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92.
Ohne ZusammenfassungDie Hauptergebnisse dieser Arbeit wurden in der Sitzung vom 18. I. 1936 der poln. math. Gesellschaft (Abteilung Lwów) mitgeteilt.  相似文献   
93.
Zusammenfassung Es wurde eine mikroelektrolytische Methode zur Kupferbestimmung in ammoniakalischer Lösung bei normaler Temperatur und unter Rühren des Elektrolyten durch Kohlendioxyd, das durch die Capillaröffnungen auf den Boden des Gefässes geleitet wurde, ausgearbeitet. Die äusserst einfache Apparatur ermöglicht es. in die Lösung nacheinander Gas einzuleiten und die Kathode ohne Stromunterbrechung mit Wasser zu waschen. In die elektrolysierte Lösung, die 0,2–5mg Kupfer und 0,5ccm konz. Ammoniak bei einem Gesamtvolumen von 6–7ccm enthält, wird Kohlendioxyd eingeleitet, wodurch sich nicht nur der nötige Elektrolyt bildet, sondern zugleich das Rühren der Flüssigkeit zustandekommt. Nach 10 Minuten (2 Volt) wird die Kathode mit 1/4l Wasser gewaschen, getrocknet und gewogen. Die Methode ist allgemeiner anwendbar. Man kann sowohl Cupro- wie Cuprisalze bestimmen, und es ist bei verschiedenen Anionen nicht immer nötig, sie in Nitrate oder Sulfate überzuführen wie bei der Analyse in saurer Lösung. Durch einfaches neuerliches Abscheiden des Kupfers an der Kathode kann man auch das Kupfer aus schwerer analysierbaren Substanzen in reiner Form gewinnen. Einzelheiten sind im Text angeführt.  相似文献   
94.
95.
We studied the influence of a pyridine moiety versus a phenyl moiety when introduced in the molecular design of an ambipolar host. These pyridine-based host materials for organic light-emitting diodes (OLEDs) were synthesized in three to five steps from commercially available starting materials. The isomeric hosts have similar HOMO/LUMO energies; however, data from OLEDs fabricated using the above host materials demonstrate that small structural modification of the host results in significant changes in its carrier-transporting characteristics.  相似文献   
96.
Metals and metal alloys are usually employed as interconnections to guide electrical signals between components into the very large scale integrated (VLSI) devices. These devices demand higher complexity, better performance and lower cost. Thin film is a common geometry for these metallic applications, requiring a substrate for rigidity. Accurate depth profile analysis of coatings is becoming increasingly important with expanding industrial use in technological fields. A number of articles devoted to LIBS applications for depth-resolved analysis have been published in recent years. In the present work, we are studying the ability of femtosecond LIBS to make depth profiling for a Ti thin film of thickness 213 nm deposited onto a silicon (100) substrate before and after thermal annealing. The measurements revealed that an average ablation rates of 15 nm per pulse have been achieved. The thin film was examined using X-Ray Diffraction (XRD) and Atomic Force Microscope (AFM), while the formation of the interface was examined using Rutherford Back Scattering (RBS) before and after annealing. To verify the depth profiling results, a theoretical simulation model is presented that gave a very good agreement with the experimental results.  相似文献   
97.
We discuss multigrid methods and multilevel preconditioners for first kind boundary integral equations with weakly and hypersingular kernels. We find that the number of iterations needed is bounded or grows no worse than logarithmically in the numbers of unknowns. We also discuss the complexity for parallel implementations.  相似文献   
98.
99.
100.
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