算法权力及其国家能力形塑的主体透视

作为一种深度嵌入社会的智能技术,算法对社会主体的权力权重产生了显著影响。国家的算法权力是国家治理的一种行为机制,是国家权力的基础性治理运用,其秩序建构是有效治理的基础,且具有权力扩张的发展趋势;资本的算法权力具有资本寡头进行利益合谋、权力融合和政治谋划的谋利偏好;公众则在国家与资本的双重算法权力影响下出现认知性裹挟、自主性消解和权利依附性等被动特征。算法的主体性权力特征构成了国家能力主体博弈风险的生成基础,表现为国家与资本对算法的社会控制能力博弈,国家与公众的算法意识形态能力博弈两种风险样态。对博弈风险进行规制的核心在于实现算法主体权力的动态平衡,在保障秩序的基础上对国家的算法权力进行政治限度平衡,对资本的算法权力进行公平正义的制度规制,对公众的算法主体地位进行制度保障,是应对国家能力风险的可能途径。     

物理实验CAI

本文介绍了CAI软件的开发及应用，并阐述了CAI对物理理论和物理实验教学所起的作用。     

红外探测器频谱特性自动测量装置

讨论了使用频谱仪和微机系统测量红外探测器频谱特性的方法,采用频谱仪的扫频装置和大功率GaAs发光二极管作为调制光源,快速测量了红外探测器的噪声谱频N(f),响应率频谱R(f)和探测率频谱D~*(f)。复盖频率范围为3Hz～200kHz。     

不同栅压应力下1.8V pMOS热载流子退化机理研究

本文详细研究了不同栅压应力下1.8V pMOS器件的热载流子退化机理.研究结果表明,随着栅压应力增加,电子注入机制逐渐转化为空穴注入机制,使得pMOS漏极饱和电流(I_dsat)、漏极线性电流(I_dlin)及阈值电压(V_th)等性能参数退化量逐渐增加,但在V_gs=90%*V_ds时,因为没有载流子注入栅氧层,使得退化趋势出现转折.此外,研究还发现,界面态位于耗尽区时对空穴迁移率的影响小于其位于非耗尽区时的影响,致使正向I_dsat退化小于反向I_dsat退化,然而,正反向I_dlin退化却相同,这是因为I_dlin状态下器件整个沟道区均处于非耗尽状态.     

聚L-乳酸/聚(天冬氨酸-co-乳酸)共混物的制备及其相容性研究

采用氯仿/乙醇共沸溶液浇铸法制备了混合均匀的聚L-乳酸/聚(天冬氨酸-co-乳酸)共混物(PLLA/PAL)体系.研究了PLLA/PAL共混体系的热性能、结晶行为、形态结构和力学性能,评价了PLLA和PAL之间的相容性.结果表明,PAL对PLLA的结晶行为和热性能产生了较大的影响,共混物的结晶度较低,共混体系中部分PAL会进入PLLA球晶的片晶而导致PLLA球晶结构不完善,熔点降低.PAL的含量小于20%的PLLA/PAL共混物的拉伸强度和断裂延伸率均高于纯PLLA.PLLA和PAL分子链相互缠结,产生的氢键使分子链间存在较强的相互作用,具有较好的相容性.     

基于NSCT及QR分解的零水印算法

为有效对抗几何攻击,提出了一种利用图像几何校正的非抽样Contourlet变换(NSCT)及QR分解的数字图像零水印技术.该算法对图像进行NSCT变换,并在低频系数子图中提取稳定的SIFT特征点,根据特征点的变化求出几何变换参数.在对几何失真图像进行校正后,进行分块QR分解.取各块中R矩阵行向量2-范数组成序列,二值量化后变换为矩阵并与水印结合生成零水印.仿真实验结果表明,该算法能有效抵抗几何攻击,校正精度好,鲁棒性强,且能够避免水印鲁棒性与不可见性之间的矛盾.     

保证安全人才最关键

2012年11月,工信部中国电子信息产业发展研究院发布数据显示：截至2011年底,我国培养信息安全专业人才总共约为4万人左右,离我国对信息安全人才50多万的需求差距还很大;5年内,社会对信息安全的人才需求量大约为每年增加1.2万人左右.目前,无论是学校教育还是社会培训,都与社会需求极不相应,每年我国信息安全专业毕业生不足1万人,社会培训学员数量也不足2万人,信息安全人才匮乏的现象可能长期存在.     

液相色谱-串联质谱法测定人血浆中阿扑吗啡

盐酸阿扑吗啡(apomorphinehydrochloride)为吗啡的衍生物,系中枢多巴胺D2受体激动剂,其舌下片制剂是目前用于治疗男性勃起机能障碍的新药。为了研究该制剂中阿扑吗啡的药代动力学特性,我们建立了阿扑吗啡血药浓度测定的液相色谱-串联质谱法。测定了28名健康志愿者口服阿扑吗啡舌下片后阿扑吗啡的血药浓度。已有文献报道采用HPIC-UV、HPLC-荧光、HPLC-电化学和GC等方法测定血浆中阿扑吗啡浓度,在灵敏度方面均低于我们所建立的方法。     

全息技术在扬声器选择中的应用

介绍了扬声器各部分的作用及对扬声器输出特性的影响,同时介绍了应用全息技术测试扬声器的方法,为扬声器的定量分析提出了新途径。     

MEMS压力传感器工艺可靠性测试评价

随着MEMS技术的飞速发展,可靠性问题逐渐成为MEMS器件在军事和商业中应用的重要阻碍。结合器件的工作环境,分别从高温、高温高湿、温度冲击、过电压、压力过载、温湿循环等环境负载方面探讨硅压阻式MEMS压力传感器的工艺可靠性问题。试验结果表明,环境负载后,圆片级器件特性参数基本无变化,而封装级器件特性参数有不同程度的漂移。参照工厂制定的工艺标准（<10%）,封装级器件测试数据可以有效监控MEM产品的工艺质量。