全文获取类型
收费全文 | 19668篇 |
免费 | 3311篇 |
国内免费 | 2315篇 |
专业分类
化学 | 13666篇 |
晶体学 | 177篇 |
力学 | 1129篇 |
综合类 | 118篇 |
数学 | 2717篇 |
物理学 | 7487篇 |
出版年
2024年 | 86篇 |
2023年 | 428篇 |
2022年 | 644篇 |
2021年 | 709篇 |
2020年 | 850篇 |
2019年 | 772篇 |
2018年 | 695篇 |
2017年 | 661篇 |
2016年 | 985篇 |
2015年 | 958篇 |
2014年 | 1093篇 |
2013年 | 1464篇 |
2012年 | 1683篇 |
2011年 | 1753篇 |
2010年 | 1228篇 |
2009年 | 1097篇 |
2008年 | 1252篇 |
2007年 | 1104篇 |
2006年 | 980篇 |
2005年 | 887篇 |
2004年 | 705篇 |
2003年 | 617篇 |
2002年 | 685篇 |
2001年 | 545篇 |
2000年 | 438篇 |
1999年 | 429篇 |
1998年 | 342篇 |
1997年 | 311篇 |
1996年 | 330篇 |
1995年 | 291篇 |
1994年 | 232篇 |
1993年 | 163篇 |
1992年 | 165篇 |
1991年 | 160篇 |
1990年 | 125篇 |
1989年 | 95篇 |
1988年 | 57篇 |
1987年 | 57篇 |
1986年 | 72篇 |
1985年 | 47篇 |
1984年 | 33篇 |
1983年 | 26篇 |
1982年 | 15篇 |
1981年 | 11篇 |
1980年 | 4篇 |
1976年 | 1篇 |
1975年 | 2篇 |
1974年 | 1篇 |
1969年 | 1篇 |
1957年 | 4篇 |
排序方式: 共有10000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
991.
Y. H. Zhang X. H. Zhou Q. Z. Zhao X. F. Sun X. G. Lei Y. X. Guo Z. Liu X. F. Chen Y. T. Zhu S. X. Wen G. J. Yuan X. A. Liu 《Zeitschrift für Physik A Hadrons and Nuclei》1996,355(1):335-336
High spin states of the odd-odd162Lu nucleus have been studied via147Sm(19F,4nγ)162Lu reaction at 95 MeV beam energy. Level scheme for yrast band based onπ[h11/2 v[i13/2] quasiparticle configuration was established up to I π = (23?) for the first time. This band shows the signature inversion in energy before backbending generally appeared in this mass region. It is stressed that the signature splitting in162Lu is larger than that in the160Tm nucleus. 相似文献
992.
993.
Let T be a Cowen-Douglas operator. In this paper, we study the von Neumann algebra V?(T) consisting of operators commuting with both T and T? from a geometric viewpoint. We identify operators in V?(T) with connection-preserving bundle maps on E(T), the holomorphic Hermitian vector bundle associated to T. By studying such bundle maps, the structure of V?(T) as well as information on reducing subspaces of T can be determined. 相似文献
994.
995.
996.
In this paper, we show the following result: Let K
i
be a knot in a closed orientable 3-manifold M
i
such that (M
i
,K
i
) is not homeomorphic to (S
2 ×S
1, x
0 ×S
1), i = 1, 2. Suppose that the Euler Characteristic of any meridional essential surface in each knot complement E(K
i
) is less than the difference of one and twice of the tunnel number of K
i
. Then the tunnel number of their connected sum will not go down. If in addition that the distance of any minimal Heegaard
splitting of each knot complement is strictly more than 2, then the tunnel number of their connected sum is super additive. 相似文献
997.
In this paper, inverse spectra problems for a differential pencil are studied. By using the approach similar to those in Hochstadt and Lieberman (1978) [14] and Ramm (2000) [26], we prove that (1) if p(x) (or q(x)) is full given on the interval [0,π], then a set of values of eigenfunctions at the mid-point of the interval [0,π] and one spectrum suffice to determine q(x) (or p(x)) on the interval [0,π] and all parameters in the boundary conditions; (2) if p(x) (or q(x)) is full given on the interval [0,π], then some information on eigenfunctions at some internal point and parts of two spectra suffice to determine q(x) (or p(x)) on the interval [0,π] and all parameters in the boundary conditions. 相似文献
998.
柔性有机场效应晶体管具有可折叠、质量轻、低成本等优点,在柔性显示、柔性传感器、柔性射频标签和柔性集成电路等方面显示了广阔的应用前景.本文在介绍柔性有机场效应 晶体管最新研究进展的基础上, 总结了柔性有机场效应晶体管的器件结构和柔性有机场效应晶体管所使用的衬底材料、 栅绝缘层材料、有源层材料及电极材料, 阐述了柔性有机场效应晶体管的制备工艺, 并讨论了不同的弯曲方式对柔性有机场效应晶体管性能的影响, 最后总结和展望了柔性有机场效应晶体管的应用领域.
关键词:
柔性
晶体管
有机/聚合物
溶液加工 相似文献
999.
Degradation and recovery properties of AlGaN/GaN high-electron mobility transistors under direct current reverse step voltage stress 下载免费PDF全文
Direct current (DC) reverse step voltage stress is applied on the gate of AlGaN/GaN high-electron mobility transistor (HEMT). Experiments show that parameters degenerate under stress. Large-signal parasitic source/drain resistance (RS/RD) and gate-source forward I-V characteristics are recoverable after breakdown of the device under test (DUT). Electrons trapped by both the AlGaN barrier trap and the surface state under stress lead to this phenomenon, and surface state recovery is the major reason for the recovery of device parameters. 相似文献
1000.