低能扫描电子显微术的进展

工作电压低于５ｋＶ的扫描电镜分析技术称为低能扫描电子显微术,它是场发射扫描电镜仪器及其应用技术的发展方向之一。文中综述了这种分析技术的近年发展概况,阐明了它的物理基础和有关仪器技术的进展,并概述了它在各种应用中所推荐的工作电压及其开拓新应用领域的前景。     

两种SACP电子光学光路的比较

两种ＳＡＣＰ电子光学光路的比较廖乾初（冶金部钢铁研究总院，北京１０００８１）在扫描电镜中，为了获得选区电子通道花样，通常是采用所谓单偏转摇摆的聚焦电子束扫描光路￣［１］。根据我们实验室条件，上述的电子束扫描方式有两种光路可以选择：（１）会聚电子束的摇...     

用SEM的SACP技术分析解理断裂面的结晶学性质

用ＳＥＭ的ＳＡＣＰ技术分析解理断裂面的结晶学性质朱衍勇，廖乾初（冶金工业部钢铁研究总院，北京１０００８１）解理断裂是晶体沿一定晶面发生的开裂，它是Ｂ．Ｃ．Ｃ金属材料常见的一种脆性断裂机制。为了分析解理断裂过程的本质，往往要对断裂面中特征形貌的几何位向...     

立方晶体的理想电子通道图及其快速注释方法

采用晶面的极射赤面投影方法,从理论上绘制了一套不同立方晶体的理想电子通道图,为了迅速注释从实验所得的立方晶体的电子通道花样,用上述理想电子通道图的数据制成图表,可以大大节约注释时间。误差分析表明,本注释方法不但适用于晶带轴平行于扫描电镜的光轴情况,而且适用于晶带轴倾斜于光轴的情况。     

研究热轧过程磨损机制的扫描电镜的原位观察技术

报导本实验专门为研究热轧过程磨损机制而设计的一种扫描电镜原位观察技术。采用一种新的设计方案,把定位参考标样和被研究的试样分开制备,然后把两者按高精度公差配合要求而粘合在一起,如图(1)所示在图(1)中,B作为定位用的参考标样,在其紧邻被研究的试样A—侧开一贯穿裂纹作为定位的基准。试样A和试样B的宽度W被加工成高精度公差配合,以保证A试样可以利用B标样的裂纹尖端位置作为原始位置的基准。试样A单独在本实验室所设计的模拟热轧过程的试验机上进行试验,每阶段热轧1000周次后,从试验机上取下,再同参考标样粘合在一起,然后放进扫描电镜中进行原位观察和分析,其方法和步骤如下:1.在扫描电镜显象管荧光屏的左侧预先做好垂直位置和水平位置标记线。然后在低倍数下调节试样的位置,使试样A和参考标样B的交界线刚好对准垂直标记线,而在参考标样B上所观察到的裂纹刚好对准水平标记线。2.把放大倍数增加到350倍,从所观察到的A试样的微观细节找特征部     

全国材料科学和化学化工纺织中的电子显微学学术会议简介

第六届全国材料科学中的电于显微学会议和第八届全国化学化工纺织中的电子显微学会议于1９９５年９西省南宁市召开，出席会议的代表共７６人．会前选出了４９篇论文，出版了论文集．学术交流会采取全体大会和分组会相结合的方式进行．在全体代表大会上共宣读了论丈１５篇．其中有代表性的报告有：“固体中电于散射的分形现象．”（中国科学技术大学吴自勤）；“低能扫描电子显微术的进展”（冶金工业部钢铁研究总院廖乾初）；“动态过程的扫描电镜观察”（中国科学院北京科学仪器研制中心章一鸣）；“Ｃ60－十二烷胺加合物ＬＢ膜的微观结构…     

超轻元素(氧)的Φ(ρz)计算与拟合

超轻元素定量分析主要困难之一是准确地计算吸收效应,本文将Monte Carlo计算模型应用于氧化物Love等人的实验结果分析,并提出了一种新的函数形式:指数-抛物线函数用以拟合Φ(ρz)。     

用SEM的SACP技术分析合金材料的表面织构

本文是在平行电子束的条件下采用单偏转摇摆聚焦方法去获得高角分辨率的选区电子通道花样，选区尺寸为５μｍ。对具有面织构的试样表面上１００个晶粒用上述ＳＡＣＰ技术进行了逐点位向分析。然后，根据分析结果，对热处理后新织构的形成机制进行了讨论，表明选区电子通道花样技术是研究表面织构形成机制的一种直观而有效的方法。     

扫描电镜的分辨率问题

本文系统地探讨了扫描电镜的理论分辨率,实际显微观察的分辨率,以及对商品扫描电镜的分辨率测量和验收等问题。一、扫描电镜的理论分辨率扫描电镜的成象特点是利用入射电子与物质相互作用所产生的信息来成象,故扫描电镜的理论分辨率主要由电子束斑的直径来决定,电子束斑的直径愈小,相应扫描电镜可能达到的分辨率也愈高。但电子束斑的直径受着如下两个因素的影响:1.扫描电镜的物镜存在着象差;