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891.
李勇  孙成伟  刘志文  张庆瑜 《物理学报》2006,55(8):4232-4237
通过反应磁控溅射过程中的等离子体发射光谱,研究了制备ZnO薄膜的沉积温度、氧气流量比例R=O2/(O2+Ar)对Zn和O原子发射光谱的影响,并结合ZnO薄膜的结构和物理性能,探讨了沉积温度在ZnO薄膜生长中的作用.研究结果显示:当R≥0.75%时, Zn的溅射产额随R的增加基本呈线性下降规律.当R介于10%—50%时,氧含量的变化相对平缓,有利于ZnO薄膜生长的稳定性控制.Zn原子发射光谱强度随沉积温度的变化可以分为三个阶段.当沉积温度低于250℃时,发射光谱强 关键词: ZnO 薄膜生长 反应磁控溅射 等离子体发射光谱  相似文献   
892.
房元锋  杜春光  李师群 《物理学报》2006,55(9):4652-4658
研究了处于光子带隙材料中的四能级原子系统的电磁感应透明、自发辐射和光子开关效应,分析了其稳态与瞬态特性, 发现特殊的模密度能够导致反常的吸收、色散、自发辐射及瞬态无反转增益, 并可以通过外加调制场进行控制.详细讨论了特殊频率处模密度的变化对透明窗口和光子开关效应的影响. 关键词: 光子带隙材料 电磁感应透明 模密度 光子开关  相似文献   
893.
陈潇潇  李斌成  杨亚培 《物理学报》2006,55(9):4673-4678
推导了调制的平顶光束激励下基于Fresnel衍射积分的表面热透镜理论,通过数值模拟,比较了平顶光束和高斯光束激励下样品内部温度场、表面形变场和探测光衍射信号的径向分布,分析了影响表面热透镜信号的实验参数.结果表明,在最佳探测位置,平顶光束激励下的表面热透镜系统比相同情况下高斯光束激励下的灵敏度高,最高时约2倍,更有利于薄膜吸收测量. 关键词: 表面热透镜 光学薄膜 平顶光束  相似文献   
894.
对碳纳米管(CNT)掺杂MgB2超导体磁场处理后的行为进行了研究. 结果表明,CNT掺杂MgB2超导体经5T脉冲磁场处理后临界电流密度Jc(H)在低磁场下提高了2—3倍,高场下提高一个数量级以上,扫描电镜结果显示CNT沿着处理磁场方向规则排列并且成为MgB2基体的形核中心和高效的磁通钉扎中心. 关键词: 2')" href="#">MgB2 碳纳米管 脉冲磁场处理  相似文献   
895.
Uniform gold nanowires were synthesized by electrodepositing the gold under a very low ac frequency in the pores of an anodic aluminum oxide (AAO) template. The surface of the Au/AAO composite is very even and appeared purplish red. Atomic force microscopy observation indicates that the template membranes we obtained have hexagonally close-packed nanochannels. The gold nanowire array is very orderly arranged after partially dissolving the aluminum oxide membrane. Gold nanowires were also characterized by transmission electron microscopy and the phase structure of the Au/AAO composite was proved by X-ray diffraction. Received: 19 April 2001 / Accepted: 28 April 2001 / Published online: 27 June 2001  相似文献   
896.
Structural and optical properties of ZnO film by plasma-assisted MOCVD   总被引:2,自引:0,他引:2  
Wang  X.  Yang  S.  Wang  J.  Li  M.  Jiang  X.  Du  G.  Liu  X.  Chang  R.P.H. 《Optical and Quantum Electronics》2002,34(9):883-891
High quality ZnO film was deposited by plasma-assisted metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD). We observed a dominant peak at 34.6° due to (0 0 2) ZnO, which indicated that the growth of ZnO film was strongly C-oriented. The full-width at half-maximum (FWHM) of the -rocking curve was 0.56° indicating relatively small mosaicity. Photoluminescence (PL) measurement was performed at both room temperature and low temperature. Ultraviolet (UV) emission at 3.30 eV was found with high intensity at room temperature while the deep level transition was weakly observed at 2.513 eV. The ratio of the intensity of UV emission to that of deep level emission was as high as 193, which implied high quality of ZnO film. From PL spectrum at 10 K, we observed A-exciton emission at 3.377 eV and D°X bound exciton transition at 3.370 eV. The donor–acceptor transition and LO phonon replicas were observed at 3.333 and 3.241 eV respectively. Raman scattering was performed in back scattering at room temperature. The E2, A1(LO) and A1(TO) mode was seen at 437.6, 575.8 and 380 cm–1 respectively. In comparison with Raman spectrum of ZnO powder, we found that ZnO film was nearly free of strain, which indicated high crystal quality.  相似文献   
897.
Fabrication of bamboo-shaped GaN nanorods   总被引:1,自引:0,他引:1  
Bamboo-shaped GaN nanorods were formed through a simple sublimation method. They were characterized by means of X-ray powder diffraction (XRD), transmission electron microscopy (TEM), high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM) and selected-area electron diffraction (SAED). The TEM image showed that the nanorods were bamboo-like. XRD, HRTEM and SAED patterns indicated that the nanorods were single-crystal wurtzite GaN. Received: 8 January 2001 / Accepted: 28 April 2001 / Published online: 20 December 2001  相似文献   
898.
施均仁  张平  肖笛  牛谦 《物理》2006,35(9):720-722
通常的自旋流定义在描述自旋-轨道耦合系统中的自旋输运是不完整的与非物理的。文章作者提出在这类系统中自旋流的恰当定义。新定义的自旋流克服了通常定义下的本质缺点,可通过实验直接观测。  相似文献   
899.
韩力  卢杰  李莉 《物理实验》2006,26(4):39-40,43
基于夫琅禾费衍射理论和巴比涅互补原理,提出了利用激光衍射对细丝直径进行动态测量的方法.该方法具有测量精度高、速度快、非接触、使用方便且易于微机联接实现自动化测量等优点.  相似文献   
900.
基于基片弯曲法和牛顿环的基本原理,使用He-Ne激光器、扩束镜、凸透镜和带分光镜的移测显微镜,搭建了薄膜应力测量装置.采用直流溅射法制备了厚度为30~144 nm的银薄膜,衬底采用厚度为0.15 mm、直径为18 mm的圆形玻璃片.实验发现,薄膜厚度对银薄膜的内应力有显著的影响,在薄膜厚度很小时,随着薄膜厚度的增加,应力迅速增大,达到最大值后,随着厚度的继续增加,薄膜应力下降较快并趋于稳定值.  相似文献   
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