平面镜成像观察范围的确定

利用平面镜观察镜前的景物(即景物的虚像),其观察范围既与平面镜的口径有关,又与观察点在镜前的位置有关.下面以实例来说明如何确定平面镜成像的观察范围.     

不同状态下激光器电场强度分布的电光检测与初步分析

连续波电光检测技术是近几年发展起来的测量光电材料及光电材料制备的器件的电特性的一种新型测量技术。它基于线性电光效应。采用连续波激光作为测量手段。 CW EOP技术已在GaAs,LiNbO_3等光电材料及器件的电场分布检测中得到实质性应用。采用CWEOP技术对半导体激光器内场分布电光检测的初步结果在文献[4]中已有报道,本文是对激光器在不同状态下进行场分布电光检测的更进一步探讨。     

用连续波电光检测技术进行LiNbO3定向耦合波导调制器的场分布测量

本文介绍一种新颖的无损伤检测技术——连续波电光检测技术(OWEOP)对LiNbO_3定向耦合波导调制器模拟样品内场分布进行各种测量所获得的实验结果。采取了背射和端射两种测量方式,测出了波导电极条下,电极间隙区以及电极中断区电场的分布,并对实验结果进行了讨论。     

新型光电子光源器件电场分布特性测试研究

本文介绍了应用连续波电光检测法（ＣＷＥＯＰ）对ＧａＡｓ／ＧａＡｌＡｓ双异质结激光器及其列阵和发光管列阵电场分布进行扫描测量的结果，研究了这三种光源器件不同部位的电场分布和电力分布特点及列阵器件的发光均匀性。     

用于光电子器件内场分布测量的双光路电光检测系统的研究

光电子和电子器件内部电荷、电场和电位的分布是一个十分基本的问题。就器件的设计和制作而言,对它的了解具有十分重要的意义。 虽然利用数值分析方法可以预测器件内部的电场和电位分布。然而,很久以来却缺     

InP系波导和光电探测器单片集成

本文主要报道ＩｎＰ光波导和ＩｎＧａＡｓ－ＰＩＮ光电探测器的单片集成，包括材料生长、器件工艺、器件测试三个部份．器件的结构和制作方法较为简单，而代表器件性能的主要参数可与国外同类器件相接近，如光波导损耗最小为８．６ｄＢ／ｃｍ，器件正向压降为０．４～０．６Ｖ，反向击穿电压＞４０Ｖ，响应度～０．５Ａ／Ｗ，上升时间＜０．９ｎｓ．     

宽接触半导体激光器及激光器列阵丝状发光现象研究

用连续波电光检测法直接测量宽接触半导体激光器及激光器列阵的电场分布，分析器件的丝状发光现象，并初步解释了产生的原因。     

怎样求这个最小拉力

【题目】重为G的木箱放于水平地面上，它与地面的动摩擦因数为μ．要使木箱在地面上匀速移动，所需最小拉力是多大．