B-N共掺杂改善p型ZnO的理论分析

采用基于密度泛函理论的第一性原理赝势法对B缺陷在ZnO中的存在形式进行了理论分析,对B-N共掺杂ZnO体系的晶格结构、杂质形成能、杂质态密度及电子结构进行了系统的研究.研究表明,B缺陷在掺杂体系中主要以BZn的形式存在,这种结构会引起相应的晶格收缩;研究发现与以往的N掺杂相比,共掺结构具有更低的杂质形成能和更高的化学稳定性,因此更加适合掺杂.此外,共掺能够形成更低的受主能级,因而减小了受主的杂质电离能,提高了受主态密度;研究显示共掺结构下的杂质N原子与体相Zn原子之间的键合能力提高,受主原子得电子的能力增强,因此B-N共掺有望成为一种更为有效的p型掺杂手段.     

“氢弹之父”爱德华·特勒

他 ,享有美国“氢弹之父”美誉 ;他 ,因陷害“原子弹之父”遭唾骂 ;他 ,是一个毁誉参半的传奇人物。2 0 0 3年 9月 9日 ,被誉为美国“氢弹之父”的爱德华·特勒去世 ,享年 95岁。“氢弹之父”出生在犹太家庭据美联社报道 ,半个多世纪来对美国防御政策产生重大影响、被誉为美国“氢弹之父”的美国著名核物理学家爱德华·特勒 (EdwardTeller)因脑中风 ,于 2 0 0 3年 9月 9日在加利福尼亚州斯坦福的家中去世 ,享年 95岁。爱德华·特勒于 190 8年 1月 15日出生于匈牙利首都布达佩斯的一个犹太家庭 ,父亲是一名律师 ,母亲是钢琴家。和爱因斯坦一…     

Cd1-xZnxTe晶体退火条件的选择及Zn压对退火晶体质量的影响

采用传统Bridgman方法和加入accelerated crucible rotation technique的Bridgman(缩写为ACRT-B)方法生长的Cd_1-xZn_xTe(x=0.04)晶体中存在有点缺陷、位错、杂质和Te沉淀等缺陷.为了减少甚至消除这些缺陷,必须将生长后的CdZnTe晶片在Cd气氛下退火.从Cd-Te和Cd_0.96Zn_0.04Te的PT相图出发,详细讨论了CdZnTe晶体的气固平衡条件,并 关键词： 1-xZn_xTe')" href="#">Cd_1-xZn_xTe 退火 气-固平衡     

思特奇预付费业务管理系统

在思特奇公司针对移动通信运营商的运营服务支撑系统（ＢＯＳＳ）全面解决方案中,思特奇预付费业务管理系统（ＳＩＴＥＣＨＰｒｅＰａｉｄＳｏｌｕｔｉｏｎ）就是随着移动通信业务的飞速发展,顺应提高运营商竞争力的需要,以及扩大市场占有率和服务种类的要求而及时...     

新型稀磁半导体Cd1-xMnxIn2Te4的光学和磁学性能

采用垂直Bridgman法制备出了x＝0.1、0.22和0.4的Cd1-xMnxIn2Te4晶体.采用红外透射光谱法研究了晶体的红外光学特性.用超导量子磁强计测量了样品在温度范围5～300K和磁场强度范围0～5T内的磁化强度.在中红外波段透过率曲线变化很小.随着x的增加Cd1-xMnxIn2Te4的光学带隙移向高能端.磁化率倒数χ-1与温度T的关系曲线在高温区服从居里-万斯定律,在低温下x≥0.22时向下偏离该定律.与具有相同Mn2+浓度的Cd1-xMnxTe晶体相比Cd1-xMnxIn2Te4晶体的交换积分常数较小.     

垂直布里奇曼法生长的Cd0.8 Mn0.2Te单晶体中Te沉淀相分析

Cd1-xMnxTe（CdMnTe,CMT）是制备光学隔离器、太阳能电池、x射线和γ射线探测器的优选材料。本实验采用垂直布里奇曼（VB）法成功地生长出Cd0.8Mn0.2Te单晶体。用JEM-3010型高分辨透射电子显微镜（HRTEM）观察了CMT晶体中的纳米级Te沉淀。选区电子衍射得到了Te沉淀与CMT基体两相的合成电子衍射图。计算出单斜Te沉淀的晶胞参数为：a=0.31nm,b=0.79nm,c=0.47nm,β=92.71°。确定了Te沉淀和CMT基体的取向关系为（0 31）Te//（202）CMT,[100]Te//[111]CMT。最后,对Te沉淀（缺陷）的形成原因进行了分析。     

纯音测试系统的瞬态分析技术

PureSoundTM纯音测试系统的瞬态分析技术为完全创新的以量测信号位准瞬间上升与下降的斜率以及幅度为方法,来检测音频信号所附带的异音,以Steepness值和Pa/s单位表示其幅度.PureSoundTM纯音测试系统连续地将信号微分和整流了并计算出Steepness值,可以检测出时域信号很小的变动,亦即检测微小但又困扰人的异音.要激发待测扬声器进行异音检测,必须用连续的Chirp(Gliding Sweep,滑频)信号,滑频信号是唯一能够涵盖可能产生异音所有频点进行检测的方式.它的必要性是因为异音失真通常是在非常窄的个别共振频点,因此不能像扫频信号那样会漏掉任何可能产生异音失真的频点.NTi Audio AG推出RT-Speaker扬声器测试系统,与RT-Microphone 传声器测试系统:1)RT-Speaker:分析扬声器受话器,耳机等因非线性产生的异音;2)RT-Microphone:瞬态分析技术也被应用测量传声器所产生非线性瞬态失.     

加压布里奇曼法生长大直径HgCdTe晶体

根据加压改进布里奇曼法 ,采用“二次配料”工艺成功地生长了直径 40 mm的大直径 Hg Cd Te (组分 x≈0 .2 0 )晶体 .采用加压技术 ,平衡部分石英安瓶内的高汞蒸汽压 ,有效地避免了石英安瓶的爆裂 ;采用“二次配料”工艺 ,大大降低了生长温度 ;合理选择温度梯度和生长速度 ,获得了有较好结晶性和组分均匀性的 Hg Cd Te晶体 .分析表明 :Hg Cd Te晶片的载流子浓度 n77≤ 4× 10 1 4 cm- 3 ,迁移率 μ77≥ 1× 10 5 cm2 /(V· s) ,少数载流子寿命值 τ≥ 2 .0 μs,80 K时简单的性能测试用光导探测器件的探测率 D*为 1.1× 10 1 0 cm· Hz1 /2 /W.