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金属银熔体快冷过程的计算机模拟 总被引:2,自引:0,他引:2
利用分子动力学模拟技术研究了由周期性边界条件控制的500个银(Ag)原子构成的金属Ag熔体快速冷凝过程.冷却速率为8×1013K/s.模拟在FS(Finnis-Sinclair)相互作用势的基础上,通过双体分布函数、键对分析技术、键取向序等多种方法,对液银快速冷凝过程的微观结构转变特性作了分析,给出了连续快速冷凝过程中液银原子间依靠相互作用力形成的独特的微观结构图像.并考察了冷却过程中体系能量和元胞体积随温度的变化.模拟结果表明在快速冷凝过程中液Ag没有形成bcc结构的倾向. 相似文献
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没有探究,就没有科学。科学探究,是指科学家在研究自然界的科学规律时所进行的科学研究活动。20世纪80年代后,我国和一些发达国家将科学探究作为一种教学方法引入到教学过程中,让学生处于动态、开放、生动、多元的学习环境中,使学生通过类似科学家的探究过程理解科学概念和科学探究的本质,并培养科学探究能力,从而将学习重心从过分强调知识的传承和积累向知识的探索过程转化,使学生从被动接受知识向自主学习转化。重视科学探究是我国新一轮基础教育改革的核心。科学探究的形式是多种多样的,有提出问题、猜想与假设、制定计划与设计实验、进行实验与收集证据、分析与论证、评估、交流与合作等几个要素。科学探究既是物理课程的重要内容,又是重要教学方式;既是学生学习的学习目标,又是物理学习的重要方法。 随着新课程改革的不断推进,科学探究的理念日益深入人心。我们发现不仅在近几年的高考物理试题中出现了大量的科学探究问题,而且物理竞赛也用越来越多的试题彰显科学探究的理念。 相似文献
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利用高光谱技术对鸡蛋种类判别进行研究,为鸡蛋种类无损判别提供科学方法。本研究利用400~1 000 nm高光谱系统采集3种鸡蛋样本的高光谱图像,对原始光谱进行预处理;应用CARS、GAPLS和IRF对预处理后的光谱数据提取特征波长;分别建立基于全光谱和特征波长的KNN和PLS-DA鸡蛋判别模型。结果表明:Detrend法为最优预处理方法;利用CARS、GAPLS和IRF分别选出31、52和71个特征波长;基于IRF提取的特征波长的PLS-DA模型最优,校正集正确率97.02%,预测集正确率85.71%。表明基于高光谱成像技术采集的鸡蛋反射光谱对种类无损判别是可行的。 相似文献
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目的 了解亚胺培南耐药鲍曼不动杆菌(CRAB)医院感染的危险因素,并探讨Ⅰ类整合子在鲍曼不动杆菌亚胺培南耐药中的作用。方法 选取确诊为CRAB 医院感染患者54 例作为病例组,按1:3 配对选择162 例亚胺培南敏感鲍曼不动杆菌(CSAB)医院感染患者作为对照组,采用单因素分析及多因素logistic 回归分析其危险因素,PCR 检测Ⅰ类整合酶基因。结果 单因素分析发现,与CRAB 医院感染相关的危险因素有病情危重、入住ICU 时间、住院时间≥14d、机械通气/ 人工气道、留置尿管、中心静脉置管、免疫抑制剂的使用、抗生素使用时间≥7d、抗生素药物种类≥3 种。多因素logistic回归分析发现,病情危重(OR:8.47;95% CI:1.56~46.0)、入住ICU 时间(OR:9.32; 95% CI:1.83~47.43)、住院天数≥14d(OR:13.89;95% CI:3.07~62.85)、机械通气/ 人工气道(OR:18.86; 95% CI:4.38~81.31)、抗生素使用种类≥3 种(OR:6.16;95% CI:1.85~20.51)、抗生素使用时间≥7d(OR:5.41; 95% CI: 1.36~21.58)是CRAB 医院感染的独立危险因素;CRAB 组中Ⅰ类整合酶基因检出率(59.3%)显著高于CSAB 组(34.6%),差异有统计学意义(P<0.001)。结论 病情危重、入住ICU 时间、住院时间、机械通气/ 人工气道、抗生素使用种类≥3种、抗生素使用时间≥7d 是CRAB 医院感染的独立危险因素,Ⅰ类整合子在CRAB 中普遍存在,需加强对相关危险因素的控制及耐药机制的研究,早期防治CRAB 医院感染的发生。 相似文献
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Single event multiple-cell upsets (MCU) increase sharply with the semiconductor devices scaling. The impacts of several test factors on heavy ion single event MCU in 65 nm SRAM are studied based on the buildup of MCU test data acquiring and processing technique, including the heavy ion LET, the tilt angle, the device orientation, the test pattern and the supply voltage; the MCU physical bitmaps are extracted correspondingly. The dependencies of parameters such as the MCU percentage, MCU mean and topological pattern on these factors are summarized and analyzed. This work is meaningful for developing a more reasonable single event test method and assessing the effectiveness of anti-MCU strategies on nanometer-scale devices. 相似文献