介质参数.然后根据常见色散介质模型,包括Debye模型、Lorenz模型、Drude模型等,介电常数和磁导率可以表示为jω分式多项式的特点,结合频域到时域的转换关系（即用/t代替jω）和移位算子方法得到了修正点处的时域本构关系,进而获得时域递推计算式.数值结果表明,该方法具有通用、节省计算时间、节省内存和计算精度良好等优点.     

新类型CPU散热器的物理原理

介绍两种散热器－半导体致冷散热器及量子管道致冷散热器的物理原理。     

双量子阱系统伏安特性的数值模拟

本文通过求解薛定谔方程得到由分段线性势垒构成的量子系统的变换矩阵和透射系数的精确解,并利用这一结果计算了双量子阱系统的偏压隧道电流,讨论了双量子阱系统结构变化对其伏安特性的影响。与单量子阱系统的比较表明,双量子阱系统在某些方面,如电流峰谷比,负微分电阻区等优于单量子阱系统。     

线圈并联时通过两个线圈磁通量的关系

利用法拉第电磁感应定律,研究了线圈并联时两个线圈中磁通量的关系,得出结论:在不考虑线圈电阻的条件下,对于线圈并联,通过两个线圈的磁通量相等。