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多维漫透射光谱技术利用传统的近红外透射测量方式,增加一维扫描装置,获得透射方向上的径向光谱,并利用多点漫透射光谱对复杂混合溶液进行成分分析。实验设计了基于氙灯光源、精密电控平移台和光谱仪的检测装置,选用Intralipid-20%,India Ink和C6H12O6共配制225种成分含量不同的混合溶液,分别测量距其透射中心点0~5 mm(间隔0.25 mm)范围内的20点漫透射光谱信号,以偏最小二乘回归算法对单点和多点漫透射光谱信号进行建模分析。实验得到India Ink含量和Intralipid-20%含量随漫透射光位置点的增加建模及预测的精度提高,C6H12O6含量随漫透射光位置点的增加建模及预测精度没有明显变化。结果表明,增加不同位置信息的漫透射光谱信号,能够提高复杂混合溶液中强吸收物质和强散射物质的信噪比,对于弱吸收弱散射物质有望在提升系统精度的前提下提高其预测能力。 相似文献
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Relative position determination of a lunar rover using high-accuracy multi-frequency same-beam VLBI 总被引:2,自引:0,他引:2
LIU QingHui CHEN Ming XIONG WeiMing QIAN ZhiHan LI JinLing HAO WangHong WANG GuangLi ZHENG WeiMin GUAN Di ZHU RenJie WANG WeiHua ZHANG XiuZhong JIANG DongRong SHU FengChun PING JinSong & HONG XiaoYu Shanghai Astronomical Observatory Chinese Academy of Sciences Shanghai China Center for Space Science Applied Research Beijing Lunar Explorer Engineering General Department Beijing ... 《中国科学:物理学 力学 天文学(英文版)》2010,(3)
Multi-frequency same-beam VLBI means that two explorers with a small separation angle are simultaneously observed with the main beam of receiving antennas. In the same-beam VLBI, the differential phase delay between two explorers and two receiving telescopes can be obtained with a small error of several picoseconds. The differential phase delay, as the observable of the same-beam VLBI, gives the separation angular information of the two explorers in the celestial sphere. The two-dimensional relative position on the plane-of-sky can thus be precisely determined with an error of less than 1 m for a distance of 3.8×105 km far away from the earth, by using the differential phase delay obtained with the four Chinese VLBI stations. The relative position of a lunar rover on the lunar surface can be determined with an error of 10 m by using the differential phase delay data and the range data for the lander when the lunar topography near the rover and the lander can be determined with an error of 10 m. 相似文献
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从新疆采集了13件岩矿石样品,用于研究蚀变过程中矿物的元素含量变化特征。成都理工大学研制的IED-6000型原位微区X射线荧光分析仪被应用于获得蚀变过程中矿物的化学和物理数据。这种无损的微区X射线荧光分析仪主要是以低功耗X光管和电致冷Si-PIN半导体探测器为基础,采用毛细管X射线透镜实现微区测量的功能,并且能够集成到任何显微镜上进行测量,焦斑长轴直径约110 μm。通过微区X射线荧光测量,将黝铜矿更正为黄铁矿,提高了矿物鉴定的效率及准确性;在蚀变剖面研究中,矿化岩石样品的长石颗粒都富含Cu和Zn元素,可以作为找矿直接指示元素。Cr,Mn和Co等元素含量与矿化程度呈负相关。 相似文献
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H. Y. PAN D. P. YU G. J. LIAN G. C. XIONG X. P. ZHANG X. C. SUN 《Molecular physics》2013,111(19):3049-3054
A study is reported on the growth mechanism of YBa2Cu3O7 with different growth speeds by high resolution transmission microscopy (HRTEM) and analysis of the interface and thin film microstructure. Two thin films were synthesized by pulse laser deposition on [100], miscut 5°, SrTiO3 substrate at 820 °C, one with a pulse laser frequency of 1 Hz and one with 6 Hz. Cross-sections were studied by an H-9000 NAR HRTEM along the [010] direction. The growth process of the sample made at 1 Hz was as follows. First, distorted step flow growth occurred on a step-mediated substrate surface of 3–4 cells thickness. Second, about a 15 nm thickness of island shape growth becomes superimposed on the area of the step flow layer. Finally, thin film growth occurred but with growth fluctuation. The sample made at 6 Hz showed the characteristics of island growth; the growth area of island or ball shape was of small size and dense distribution, and seemed to be a confused mosaic stack. The influence of growth speed on YBCO epitaxial film microstructure was studied explicitly by HRTEM. 相似文献
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