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971.
972.
973.
对波前重构算法中的区域法进行了改进,使其能够应用于板条增益介质的波前畸变诊断。利用该方法对47块Nd: YAG板条增益介质沿厚度方向波前畸变进行测量,指出镀膜和加工等环节对增益介质的波前畸变可能造成的影响。按照波前畸变峰谷(PV)值对测量结果进行了统计,结果表明:增益介质造成的静态波前畸变参差不齐,测量样本中静态畸变PV值最多可达5 m以上,且仅有4.1%的增益介质静态畸变PV值小于1 m。通过选取某些增益介质使之级联,测量其组合波前畸变,发现在系统中使用两块波面互补的增益介质有助于减小系统的静态波前畸变。 相似文献
974.
975.
Let AlgL be a J-subspace lattice algebra on a Banach space X and M be an operator in AlgL. We prove that if δ : AlgL → B(X) is a linear mapping satisfying δ(AB) = δ(A)B + Aδ(B)for all A, B ∈ AlgL with AMB = 0, then δ is a generalized derivation. This result can be applied to atomic Boolean subspace lattice algebras and pentagon subspace lattice algebras. 相似文献
976.
977.
978.
关于可列非齐次马氏链的广义C-强遍历性 总被引:1,自引:0,他引:1
马氏链遍历性理论在生物,数值计算,信息理论,自动控制,近代物理和公用事业中的服务系统等众多领域都有着广泛的应用,马氏链的C-强遍历性是马氏链遍历性理论的重要内容.本文给出了马氏链C-强遍历性的一个推广,首先给出了在可列状态空间取值的非齐次马氏链的广义C-强遍历性和广义一致C-强遍历性的概念,然后研究这两种遍历性成立的充分条件. 相似文献
979.
We propose an efficient scheme for optimizing the optical memory of a sequence of signal light pulses in a system of ultracold atoms in Λ configuration. The memory procedure consists of write-in, storage, and retrieval phases. By applying a weak microwave field in the storage stage, additional phase-dependent terms are included, and the contrast of the output signal pulses can be dynamically controlled (enhanced or suppressed) through manipulating the relative phase φ between optical and microwave fields. Our numerical analysis shows that the contrast is enhanced to the most extent when φ=1.5π. In addition, the contrast is in proportion to the Rabi frequency of the microwave field with a certain relative phase. 相似文献
980.
A method for growing graphene on a sapphire substrate by depositing an SiC buffer layer and then annealing at high temperature in solid source molecular beam epitaxy (SSMBE) equipment was presented. The structural and electronic properties of the samples were characterized by reflection high energy diffraction (RHEED), X-ray diffraction Φ scans, Raman spectroscopy, and near edge X-ray absorption fine structure (NEXAFS) spectroscopy. The results of the RHEED and Φ scan, as well as the Raman spectra, showed that an epitaxial hexagonal α-SiC layer was grown on the sapphire substrate. The results of the Raman and NEXAFS spectra revealed that the graphene films with the AB Bernal stacking structure were formed on the sapphire substrate after annealing. The layer number of the graphene was between four and five, and the thickness of the unreacted SiC layer was about 1--1.5 nm. 相似文献