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静电放电(ESD)对半导体器件,尤其是金属氧化物半导体(MOS)器件的影响日趋凸显,而相关的研究也是备受关注.综述了静电放电机理和3种常用的放电模型,遭受ESD应力后的MOS器件失效机理,MOS器件的两种失效模式;总结了ESD潜在性失效灵敏表征参量及检测方法;并提出了相应的静电防护措施. 相似文献
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印制电路板(PCB)非介入式故障诊断方法,因获取信息有限,存在故障覆盖率低、定位不准等问题。多源信息融合能综合各类信息以提高电路诊断效果。文章提出采用人工免疫网络(AIS)作为信息融合技术的融合算法,实现PCB电路非介入式故障诊断。该方法以电路支路电流信息和节点电压信息为信息源,运用人工免疫系统实现基于特征层信息融合的印制电路板非介入式故障诊断。某实装电流转电压电路故障诊断仿真实验表明:基于多源信息融合的非介入式故障诊断可提高电路故障的覆盖率和定位的准确性。 相似文献
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