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11.
12.
H-D曲线表明了照射量与底片光学密度之间的关系,是定量提取客体信息的基础。尽管实验上提出了许多测量“屏-片”的H—D曲线的方法,但这些方法所采用的实验布局与实际照相环境存在一定的差异。第一,许多实验采用的光源是单能源(如^60Co),没有体现底片系统对不同X射线能量的响应特性;第二,实验装置与实际照相模型存在比较大的差异,由于光子能谱和角分布以及散射的影响,测量的H-D曲线往往很难用到实际照相中;第三,也是更重要的一点是目前测量高能X射线照射量的仪器的测量误差较大, 相似文献
13.
在ns激光辐照光学薄膜温度分布的基础上,利用最大剪应力理论建立了光学薄膜发生迎光剥落的理论模型,得到了发生损伤相应的应力分布和膜层剥落半径与入射激光能量关系.通过数值分析,验证了理论模型与实验结果基本保持一致,膜层临界损伤阈值与实验结论在数量级上保持一致;剥落半径与入射能量关系曲线与实验结果基本吻合.指出薄膜的损伤形态与其附着力强度有着密切关系,只有当附着力强度小于某一定值(~9.4×10^4N/cm^2)时,才会发生剥落. 相似文献
14.
为了在客体密度重建过程中采用迭代法扣除散射X射线的影响,提出了以散射分布均匀为主要目的的闪光照相系统设计思想。在介绍散射分布均匀性定义的基础上,分析了均匀扣除散射所带来的光程差。采用蒙特卡罗方法研究了系统放大倍数、照相距离以及后防护锥到图像接收系统的距离对散射分布均匀性的影响。结果表明:后防护锥到图像接收系统的距离是影响散射分布形状和散射照射量大小的一个主要因素;当后防护锥到图像接收系统的距离为55 cm左右时,散射分布均匀性近似最佳,而且照相距离越大,散射分布均匀性越好。这些研究结果可用于实际闪光照相系统的优化设计,在图像接收系统的响应范围内达到使散射分布均匀和降低光源模糊影响的目的。 相似文献
15.
对法国试验客体(FTO)的3 m照相系统建模,利用Monte-Carlo方法模拟X光子输运过程,得到了系统的散射分布和系统器件对散射的贡献。结果表明:后保护锥是系统散射的主要来源,对于任意一点,后保护锥的散射占总散射的75%以上。FTO的散射主要是FTO外层材料和边缘的散射,这部分散射占客体总散射的90%以上。利用坡度准直器对系统散射严重的区域进行的降散射,表明坡度准直器是一个很好的降散射器件,能有效提高图像质量。 相似文献
16.
17.
18.
本文介绍了数字电路的在线测试技术。研究了基于VXIbus仪器模块为测试设备的在线测试硬件结构,用HP VEE编程设计了软件系统,实现了数字电路的自动在线测试。 相似文献
19.
在大规模风、光直流集中送出系统中,采用模块化多电平换流器(MMC)实现高压直流输电(HVDC)成为新的发展趋势。但在系统运行过程中,子模块发生故障的概率较高,对故障进行快速、准确的诊断及定位是维持系统稳定运行的关键。针对子模块内部开路故障,在分析子模块内部故障特性的基础上,以直流侧电压测量值与计算值的差值判断故障是否发生以及发生类型,以输出相电流为观测量搭建滑膜观测器,根据输出相电流的测量值与计算值的差值和变化率判断故障所处的桥臂,根据故障类型选取对应开关状态的子模块,利用子模块电容电流理论值与实际值的比值进行定位;最后在PSCAD/EMTDC搭建双端21电平MMC-HVDC系统,仿真结果表明,所提出的策略能够快速实现子模块故障的诊断并进行快速可靠的就地保护。 相似文献
20.
对多晶Y_3Fe_(5-x)Mn_xO_(12)(x=0.05和0.09),得到300K下的中子衍射曲线。发现当x=0.05时,Mn~(3+)离子占据16a和24d位置的几率分别为0.72和0.28;当x=0.09时,Mn~(3+)离子全部占据16a位置;还得到两种组分16a和24d位置各自的磁矩值。 在外磁场(800—10KOe)下测量Y_3Fe_(5-x)Mn_xO_(12)(x=0—0.11)的磁化曲线,温度范围是1.5—300K。得到饱和磁矩值;并利用趋近饱和定律确定1.5K下的磁晶各向异性常数k_1值,发现|K_1|值随含锰量增加而减小。 相似文献