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随着芯片集成度的逐渐提高,芯片单位面积所消耗的功耗也越来越大,因此,可靠的电源网络设计和验证已成为芯片设计成败的关键因素之一。在以往。集成电路(IC)设计工程师往往根据经验来设计电源网络,但工艺到0.18um,这往往会引起芯片功能失效。根据这个问题。本文首先介绍电压降(IR-Drop)和电子迁移率(Electro-migration)现象和对芯片性能的影响;其次,提出一种有效的电源网络设计和验证方法,并在芯片的物理设计初期对电源网络作可靠性估计;最后,经过椭圆曲线加密芯片(ECC&RSA)的流片,表明采用该方法设计的芯片,工作情况良好。 相似文献
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文中介绍了一种新型的128×128红外读出电路中的低功耗设计,包括像素级和列读出级两部分.在像素级设计中,提出了一种新型四像素共用反馈放大器(Quad-Share Buffered Injection,QSBDI)的结构:每个像素的平均功耗为500nW,放大器引入的功耗降低了30%,同时使像素FPN只来源于局部失配.列读出级采用新型主从两级放大列读出结构,其中主放大器完成电荷到电压的转换,从放大器驱动输出总线来满足一定的读出速度.通过SPICE仿真发现,与传统列电荷放大器结构相比,新型结构可节省60%的功耗. 相似文献
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中国电信运营商技术创新国际化模式探析 总被引:1,自引:0,他引:1
为最大化利用发达国家技术集聚地的外溢效应,我国电信运营商应加速推进技术创新国际化。本文分析了技术创新国际化的内涵和动因,以法国电信.DoCoMo和沃达丰为例阐释了国外先进运营商技术创新国际化的模式,剖析了中国电信运营商技术创新国际化的现状和问题,最后提出了中国电信运营商技术创新国际化的几点建议,包括技术创新国际化先于市场国际化,以核心技术推动技术创新国际化,以及适合现阶段的技术创新国际化模式。 相似文献
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SOC设计过程的质量保证 总被引:1,自引:0,他引:1
SOC的出现,导致IC业的进一步分工,出现了系统设计、IC设计、第三方IP、电子设计自动化(EDA)和加工等各种专业.同时,它们又紧密结合,为用户提供完整统一的解决方案,这就促使各专业慢慢形成虚拟的再集成,构成一种"虚拟"的整体.在这种包含复杂而密切联系的分工的"虚拟"实体中,如何保证最后SOC产品的质量,是一个非常困难的问题.本文讨论了分别基于模块和平台的SOC不同功能的验证方法,提供解决SOC产品的质量. 相似文献
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在新兴的集成电路技术中技术革新搞得很快,而且经济效果也很显著。由于硅片尺寸的增大以及图形尺寸的微细化引起了集成度的不断提高,这就提出了降低器件成本的问题,当然这些革新成果必然为各厂家所注目。我们在本文中介绍一下:卡诺PLA—500FA型掩模对准仪,该仪器能很经济地制做2μ宽线条的器件。在这种仪器中,接近式、软接触式及接触式光刻可用一个开关来转换,而且可以根据图形所要求的分辨率来选择光刻形式。另外,由于仪器附有远紫 相似文献