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991.
992.
TeVγ射线在星系际空间传播过程中将与红外背景光子作用而被衰减或吸收.大气ˇC成像望远镜实验观测到了Mrk421和Mrk501处于活动高态时的TeVγ射线发射并测出它们的能谱.报道了利用TibetⅡ/HD阵列在1995年10月至1997年至8月收集的数据,通过Mrk421和Mrk501的能谱研究星系际红外背景光子吸收现象的初步结果.结果显示:直到30TeV能区尚未观测到Mrk421和Mrk501能谱中存在统计上具有显著意义的红外背景光子吸收10TeVγ射线的现象. 相似文献
993.
采用柱色谱法从延龄草中分离得到两个甾体皂苷化合物,即(25S)-27-羟基-偏诺皂苷元-3β-O-α-L-吡喃鼠李糖基-(1→4)-[O-α-L-吡喃鼠李糖基-(1→2)]-O-β-D-吡喃葡萄糖苷{(25S)-27-hydroxy-penogenin-3β-O-α-L-rhamnopyranosyl-(1→4)-[O-α-L-rhamnopyranosyl-(1→2)]-O-β-D-glucopyranoside, 1} 、(25S)-27- 羟基- 偏诺皂苷元-3β-O-α-L- 吡喃鼠李糖基-(1→4)-O-α-L-吡喃鼠李糖基-(1→4)-[O-α-L-吡喃鼠李糖基-(1→2)]-O-β-D-吡喃葡萄糖苷(polyphylloside III, 2),应用1H NMR,13C NMR,DEPT,HSQC,HMBC,1H-1H COSY 和NOESY NMR 技术进行结构解析,并对化合物1,2 的1H NMR,13C NMR 数据进行全归属. 相似文献
994.
995.
高分辨率CCD图像传感器及CCD摄像机的性能评价 总被引:8,自引:1,他引:8
研究了CCD图像传感器及CCD摄像机的性能及测试方法。重点探讨了高分辨率的CCD摄像机的成像特点。论述了高分辨率CCD图像传感器和高分辨率CCD摄像机的性能。这些性能与当前厂商提供的商用CCD摄像机有许多不同之处。评价高分辨率CCD图像传感器的性能主要有灵敏度、动态范围、分辨率和拖影。评价高分辨率CCD摄像机性能有灵敏度、最小照度、分辨率和光学格式等。给出了高分辨CCD摄像机的性能评价实例,简述了其工艺特点和技术特点。 相似文献
996.
Experimental study of cross-section ratios in the collisions of Cq+ and oq+(q= 1-4) on atomic helium in strong-interaction region 下载免费PDF全文
We have measured the cross-section ratios of helium induced by Cq+ and Oq+ (q=1-4) in an energy range from 20 keV/amu to 500 keV/amu, and obtained the two-dimensional spectra by employing the coincidence method combined with the MPA-3 data acquisition system. Hence, we obtain the ratios of total single-ionization cross-sections (SI, SC, SLSI, and DLSI), total double-ionization cross-sections (DI, DC, TI, SLDI, and DLDI) and cross-sections of every process (SI, SC, SLSI, DLSI, DI, DC, TI, SLDI, and DLDI), which induce the single-ionization and double-ionization, to the total cross sections respectively. The competitive relations between the reaction-channels and the experimental data law of each reaction-channel are revealed explicitly, and the qualitative explanations involved in those results are also presented accordingly. 相似文献
997.
998.
999.
对一维掺杂光子晶体嵌入负介电常数材料和负磁导率材料中缺陷模的透射性质进行了研究.利用转移矩阵方法,分别计算了负介电常数材料和负磁导率材料的反射相位谱和一维掺杂光子晶体的透射相位谱.研究发现,在特定条件下,负介电常数材料和负磁导率材料的反射相位以及一维掺杂光子晶体的往返透射相位之和是0或者2π的整数倍.这样的研究结果表明,在满足一定的条件下,一维掺杂的光子晶体嵌入负介电常数材料和负磁导率材料中后,无论杂质的厚度多大,在光子带隙中仅出现一个缺陷模.而且,由于负介电常数材料和负磁导率材料性质的限制,单个缺陷模的品质因子会大大提高. 相似文献
1000.