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241.
An existence and uniqueness of solutions for boundary value problemsandare established, by employing a priori estimates for all solutions and the Schau-der fixed point theorem. Some of these results extend earlier results due toUsmani(1979), Yang(1988), and Pei(1997). 相似文献
242.
243.
本文测定了钢系(Ⅲ)离子(Nd,Ho,Er)-乙酰丙酮(AA)-4-甲基喹啉(MQ)三元络合物在丙酮溶液中的吸收光谱。由最小二乘法拟合出了Judd-Ofelt参数,并应用Mason 等人提出的动耦合模型进行了强度计算。根据已报导的化合物结构,给出了上述三种络合物的适当结构参数,计算值与实验值吻合的较好。 相似文献
244.
245.
246.
美国通用电气公司制成型号为13AC1542W的13英寸普及型彩色电视机。它与19英寸、25英寸高级机有很大区别,新型13英寸彩电没有可拆卸组件,取消了垂直间隔扫描的彩色基准电路,仅采用4块集成电路,就达到了高级 相似文献
247.
本文研究了SmCo5永磁体添加剂(2Fe)·(Sn)后Fe和Sn原子进入晶格对X射线衍射相对强度的影响,得出:Sn原子较易置换3g位上的Co原子,而Fe原子可以置换各个晶位上的Co原子,比较起来置换2c晶位上的Co原子更容易一些,3g位上的Co原子被Sn原子置换会增高I200/I111的比值,但使强度比改变的原因还有取向、形成Fe和Sn原子有序排列、应力状态改善和控制了~750℃相变的缘故。
关键词: 相似文献
248.
利用击穿电压和击穿电量这两个参数评价标准0.18μm CMOS工艺栅氧的可靠性,获得击穿电压和击穿电量的两个常用方法是电压扫描法和电流扫描法.对用这两种方法得到的击穿电压和击穿电量进行了对比.通过对比,发现测试方法对击穿电压的影响非常小.但是测试方法却可以在很大程度上影响击穿电量.用电流扫描法获得的击穿电量要比用电压扫描法的要大,这一差别可以从两种方法不同的电流-电压曲线中得到解释.同时,通过考察Weibull分布的斜率还发现,击穿电压值的分布斜率要比击穿电量大的多,而且曲线拟合得更好.这说明用击穿电压获得的分析结果更可靠.综合以上结果,可以认为对0.18μm CMOS工艺可靠性评价而言,击穿电压是比较合适的评价指标. 相似文献
249.
250.