用电致发光屏制作文字、数字显示器

随着现代信息化社会的发展,连接人与信息的显示器件日益引人注目.显示器件包括阴极射线管(CRT)、等离子体显示屏(PDP)、液晶显示屏(LCD)、电致发光屏(EL屏)等.在这些显示器件中,CRT有以下几个缺点:(1)管身长;(2)真空器件易损坏;(3)难于克服扫描畸变;(4)电压高.然而CRT能用电子透镜系统把电子束聚焦偏转,使所需象元发光,并且方便,所以至今仍作为显示的主流而广泛使用着.     

利用单影像解析飞机姿态参数

利用单幅影像测量飞机的空间位置和姿态参数在飞行试验中有着广泛的应用。在经典摄影测量共线方程的基础上,提出了一种新的基于单幅影像求解位置和姿态参数的方法。该方法回避了机身标志点在机体坐标系与世界坐标系中的"对应"性问题,利用"架桥"——摄影坐标系,使问题转化为机身标志点的像点坐标与机体坐标的对应运算关系。试验结果表明,此算法正确有效,在一些不适合安装多台摄像机的场合有着无法比拟的优势,不但节省了人力和物力,还提高了工作效率。     

高级信息处理装置期待着神经技术

计算机无论计算速度怎样快,如果把它看成仅仅是进行计算就没有什么意思了。并非是说有人在搞假,而是希望它具备接近于人的超高级感性。神经网络等许多方法问世了。在继续向实用化摸索。其障碍是什么？何时能实现？     

基于SIFT算法的异源遥感影像自动匹配研究

由于不同传感器、多时相、多分辨率、多波段的遥感图像的光谱特征、空间特征、纹理特征等存在较大差异,为遥感图像的匹配带来了困难。主要利用图像特征点提取方法,使用具有尺度不变特性的SIFT(Scale Invariance Feature Transform)方法,对异源遥感图像进行配准和图像进行拼接操作,并进一步对SIFT算法进行优化,采用双向匹配策略。实验证明该算法具有稳定、可靠、快速等特点,适用于存在光谱特征、空间特征、纹理特征差异的异源遥感图像的精确配准,同时实验验证了双向匹配算法用于SIFT特征点匹配中的优越性,证明其为一种好的匹配测度。     

多媒体视频通信技术的新进展

应用于电信网络的视频编码先后经历了ITU-T H．261、H．262(MPEG-2)、H．263及其改进H．263 和H．263 ，应用领域覆盖ISDN、T1／E1、PSTN、移动无线网络及局域网等，正朝着网络适应性好、抗误码能力强、编码效率高的方向不断发展。     

双开门电梯控制器中CAN-MODBUS通讯研究

以CAN总线为双开门电梯控制器通讯主干网,进行了各分控制器硬件选型,搭建了电梯控制器通讯系统,选用Basic CAN工作模式,规划楼层控制器发送缓冲区数据,结合MODBUS协议以及CAN信息帧结构自定义CAN MODBUS通讯协议,能兼容CAN2.0A通讯协议,实现了基于独立CAN控制器下的CAN通讯,结合楼层控制工艺,研究分析了CAN通讯中总线时序参数与验收屏蔽参数,以此获取楼层控制器的参数值。通过研究表明,按照自定义CAN MODBUS协议封装数据,基于CAN通讯的双开门电梯控制系统实现了快速可靠的数据传输。     

基于贝叶斯网络的客户流失分析

随着电信市场竞争加剧,客户流失现象成为电信运营商关注的问题.文中基于数据挖掘手段,采用贝叶斯网络分类器,进行电信客户流失分析.在贝叶斯网络构造过程中,结合采用K2和MC-MC算法构建网络.根据贝叶斯网络的拓扑结构,筛选出客户流失相关的显著指标;由条件概率表确定客户的流失规则,进而确定高流失的客户群.考虑分类的误判损失函数,给出不同分类临界值下,贝叶斯网络模型的分类效果.与其它分类算法相比,比如决策树和人工神经网络,在客户流失率很低的情况下,该算法不需要进行＂过量抽样＂.     

12月半导体行业要闻

正4G牌照正式发放三家运营商均获TD-LTE牌照2013年12月4日,工信部宣布向中国移动通信集团公司、中国电信集团公司和中国联合网络通信集团有限公司颁发"LTE/第四代数字蜂窝移动通信业务(TD-LTE)"经营许可。中国移动获得130M H z频谱资源,分别为1880～1900MHz、2320～2370MHz、2575～2635MHz;中国联     

数据融合技术在雷达网中的应用

现代战场上各种隐身目标的出现,要求利用多种传感器组网来采集信息并加以融合,才能充分利用隐身目标各个方向以及各个频段不同的反射特性,最大限度地撮信息,满足战场对信息,目标识别和态势分析的扼要。为此需要对各种传感器传来的信息加以融合,融合前首先要区分真假,否则,将错误的信息融合进去,就会得出错误的结论。即使对融合网内同一种性质的传感器例如雷达,也会由于各个雷达所处的环境不同,地物杂波的起伏不同,雷达的     

LEC GaAs晶片的表面缺陷与晶体缺陷

通过激光散射扫描的宏观检测方法检测非掺杂LEC半绝缘GaAs晶片(100)晶向的抛光片颗粒度时,意外发现一种源自晶体的微缺陷,该微缺陷在晶体中有四个聚集团,这为认识研究此类缺陷的一些宏观性质开辟了新的道路和方法.同时作者通过定性实验断定这种微缺陷为砷沉淀腐蚀后显示的腐蚀坑,并研究了其在整个晶体中纵向逐步减少和径向具有四个聚集中心的分布规律及其产生原因.