如何切断考试作弊信号的通路

近几年笔者参与了很多考试保障任务,在与违法人员的较量中,对违法人员使用无线电设备作弊的原理进行了认真的分析和思考,在此提出一些查处考试作弊信号的思路,供无线电管理同仁参考。目前的无线电作弊手段大致可分为两类:提供语音     

美国麻省理工学院"电路与电子电路"课程2002年春教学情况简介

介绍了美国麻省理工学院（MIT）电气工程和计算机科学系（EECS）2002年春“电路与电子电路”课程的教学内容-“电路理论”、“模拟电子电路”和“数字电子电路”的全新组合,先修课程-物理系“电磁学”/“经典电磁学理论”和数学系“常微分方程”/“线性代数”的电类专业导向和现代化的教学手段（在图书馆或校园网上随时可观看长达9小时的教学录像等）。MIT在电类基础课教学中所采用的这些独特做法和成功经验,对国内当前的课程改革、教材创新和教学管理都具有一定的参考价值。     

二次喉道扩压器对COIL的影响实验

 氧碘化学激光器分别采用二次喉道扩压器和8°扩压器时，对在不同阀门开度下的气流方向的壁面静压曲线和背压曲线，光轴壁面静压曲线，出口总压与上游压比值曲线，输出功率曲线进行了测量。对两种扩压器的数据进行了对比，结果表明：与8°扩压器相比，二次喉道扩压器能够有效隔离扩压器下游气流对光腔的干扰，显著减小捩区长度，并将转捩区控制在扩压器内。在激光器背压升高时，二次喉道扩压器的稳定性更强。     

微米-亚微米级扫描电镜图像放大倍率校准标样的研制报告

周期性线距结构或光栅是对如光学显微镜、电子显微镜或扫描探针显微镜等图像系统进行放大倍率校准和空间变形评定的最好样品。由于图像系统的放大倍率的变化不一定是线性的，不同放大倍率级别需要使用不同长度级别的标准样品进行校准，因此，我们设计了适用于从低倍到高倍的各级校验用的标准参考样品，包括以下三个类型：（1）12．5μm、25μm和百微米尺度的三种栅网图形标准样品；（2）微米-亚微米级图形标准样品；（3）100nm或更小尺度的一维或二维光栅标准样品。本文将介绍第二种类型即微米-亚微米级系列中最小线距为1μm的图像放大倍率校准标样S1000的研制情况。     

激光二极管端面抽运Nd:YAG的端面形变

研究了端面抽运Nd：YAG晶体的抽运面形变场分布，采用一种新的测量端面形变场分布的实验方法——光束扫描法。让参考光沿晶体的端面小步距扫描，比较有无抽运光时各扫描点在探测面上光点位置的移动情况，通过几何分析与数值计算，可逐段得到端面的形变场分布。通过与理论上在理想模型下所求解的结果比较，发现实验值与理论值基本一致，晶体的端面形变场最大峰值处的抽运光在端面的聚焦位置处。另外发现端面的形变场分布的对称性受抽运光对称性影响，且曲线不光滑。该方法解决了端面抽运Nd：YAG晶体的抽运面形变场分布难以测量的问题，旦易于实现和操作。     

被动调Q 激光器输出波动因素的实验研究

对Cr:YAG 被动调Q Nd:YAG 激光器进行了实验研究。着重研究了抽运功率、腔长、输出镜透过率以及晶体间距等因素对于激光输出脉冲序列的重复率、脉冲宽度以及峰值功率不稳定性的影响。实验结果表明, 抽运功率是影响输出稳定性的最大因素, 增大抽运功率加剧输出的波动, 增加腔长减小输出的波动; 同时存在一个最佳的输出镜透过率, 可以使输出脉冲序列最稳定。在此基础上, 依据被动调Q 的原理, 对实验现象产生的原因做了理论分析。分析结果对被动调Q 激光器的设计有一定的指导意义。     

基于FFT的星上多路FDMA/FSK信号解调研究

提出了一种基于FFT的星上多路FDMA/FSK信号解调算法。首先分析了该算法的基本原理,证明了其性能与FSK信号理想非相干解调性能相同,同时提出了利用FFT进行频差估计的算法;对系统进行了性能仿真,仿真结果与理论分析一致;该算法实现简单、复杂度低,适合星上处理。     

基于聚类模糊神经网络的非线性电路故障诊断

提出了一种基于聚类算法和模糊神经网络的非线性模拟电路故障诊断方法。通过一个无监督的聚类算法自组织地确定模糊规则的数目并生成一个初始的故障诊断模糊规则库，构造了一类模糊神经网络，通过训练调整网络权值，使故障诊断模糊规则库的分类更加精确，并通过仿真实验验证了该方法的有效性。     

新型的视频自适应均衡芯片设计

设计了一款新型的视频自适应均衡芯片.采用自适应算法与内置576抽头数字滤波器完成重影消除的所有功能.芯片高度集成,内嵌DSP控制器、存储器、同步检测器、D/A、A/D及用户编程.该芯片采用3.3V电源电压、0.35μm CMOS工艺生产制造;在典型工作频率下最大功耗为1.3W,80-pin的QFP封装,封装前裸芯片(包括PAD在内)的尺寸为14mm×20mm.     

SoC中混合信号的测试

随着经济社会的发展,人们对消费类电子的多媒体功能要求越来越高;这极大促进了SoC中混合信号工艺的运用,但是随之而来的是SoC在测试上遇到了前所未有的难题,因为混合信号电路的集成使他不同于纯数字电路IC的测试。SoC中混合信号的测试是SoC进一步发展的瓶颈,这对研究提出了紧迫的要求。介绍SoC中混合信号测试面临的主要问题,着重讨论了混合信号边界扫描测试,内置自测试方法(BIST)等测试手段及各自的特点。展望了SoC混合信号测试的研究方向。