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141.
运用扫描电迁移率粒径谱仪对比测试自制软 X 射线中和器 (CM-SXR) 与商业化 TSI 高级气溶胶中和器
(TSI-SXR)。研究结果表明, 对于 20 nm 以上颗粒物, 在差分电迁移率分析仪 (SMPS) 筛分负电荷模式下, 对不同颗粒
物 (聚苯乙烯乳胶颗粒、硫酸铵及氯化钠颗粒、室内空气颗粒) 的测试均显示, 使用自制中和器比使用 TSI 中和器测
量所得的颗粒物数浓度要高, 浓度差异最大达 40%; 而在筛分正电荷模式下, 其结果正好相反, 最大浓度差达 77%。造
成上述差异的原因可能是由于软 X 射线在两种中和器中放置位置不同而导致放射程度不同以及停留时间存在差异,
从而最终导致中和器中颗粒物正负电荷分布不同。 相似文献
143.
文章结合某300MW循环流化床锅炉,从燃烧效率、风机利用率、汽温合格率等方面提出了经济运行策略,实践表明,实现了经济运行目标,可为类似锅炉运行优化提供参考。 相似文献
144.
烟雾探测器的好处不容置辩 但它们不能引导恐慌的或迷失方向的人们穿过烟雾脱离危险。在火灾中 大部分人死亡 实际上是由于吸入烟雾一氧化碳或者现代装修房间所用材料燃烧产生的有毒气体 或者挣扎的人不能找到出口。为此 Lyte光电离公司生产一种安全逃离设备 用激光穿过烟雾指示逃离路线。 公司指出 美国有%的家庭装有烟雾探测器 已建立与防火安全有关的预警装置。公司的目的是创造一种解决方法 将适合目前家庭的集成装置装在走廊或门窗外边。 烟雾探测器的报警声 同时使指示安全逃离的三个 nm激光二极管启动 《激光与光电子学进展》2001,(2):64
烟雾探测器的好处不容置辩,但它们不能引导恐慌的或迷失方向的人们穿过烟雾脱离危险。在火灾中,大部分人死亡,实际上是由于吸入烟雾、一氧化碳或者现代装修房间所用材料燃烧产生的有毒气体,或者挣扎的人不能找到出口。为此,Lyte光电离公司生产一种安全逃离设备,用激光穿过烟雾指示逃离路线。
公司指出,美国有94%的家庭装有烟雾探测器,已建立与防火安全有关的预警装置。公司的目的是创造一种解决方法,将适合目前家庭的集成装置装在走廊或门窗外边。
烟雾探测器的报警声,同时使指示安全逃离的三个650 nm激光二极管启动,在地板上用箭头指示通往出口的方向。由于烟雾变浓,激光束在有空气处变得更加清楚可见,显示出向逃离的路线方向移动。5.25 in×1.75 in×3.25 in的装置本身也发光,指示方位。
在安装激光器之前,公司设计出其他的类似装置。在烟雾穿透试验期间,发现红色激光束比非相干光穿透烟雾更为有效。
预期用户会接受这种简单朴实的装置。虽然本系统声音不甚悦耳,但它可以像安装烟雾探测器一样容易,仅需要两颗螺钉。 相似文献
145.
美国标准和技术研究院研究人员已用激光在玻色-爱因斯坦凝聚体具有相同量子态的超冷原子云上书写然后读出量子力学位相图案。 他们用激光技术产生并研究孤子稳定的局域密度变化 因为原子在凝聚体中充当非线性材料 孤子几乎没有损耗地传播。 研究人员用“光学相位印记”书写位相图案 用一台 nm波长mW液体染料激光器 此波长稍小于凝聚体钠原子的原子共振波长。他们将光束通过掩模聚焦在凝聚体上。掩模生成光图案 该图案改变描述凝聚体的波函数。但为生成孤子 仅需用刀片将光束遮去一半。 为了读出生成的图案 《激光与光电子学进展》2001,(2):61-62
美国标准和技术研究院研究人员已用激光在玻色-爱因斯坦凝聚体具有相同量子态的超冷原子云上书写然后读出量子力学位相图案。
他们用激光技术产生并研究孤子稳定的局域密度变化,因为原子在凝聚体中充当非线性材料,孤子几乎没有损耗地传播。
研究人员用“光学相位印记”书写位相图案,用一台589 nm波长、20 mW液体染料激光器,此波长稍小于凝聚体钠原子的原子共振波长。他们将光束通过掩模聚焦在凝聚体上。掩模生成光图案,该图案改变描述凝聚体的波函数。但为生成孤子,仅需用刀片将光束遮去一半。
为了读出生成的图案,研究人员采用激光物质波干涉测量术。这涉及两束约1 mW反向传播液体染料激光束,这两束激光束与原子共振频率差2 GHz,两激光束间差100 kHz。当脉冲进入凝聚体时,光子沿光束移动原子。原子波相互干涉,干涉图案揭示凝聚体新波函数的位相分布。
结合这两种技术,研究人员演示了将位相台阶刻印到凝聚体的波函数,生成孤子。
这种激光技术的未来应用可能包括孤子非线性动力学的研究,试图产生量子旋涡。 相似文献
146.
147.
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电容耦合和TFT漏电引起的垂直串扰问题在高分辨率液晶显示器产品上变得较为突出,大大影响了产品良率。业内通常采用VESA 2.0标准利用窗口画面测试串扰水平,但目前还没有一种预测串扰水平的定量分析方法。本文从垂直串扰形成机理出发,提出了一种可预测垂直串扰水平的定量分析方法,可预测出不同模式产品垂直串扰最严重的画面,有利于我们更好地研究和分析产品的品质。首先,通过分析垂直串扰机理,得到了垂直串扰现象与源电压差之间的定性对应关系。然后,通过分析V-T曲线,得到窗口画面下的亮度变化与源电压差之间的定量关系|ΔL|=kα|ΔV|。通过PCB板上的输出节点可以得到各灰阶对应的正负源电压,依据灰阶画面对应的源电压找到V-T曲线上对应的点可求出对应的斜率k值,依据漏电机理可求出对应的源电压差值|ΔV|,|ΔV|变化不大时可认为漏电电压降系数α为定值,故可计算出不同灰阶背景画面在窗口画面影响下的亮度变化值|ΔL|,将|ΔL|除以V-T曲线上对应灰阶的亮度值即可得到串扰值,通过比较不同窗口画面的串扰计算值即可得出串扰最严重的画面。最后,采用VESA 2.0标准方法测试不同窗口画面下的垂直串扰水平,与此方法的计算结果进行比较,串扰变化趋势吻合较好,TN和ADS模式下的线性相关系数分别达0.98和0.93以上。结果表明,此方法可以用来定量地研究产品垂直串扰的问题。 相似文献
149.
150.