在非交错网格上求解非正交曲线坐标系下N-S方程

介绍一种在非交错网格上,求解非正交曲线坐标系下的流动控制方程的方法。为解决在三维非正交曲线坐标系下采用非交错网格时所遇到的压力波动问题,将一种网格界面速度插值方法进行推广,并导出了相应的计算公式。运用所建立的方法对90°方截面弯管流动问题进行了数值模拟。结果是令人满意的,从而表明计算方法及所开发程序的可靠性。     

Fabrication of silicon nanowires

2 at 750 °C and 850 °C. The oxide and interface morphology are characterized by cross-sectional scanning electron microscope images. It is found that the oxidized nanowire following oxidation at 750 °C still keeps its pentagon shape even if it has been oxidized for 19 h. However, the oxidized samples at 850 °C become circular in shape. The oxidation-temperature dependence of the sample shapes is discussed. Our results should be useful in generating silicon nanowires coated with SiO₂ in microelectronic technology with careful selection of the SiO₂ growth temperatures. Received: 26 September 1997/Accepted: 8 December 1997     

非线性物理简介:8.光学孤子及其在光纤通讯中的应用

本文介绍了光学孤子的形成、特性及其在光纤通讯中的应用．     

光束的空间相干性与空间质量评价

光束空间质量评价的标准应该能够反映光束的空间相干性和强度(功率或能量)分布,并主要由空间相干性的优劣来说明.本文对模式纯度(1-δ)以及空间质量评价因子-衍射极限倍数因子M²做了讨论,并对此因子的表达形式提出了我们的改进建议.     

非等分辨率光线跟踪体绘制方法及其在超声CT三维成像中的应用

光线跟踪绘制是获得广泛应用的三维标量场数据的计算机可视化方法之一,它所处理的数据量之大要求数据压缩存放.本文推导了非等分辨率条件下数据压缩存贮时直角坐标系中的广义的射线方程及链式关系,研究了它在基于CT切片的超声三维成像中的应用.实例表明,该方法能够真实反映原始数据特征,即,对于大尺度物体(相对于换能器声场分辨率),该方法能够得到清晰的图像,而对于小尺度物体,由于原数据分辨率不够导致图像模糊,但是该方法仍然能够定性表明缺陷的存在.     

30MeV/u 40Ar引起的反应中核温度参数的提取

利用同位素产额比方法,提取了30MeV/u ⁴⁰Ar轰击⁵⁸Ni,⁶⁴Ni和¹¹⁵In的反应中中等质量碎片(IMFs:3≤Z≤8)的发射体的核温度参数,给出了“表观”温度与一些物理量的依赖关系以及对边馈(side-feeding)效应的影响进行修正后的温度参数. 并就此进行了简单的讨论.     

直接观测磁通密度分布和运动的磁光图像技术

阐述了应用法拉第磁光旋转效应将磁通密度分布转换为亮度分布的图像，介绍了用微机采集和处理这种磁光图像，直接观测和研究磁通密度分布和运动，研究超导体的磁通动力学和磁性材料的磁性结构，叙述了目前应用磁光图像技术研究高温超导体性质和实用高温超导带材方面的最新进展．     

非耦合压缩Landau态

引入Landau体系(带电粒子在垂直于均匀磁场的平面内的运动)的非耦合压缩态.利用这些压缩态可方便地描述带电粒子的圆周运动，且所得结果与规范的选择无关. 关键词：     

掺铒矾酸钇晶体上转换荧光研究

使用波长为808和658nm的半导体激光器和染料激光器作为激发源，测量了Er³⁺：YVO₄晶体的波长在553和410nm附近的上转换荧光.对激发过程的分析表明，贡献于上转换荧光的主要激发机制为激发态吸收.在不同浓度下对上转换荧光的寿命测量结果显示，随Er³⁺浓度的提高，553nm绿光的荧光寿命随浓度的增加而减小，但410nm的荧光寿命随Er³⁺浓度无明显变化.结合绿光强度随掺杂浓度增加而减小的结果，认为在所测浓度范围内 关键词：     

用椭偏术研究与接触介质有关的贵金属的介电函数

为了研究接触介质对金属光学性质的影响，实验中使用具有不同折射率的梯形棱镜作为衬底，将金和银蒸发到棱镜底部，用椭偏术分别测量了薄膜在金属-空气、金属-衬底界面的介电函数.结果表明：无论在Drude区，还是在带间跃迁区，金属-衬底界面处薄膜介电函数不仅与金属-空气界面处的测量值不同，而且随衬底折射率改变而改变.在固体接触条件下获得的结果与其他作者在液体接触条件下获得的结果相一致，但尚难被现有机制所解释. 关键词：