有机污染物在碳纳米管吸附的定量结构-性质关系

对一系列共59个芳香性分子进行了HF/6-31G^*水平上的结构优化,并在优化结构上进行了分子静电势及其导出参数的计算,应用多元线性回归方法建立了碳纳米管吸附有机污染物的平衡常数与分子结构间的定量关系. 结果表明,分子表面静电势参数（V_min、σ₊² 和ΣV_ind⁺）结合分子表面积（S）和最低空轨道能级（ε_LUMO）可以很好地用于构建碳纳米管吸附的定量结构-性质关系（QSPR）模型. 模型中引入的参数均具有明确的物理意义,其合理性可以从污染物与碳纳米管或水分子间相互作用的角度进行解释. 模型的稳定性和预测能力经“留一法”和Monte Carlo 交叉验证法进行了确证. 本文亦采用支持向量机（SVM）、最小二乘支持向量机（LSSVM）和高斯过程（GP）等三种方法建立了上述参数与碳纳米管吸附性质的非线性模型. SVM和LSSVM模型表现出强的拟合能力,但预测能力明显不如其他模型. GP模型无论是拟合能力还是预测能力都是最佳,但并没有明显地优于线性模型,说明对本文研究体系而言,其分子结构与性质间的关系主要以线性形式存在.     

磁透镜引起的氯化银谱峰异常位移及其在X射线光电子能谱成象分析中的应用

用X射线光电子能谱（XPS）分析了与样品托有良好电接触的银片及其上面的AgCl。观察到在使用样品磁透镜和非单色化X射线源的实验条件下不导电的AgCl的电子峰产生异常大的谱峰位移,还发现这种异常谱峰位移可以应用于XPS成象分析,以提高化学位移很小的元素化学态（如Ag^0和Ag^ )的XPS象的分辨能力。     

基于离散对数和二次剩余的门限数字签名体制的安全性分析

在研究参考文献[1]的基础上,对文献[1]的门限签名安全体制进行了分析研究,在研究学习中发现可以有2个满足签名验证的部分签名,一个是正确的签名,一个是可以用于替代这个正确签名的签名。对这种情况提出了一种签名参与者可能采用的欺诈攻击行为,可达到日后否认签名这一目的。此外,针对部分参与者在各自签名中的数学运算,通过分析发现可以出现部分签名计算上的问题,从而使以后的计算机运算验证出现偏差,针对上述这两个问题给出了相对应的修改措施。     

金属表面结构的变角XPS特征

采用仅改变阳极高压以获得不同激发光子流强的变角Ｘ光激发电子能谱（ＸＰＳ），研究Ａｌ、Ｆｅ、Ｃｕ、Ｔａ及Ｗ中光电子峰的表面结构效应。实验结果表明，在面心立方的Ａｌ及体心立方的Ｔａ和Ｗ中均显示表面结构产生的衍射效应，而在Ｆｅ和Ｃｕ中未出现表面结构效应；所出现表面结构效应的差异与阳极高压及光子流的能量有紧密的关系。同时，在实验高压范围内存在一个产生表面结构效应的阳极电压阈值。文中就观察到的表面结构效应之差异的可能机制进行了初步探讨。     

LnCu2O4(Ln=Gd,Nd)电子结构的XPS研究

用XPS测定了LnCu2O4(Ln=Gd, Nd)的内层和价层电子能谱,观察到LnCu2O4中稀土金属的3d电子结合能比相应的稀土金属简单氧化物的3d结合能低0.8～0.9 eV,而Cu的2p电子结合能比CuO的高0.4～0.5 eV,因此推断在LnCu2O4的Ln－O－Cu链中存在Cu→O→Ln电荷转移.XPS分析还表明LnCu2O4的Cu原子上有较低的电荷密度,但不存在混合价态.此外,通过比较价电子能谱,发现NdCu2O4的Ln 4f Cu 3d O 2p价带中心比GdCu2O4的价带中心向Fermi能级移近了3.4 eV,而且NdCu2O4的价带谱更窄.     

LnCu_2O_4(Ln=Gd,Nd)电子结构的XPS研究

用 XPS测定了 LnCu2O4(Ln=Gd, Nd)的内层和价层电子能谱,观察到 LnCu2O4中稀土金属的 3d电子结合能比相应的稀土金属简单氧化物的 3d结合能低 0.8～ 0.9 eV,而 Cu的 2p电子结合能比 CuO的高 0.4～ 0.5 eV,因此推断在 LnCu2O4的 Ln－ O－ Cu链中存在 Cu→ O→ Ln电荷转移 .XPS分析还表明 LnCu2O4的 Cu原子上有较低的电荷密度,但不存在混合价态 .此外,通过比较价电子能谱,发现 NdCu2O4的 Ln 4f Cu 3d O 2p价带中心比 GdCu2O4的价带中心向 Fermi能级移近了 3.4 eV,而且 NdCu2O4的价带谱更窄 .     

XPS分析固体粉末时的样品制备法研究

用XPS分析固体粉末样品时通常将粉末直接撒在双面胶带上进行测试.这种方法粉末容易脱落,并导致仪器污染或损坏.本文介绍一种将粉末样品铺在胶带上压成薄层进行测试的制样方法.后一种方法不需模具,简单快捷,实验表明它不仅有利于保护仪器,而且有利于提高XPS分析的灵敏度和分辨率.     

样品高度对XPS测试的影响

采用Al靶微聚焦单色器光电子能谱仪进行XPS测试时,如果样品高度选择不好,会导致测得的光电子峰强度降低. 而对于一些电子结合能较高的元素,其光电子峰会变宽,有时出现双峰. 分析了该现象的原因是X射线光斑、电子中和枪中和区域以及光电子能量接收区域没有聚焦于同一点.     

一种二重线性同余算法的研究

文章提出一种二重线性同余新算法,该算法在不降低传统线性同余算法安全性的基础上,进一步增大输出序列的周期,减少了线性同余算法的相关性,通过对这种新算法进行研究分析,提出了两个相关特性。