应变Si1-xGex层中p型杂质电离常温和低温特性

本文采用解析的方法计算了应变Si1-xGex层中p型杂质电离度与Ge组分x、温度T以及掺杂浓度N的关系.发现常温时,在同一Ge组分下,随着掺杂浓度的升高,杂质的电离度的先变小,而后又迅速上升到1.在同一掺杂浓度下,轻掺杂时,杂质的电离度随Ge组分的增加先变大,而后几乎不变;重掺杂时,杂质电离能变为0后,杂质电离度为1.低温下,轻掺杂时,载流子低温冻析效应较为明显,杂质的电离度普遍较小,当掺杂浓度大于Mott转换点时,载流子冻析效应不再明显,电离率迅速上升到1.在同一Ge组分下,随着掺杂浓度的升高,杂质的电离度先变小,后变大,而后又迅速上升到1.在同一掺杂浓度下,轻掺杂时,杂质的电离度随Ge组分的增加变大;重掺杂时,杂质电离能变为0后,杂质电离度为1.     

浅析欧洲绿党政治

上个世纪70年代以来，绿党在欧洲政坛崛起，这是欧洲社会政治变化的一个新现象。绿党力量的上升乃至绿党政治的出现在某种程度上改变了西欧国家现行的政党格局。研究绿党对于我们了解欧洲政治变化以及绿色思潮与生态政治的影响具有重要意义。     

一类非定常对流占优扩散问题差分-流线扩散法的后处理

讨论了一类非定常对流占优扩散方程的差分-流线扩散格式(FDSD),利用插值后处理技术,提高了特殊网格下该FDSD格式在双线性元空间的精度,从而按L∞(L2(Ω) 模达到最优．     

FREE DEFORMATION RETRACTION IN INJECTIVE METRIC SPACES

In this paper the authors establish the concept of generalized ball-intersection (GBI) and prove that an injective metric space is freely contractible to its each GBI, which generalizes a result of Isbell from a point to a GBI.     

Hydrothermal synthesis and Magnetocaloric effect of La0.5Ca0.3Sr0.2MnO3

The hydrothermal synthesis and magnetic entropy change for the perovskite manganite La_0.5Ca_0.3Sr_0.2MnO₃ have been studied. The La_0.5Ca_0.3Sr_0.2MnO₃ can be produced as phase-pure, crystalline powders in one step from solutions of metal salts in aqueous potassium hydroxide solution at a temperature of 513 K in 72 h. Scanning electron microscopy shows that the materials are made up of cuboid-shaped particles in typical dimension of 4.0×2.5×1.6 μm. Heat treatment can improve the magnetocaloric effect for the hydrothermal sample. The maximum magnetic entropy change ΔS_M for the as-prepared sample is 0.88 J kg⁻¹ K⁻¹ at 315 K for a magnetic field change of 2.0 T. It increases to 1.52 J kg⁻¹ K⁻¹, near its Curie temperature (317 K) by annealing the sample at 1473 K for 6 h. The hydrothermal synthesis method is a feasible route to prepare high-quality perovskite material for magnetic refrigeration application.     

300kVA高温超导变压器电流引线漏热损耗的测量

电流引线是高温超导变压器的主要外部漏热来源,它的漏热量直接影响了超导变压器的经济性能,因此,引线的设计与漏热测量一直备受关注。文中构建了一个实验方案,运用量热法测量低压引线的漏热,并将试验结果与仿真预期值进行了对比和分析,从而验证了仿真设计的正确性。     

C-V法提取SiC隐埋沟道MOSFET沟道载流子浓度

本文对用C-V法提取SiC隐埋沟道MOSFET沟道载流子浓度的方法进行了理论和实验分析. pn结的存在所造成的埋沟MOS结构C-V曲线的畸变为沟道载流子浓度的提取带来一些问题. SiC/SiO₂界面上界面态的存在也会使提取出的数值与实际数值产生偏差. 本文首先从理论上分别分析了沟道深度和界面态对沟道载流子浓度提取结果的影响，然后对两种沟道深度的埋沟MOS结构C-V曲线进行了测试，提取出了沟道掺杂浓度. 在测试中，采用不同的扫描速率，分析了界面态对提取结果的影响. 理论分析结果和实验测 关键词： C-V法 SiC 隐埋沟道MOSFET 沟道载流子浓度