凸合成模糊对策的模糊稳定集

本建立了凸合成模糊对策的模型，并得到了凸合成模糊对策的模糊稳定集，可由子对策的模糊稳定集表达出来。从而解决了凸合成模糊对策的解的结构问题。     

求解一类非单调线性互补问题的宽邻域内点方法及其计算复杂性

对于一类非单调线性互补问题给出了一种新的算法——宽邻域内点算法，并讨论了其计算复杂性。     

资源有限的加权总完工时间单机排序问题

本讨论资源有限的加权总工时间单机排序问题，对现在仍为OPEN问题1｜pj=bj-ajuj，∑uj≤U｜∑wjCj给出了一个有关最优解中最优资源分配的重要性质，并利用该性质分别给出了三种情况bj=b,wj=w,aj=a；bj=b,wj=w,uj=u；aj=a,wj=w,uj=u的最优算法。     

合作联盟资源集成计划一种新方法

合作联盟里，资源集成计划往往是联盟成员群体谈判博弈的结果。本以两人博弈为例，对联盟的资源集成计划给出一个谈判博弈模型，能够较好地模仿和反映合作联盟资源整合计划的制订过程。     

基于实数编码的免疫遗传算法研究

针对标准遗传算法(SGA)搜索效率低、收敛速度慢等缺陷，在免疫遗传算法的基础上提出了基于实数编码的免疫遗传算法(RIGA)。研究表明，RIGA对SGA的改进是有效可行的，显示出稳健的全局优化、计算量少而解的精度高等特点，具有较高的应用价值。     

半导体带电粒子探测器的研制及其在空间物理中的应用

阐述了空间辐射环境监测的意义,描述了半导体带电粒子探测器的研制及由其组成的望远镜系统在空间物理中的应用,并给出了用此探测器在卫星上进行地球辐射环境监测、太阳质子事件和地磁暴探测的部分结果.     

R~(n+1)中常高阶平均曲率超曲面

本文给出了Rn+1中超曲面的一些积分公式,并利用这些积分公式得到了以球面为边界的常高阶平均曲率超曲面的一些唯一性结果.     

非线性Schrdinger方程的高精度守恒差分格式

本文首先分析线性Schrodinger方程一种高阶差分格式的构造方法,得到方程的耗散项.在此基础上对三次非线性Schrodinger方程,提出了一种精度为O(r2 h2)的差分格式,证明了该格式保持了连续方程的两个守恒量,且是收敛的与稳定的.并通过数值例子与已有隐格式进行了比较,结果表明,本文格式在计算量类似的情况下,提高了数值精度.     

双维位置灵敏CsI(Tl)探测器

描述了一种双维位置灵敏CsI(Tl)探测器.用3组分α源测量该探测器得到的位置分辨为0.81mm(FWHM),对于69MeV/u ³⁶Ar能量分辨为0.9％(FWHM).在RIBLL的ΔE-E粒子鉴别望远镜中常常作为E探测器.由于CsI(Tl)晶体对不同的粒子的能损-光输出的非线性,需要针对不同离子对CsI探测器作能量-光输出校正曲线.     

Bounds to optimal burn‐in and optimal work size

Burn‐in is a widely used method to improve the quality of products or systems after they have been produced. In this paper, we consider the problem of determining the optimal burn‐in time and optimal work size maximizing the long‐run average amount of work saved per time unit in the computer applications. Assuming that the underlying lifetime distribution of the computer has an initially decreasing or/and eventually increasing failure rate function, an upper bound for the optimal burn‐in time is derived for each fixed work size and a uniform (with respect to the burn‐in time) upper bound for the optimal work size is also obtained. Furthermore, it is shown that a non‐trivial lower bound for the optimal burn‐in time can be derived if the underlying lifetime distribution has a large initial failure rate. Copyright © 2005 John Wiley & Sons, Ltd.