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The cross sections of Ni(n,x)~(58(m g))Co,Ni(n,x)~(60m)Co,Ni(n,x)~(61)Co and Ni(n,x)~(62m)Co reactions induced by neutrons around 14 MeV were measured in this work and calculated by a previously developed formula in this work.The neutron flux was determined using the monitor reaction ~(27)Al(n,α)~(24)Na and the neutron energies were measured with the method of cross-section ratios for ~(90)Zr(n,2n)~(89)Zr to ~(93)Nb(n,2n)~(92m)Nb reactions. 相似文献
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Electrical Properties of La-Doped Al2O3 Films on Si (100) Substrates as a High-Dielectric-Constant Gate Material 下载免费PDF全文
Amorphous La-doped Al2O3 (La: Al2O3) thin films are deposited on n-type (100) Si substrates by rf magnetron co-sputterlng. The composition of the deposited films is measured by energy dispersive x-ray spectroscopy: Capacitance-voltage measurement shows that the dielectric constant k of La-doped Al2O3 films ranges from 8.5 to 11.6 with the increasing La content, and the highest k value of 11.6 is obtained for the 20.14% La content film. In the structure of the Al/La:Al2O3/Si metal oxide semiconductor, the dominant conduction stems from the space- charge-limited current at different temperatures. In addition, the wavelength dependence of the transmittance is studied by ultraviolet spectroscopy and the band gap of all the deposited films is above 5.5eV. The results demonstrate that La-doped Al2O3 can meet the requirement of next-generation gate materials. 相似文献
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