防火墙终结者——UTM担纲边界安全

近日，Cisco宣布其畅销多年的PIX防火墙将于2008年7月28日停止销售，取而代之的是ASA系列UTM产品。PIX在其生命周期中售出了数百万台，停止销售具有划时代的意义，这意味着防火墙时代的终结，UTM时代的开始。     

组织协同进化分类算法用于雷达目标一维像识别

针对雷达目标一维像识别问题，提出了一种基于组织协同进化分类算法的识别方法．该方法与现有进化分类方法的不同之处在于它的进化操作直接作用于样本而不是规则，采用了一种自下而上的搜索机制，即先使若干样本的集合得到进化，再从进化结果中提取规则．这样有利于避免在进化过程中产生无意义的规则．该方法不需要进行特征提取；对于高维数据，不需要预先进行降维处理；没有复杂的运算，训练和识别的速度都很快．对3种飞机微波暗室实测数据的识别实验表明，该方法性能稳定，优于基于支撑矢量机与子波核函数的方法，识别率均达到了96％以上．实验中还对算法的抗噪能力进行了测试，获得了良好的效果．     

利用自适应变化电源提高功率放大器效率

功率放大器IC的ACPR和效率指标通常针对最大输出功率进行优化，而蜂窝电话在绝大多数时间工作在中等功率或低功率状态，这期间的功放效率将明显降低。利用DC／DC转换器MAX8506提供变化的电源电压，能够有效改善中等功率或低功率模式下的功放效率，延长手机通话时间。     

hiX 5300 M200介绍及宽窄带一体化解决方案

1.M200简介 BISC/Siemens在hiX 5300的H1000和H500得到广泛应用的基础上,为了满足用户密度较小或不具备机房条件地区的实际需求,推出了单系统ADSL容量仅为256线,并能与已有的EWSD融合实现宽窄带一体化的DSLAM设备M200。M200的功能与目前已经广泛应用的H1000/H500基于完全相同的系统设计,能够提供同样的ADSL、G.Lite、SHDSL以及VDSL接入业务。紧凑的空间设计、高密度的板卡使得M200既适合中心机房又适合远端地区。     

汇通计算网聚天下——曙光4000助力中山大学入驻教育科研网格计算

网格是当前IT和互联网领域的发展前沿领域。专家认为网格是1995～2010年计算机体系结构、操作系统、用户界面领域最重大的突破性创新。专家指出，已经错过全球微电子发展高潮的中国一定要加强在下一个前沿技术领域的研究，网格的机遇无论如何不能错过。     

802.11n:下一代无线局域网技术

概述 过去几年,人们对无线局域网(WLAN)硬件的需求有了显著的增长,无线局域网很快从新奇的技术发展成为生活必需品.2005年WLAN芯片组出货量突破1亿套大关,比2001年不足100万套增长了10多倍,这些数字说明WLAN市场正在快速扩张.     

基于组织协同进化分类算法的遥感图像目标识别

针对遥感图像目标识别问题,提出了一种基于组织协同进化分类算法的识别方法。它没有复杂的运算,训练和识别速度都很快。对实测遥感图像的实验表明,本文方法性能稳定,优于文献[3]和[4]中基于支撑矢量机的方法,识别率均达到了95％以上,且训练时间非常短,不到1秒钟。     

千兆以太网测试解决方案(下)

模块化的新一代光网络测试平台解决方案——STTSTT(ScalableTestToolkit)是一款用于新一代光网络环境测试的、创新的模块化测试平台。它所提供的以太网测试模块为现在和今后的以太网络系统的安装以及管理提供了功能强大而多样化的测试解决方案。测试设备配有两个GBIC接口,用于1000Base-T/X测试,其中1000Base-T为RJ-45;1000Base-X可由用户选择波长850nm、1310nm或1550nm。此外用户还可根据需要自由定制最高8个10/100Base-T端口,每个端口为半或全双工。使用STT测试设备,你同样可以保证以太网络的安装、运维以及性能的监测,完成以上…     

Sobolev空间H~s(R~n)上矩阵伸缩的多尺度分析特征刻画

本文对高维Sobolev空间Hs(Rn)上具有矩阵伸缩的多尺度分析特征进行了 刻划,特别给出了稠密性特征的一个充分必要条件,从而解决了文献[4]中提出的一个 问题.所得结果覆盖了这方面的已知结论.     

锰酸钙晶体中缺陷的高分辨电子显微镜研究

本文以高分辨电子显微镜为手段对锰酸钙晶体缺氧空位排列形式和大颗粒样品解体过程进行了初步的研究。观察到了非化学剂量化合物锰酸钙晶体结构,通过观察还发现了锰酸钙晶体中缺氧墙和反相畴界伴生存在的现象。进一步理论分析发现无论是晶体中缺氧空位,非化学剂量化合物中缺氧空位串,还是晶体间缺氧墙,这些结构和完整锰酸钙曹体结构相比较都是缺氧的。这样我们对锰酸钙晶体缺氧过程描述为:完整晶体失氧,首先以点缺陷形式存在,随着失氧量的增大在晶体中开始出现缺氧线缺陷和缺氧面缺陷,当晶体继续失氧时,缺氧墙位置通过移动产生反相畴界,从而导致了晶体的部分解体。