JEM-1200EX电镜故障维修一例

我室电镜1986年安装使用至今已有20余年，且使用率较高。现所有原件已开始老化，机械部分已磨损，该电镜已进入老年故障多发阶段。现把近期所遇一次故障报告如下，供同型号电镜使用者参考。     

电荒下UPS行业的燃眉之急

近两年来,电力紧缺的情况时有发生,大面积的拉闸限电波及全国很多省市,而减小或避免损失的有效手段之一就是采用UPS(不间断电源设备)。“现在看来,即使是电力紧缺的良好契机,也未必能掩盖UPS行业所面临的危机,可以说这一行业的洗牌却因此大大加速了。”广东易事特电源股份有限公司董事长何思模看来,现在并不是UPS欢欣鼓舞的时候,甚至可以说是挑战大于机遇。何思模提供的理由如下,2005年U P S生产最基本的原材料涨幅高得惊人。实际上,UPS在市场中根本没有涨价的迹象,反而有进一步拉低价格的趋势。“这样的燃眉之急,对很多中小UPS而言…     

磁控溅射制备磁性多层膜中SiO2/Ta界面的研究

磁性多层膜常用磁控溅射的方法制备，并且以金属Ta做为缓冲层。本研究利用这种方法在单晶硅基片上沉积了Ta/NiFe/Ta薄膜。采用X射线光电子能谱（XPS）对该薄膜进行了深度剖析，并且对获得的Ta4f和Si2p的高分辩率XPS谱进行计算机谱图拟合分析。结果表明：磁控溅射这种高能量制膜技术导致了在SiO2/Ta界面处发生了化学反应：15SiO2 37Ta=6Ta2O5 5Ta5Si3，该反应使得界面有“互混层”存在，从而导致诱发NiFe膜（111）织构所需的Ta缓冲层实际厚度的增加。从本研究还可以看出XPS是表征磁性薄膜界面化学状态的一种有利工具。     

VLSI圆片级可靠性技术

介绍了圆片级可靠性技术产生的背景，对其特点和作用作了详细的论述。测试内容上着重介绍了金属化完整性测试、氧化层完整性测试、连接完整性测试和热载流子注入测试，根据测试数据，对1.0μm工艺线单一失效机理的可靠性进行了评价，对不同测试结构的作用进行了说明。     

薄栅氧化层斜坡电压TDDB寿命评价

随着超大规模集成电路的不断发展，薄栅氧化层的质量对器件和电路可靠性的作用越来越重要。经时绝缘击穿（TDDB）是评价薄栅氧化层质量的重要方法。文章着重于薄栅氧化层TD-DB可靠性评价的斜坡电压试验方法的研究，基于斜坡电压实验，提取模型参数，分别利用线性场模型和定量物理模型，外推出工作电压下栅氧化层的寿命。通过分析斜坡电压实验时氧化层的击穿过程，提出斜坡电压实验时利用统一模型外推栅氧化层的寿命比较合适。     

用乒乓球化解浮力教学中的两个难点

1 实验:浮力方向总是竖直向上的 在初中物理浮力的教学中,浮力的方向总是竖直向上的,教材中没有专门的实验直观显示,学生虽能理解浮力的方向是向上的.但理解浮力方向总是竖直向上的就有一定困难.     

CT6620A收录机中波串台的排除方法

美多CT6620A型调频调幅收录机在电波场强较高地区放音时,往往会产生某一电台信号不经过变频而直接进入放大电路,造成某一电台信号在中波范围的全刻度或者某几点都能收到,并与其他电台信号之间产生串台现象.这种情况是可以设法排除的.     

火焰银钎焊波导元件的一种新钎剂

为了获得优质、致密钎焊接头,配制出了一种新银焊钎剂。该钎剂具有活性作用强、工艺性能良好的特点,对提高铜制波导元件银钎焊焊缝的致密性,减少对随后波导元件镀银质量的危害,提供了重要途径。     

葡萄糖粉末的近红外光谱

糖尿病患者的自我监测是减少由糖尿病引发并发症的重要手段。无创血糖监测的近红外光谱分析方法是最具有应用前景的一种，葡萄糖近红外光谱则是研究无损血糖检测基础。本文通过实验采集了葡萄糖粉末的近红外光谱，并对结果作了详细分析。     

隧道再生大功率半导体激光器瞬态热特性研究

讨论了隧道再生大功率半导体激光器内部的热源分布，利用有限元方法模拟计算了其在脉冲工作下的二维瞬态热分布，同时测量了不同时刻波长的漂移量并换算为温升值，与计算结果进行了比较，二者基本吻合。模拟结果还表明靠近衬底的有源区温度略高于靠近热沉的有源区温度；用金刚石一铜热沉替换铜热沉，还可以很好地降低器件内部温升，使隧道再生大功率半导体激光器能够高效工作。