样条状态变量法分析扁球壳的动力响应

基于瞬时变分原理与样条函数理论,建立扁球壳的动力方程,引入样条参数及其对时间的导数作为状态变量,导出状态方程,对空间域,采用样条有限元法,对时间域,采用现代控制论中的状态空间法,此外,建立了一种状态变量的递推计算格式,在计算过程中,不解线性方程组,也不需采用解耦技术,只要作矩阵运算,可直接算出动力响应量,文末给出的数值算例表明本文方法是可靠 与有效的。     

关于一个插值算子的注

本文证明了插值算子当α＞3时可达到Timan型逼近阶及1≤α≤2的最优阶．     

连续波激光辐照PV型HgCdTe探测器的新效应

 用连续波DF激光辐照PV型HgCdTe红外探测器，得到不同辐照功率密度下，探测器响应输出的一系列实验结果，观察到器件饱和以外的如探测器混沌、探测器单极化等一些新现象，这些结果与理论预期有着较大差别。给出了实验结果的初步解释，该实验结果为今后更好地研究PV型HgCdTe探测器提供了新的线索。     

长链脂肪酸稀土络合体系的光致发光现象研究

本文合成了两烯长链脂肪酸和铕的二元配合物，进而以邻菲罗淋作为第二配体制得三元配合物，是很好的光致发光物质，元素分析及FTIR光谱初步确定了结构，分别为Eu(L1)32H2O,Eu(L1)3phen,Eu(L2)32H2O,Eu(L2)3phen(L1=月桂酸根、L2=硬脂酸根），长链脂肪酸通过羧酸双齿螯合配位，运用紫外吸收光谱和荧光光谱进一步讨论其发光机理。通过TEM电镜研究了配合物掺杂在高分子中的形貌与颗粒大小等分布情况。     

再论硅光伏探测器的响应度

实验中发现部分硅光伏探测器在以光生电压为输出信号时，开路电压Voc存在异常现象，在一定强度的光照下Voc出现峰值，随后Voc随入射光强的上升而下降。本文对这种异常现象的规律进行了研究和分析，认为该现象的产生是由于在金属与半导体之间形成了整流接触，这也是导致器件响应度下降的重要原因。     

光电组合汇流环技术

提出一种实用可行的光电组合汇流环技术，它有效地抑制了信号间的电磁干扰，同时也使机械导电汇流环的摩擦力矩随着其滑环数的减少而减小，提高了周视转台的稳定精度。     

高效薄层扫描法测定蛛网膜下腔出血患者脑脊液中血小板活化因子

摘要：建立了测定蛛网膜下腔出血患者（SAH）脑脊液中血小板活化因子（PAF）质量浓度的高效薄层扫描方法。薄层板为高效硅胶G板（100mm×l00mm）,展开剂为V（氯仿）:V（甲醇）:V（水）=65:35:6,下层液展开,显色剂为100g/L磷钼酸溶液,展开距90mm,扫描波长630nm。方法的线性范围0.5～2.5μg/L,相关系数0.9990,最小检测质量浓度50ng/L,平均回收率98.6％。运用所建立的方法测定了16例SAH患者发病后脑脊液和10例非神经系统疾病患者脑脊液中PAF的质量浓度及其变化     

环戊二烯与二氢呋喃类化合物Diels-Alder反应的理论研究

采用量子化学密度泛函理论(DFT)在B3LYP/6-311++G **水平上对环戊二烯与2(5H)-呋喃酮、丁烯二酸酐和2,5-二氢呋喃的Diels-Alder反应机理进行了理论研究,并且考虑了溶剂化效应和取代基效应对反应机理及能垒的影响。结果表明,本文所涉及的环戊二烯与二氢呋喃类化合物的Diels-Alder加成反应是以协同方式进行的;羰基取代基的吸电子作用是造成产物中C(1)-C(2)、C(3)-C(4)键键长增加的主要原因;反应所涉及到的FMO相互作用主要是环戊二烯的HOMO与二氢呋喃类化合物的LUMO之间的相互作用,羰基对反应活化能的影响主要是通过降低呋喃类化合物的LUMO能级,减小与环戊二烯的HOMO的能级差异,从而有利于反应进行的;反应2的活化能垒最低,从动力学的角度考虑在室温下可以进行。     

On spectral methods for Volterra-type integro-differential equations

This paper considers the spectral methods for a Volterra-type integro-differential equation. Firstly, the Volterra-type integro-differential equation is equivalently restated as two integral equations of the second kind. Secondly, a Legendre-collocation method is used to solve them. Then the error analysis is conducted based on the _L∞$L_{\infty }$-norm. In addition, numerical results are presented to confirm our analysis.     

残余应力下厚壁筒表面裂纹的应力强度因子计算

本文首先介绍了边界元法计算裂纹尖端应力强度因子的基本理论,接着利用边界元法计算了在残余应力下不同厚壁筒内表面椭圆裂纹的应力强度因子,研究了其大不随椭圆裂纹不同而变化的规律,为厚壁筒结构的设计,制造以及疲劳寿命分析提供了许多有价值的参考资料。