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11.
12.
DING Bin-Gang ZHANG Da-Li LU Ding-Hui 《理论物理通讯》2006,46(1):113-118
We calculate the binding energies of Ni, Cu, Xe, Cs, Pt, Au, Np, Pu isotope chains using two interaction parameter sets NL-3 and NL-Z, and compared the relative errors of the even-even nuclei with those of odd-even nuclei and odd-odd nuclei. We find that the errors of binding energy of odd-even and odd-odd nuclei are not bigger than the one of even-even nuclei. The result shows that comparing with even-even nuclei, there is no systematic error and approximation in the calculations of the binding energy of odd-even and odd-odd nuclei with relativistic mean-field theory. In addition, the result is explained theoretically. 相似文献
13.
在北京同步辐射装置(BSRF)1W1B光束线和XAFS实验站上国内首次建立了硬X射线波段的磁圆二色实验(XMCD)方法. 以单晶金刚石作为相位延迟片, 在透射劳埃(Laue)模式下, 利用衍射双折射效应, 将入射的单色线偏振光转变为相应的左旋和右旋圆偏振光, 测量磁化样品对左旋和右旋圆偏振光吸收的差异, 获得了XMCD信号. 本实验使用透射方法测量了Pt-Fe合金Pt L2,3边的XMCD, 获得了XMCD信号. XMCD实验方法的建立, 为研究磁性材料尤其是磁性薄膜材料的电子结构和磁结构提供了实验基础. 相似文献
14.
不完全信息群体决策专家权重的集结 总被引:8,自引:5,他引:3
本文对于属性权重信息和属性效用信息都不完全的群体多属性决策问题,通过构造属性值区间和运用系统聚类分析法,对群体决策中的专家进行分类,并确定每位专家的权重. 相似文献
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16.
以CF4和C6H6的混合气体作为气源,在微波电子回旋共振化学气相沉积(ECRCVD)装置中制备了氟化非晶碳薄膜(aC:F),并在N2气氛中作了退火处理以考察其热稳定性.通过傅里叶变换红外吸收谱和紫外可见光谱获得了薄膜中CC双键的相对含量和光学带隙,发现膜中CC键含量与光学带隙之间存在着密切的关联,在高微波功率下沉积的氟化非晶碳膜具有低的光学带隙和较好的热稳定性.
关键词:
氟化非晶碳膜
光学带隙
退火温度
热稳定性 相似文献
17.
L.V. Zolotukhina Ye.V. ZabolotskayaYe.V. Arkhipova M.G. Zuev 《Journal of Physics and Chemistry of Solids》2002,63(3):415-418
Phase equilibria in the Sc2O3-V2O5-Nb2O5-Ta2O5 system and properties of ScNb2−2xTa2xVO9 phases were studied by X-ray phase analysis, optical and radio spectroscopy. A continuous series of solid solutions was shown to exist at 0≤x≤1. V(IV) centers with different crystallographic surrounding were detected for all the considered compositions. A correlation between the number of V(IV) ions and the width of the forbidden gap in the solid solutions was found. 相似文献
18.
19.
为了在亚临界到临界点这个大范围内保证制冷剂物性计算的快速、稳定、可逆,提出将整个数据区间划分成若干个子区间分别进行隐式拟合,并且保证相邻子区间连接点处的连续与光滑,以及通过求分析解从隐式方程中得到显式物性计算式的方法.以美国国家标准局开发的程序REFPROP6.01的计算结果作为数据源,以R410A为例对该方法做了验证.得出快速物性计算公式的应用范围为饱和温度-60℃至临界温度,与NIST REFPROP 6.01的计算结果进行比较表明,计算速度快1500倍,平均相对偏差小于0.01%. 相似文献
20.
Characterizations of Tb:Zn2SiO4 films on silicon wafer prepared by sol-gel dip-coating and solid-phase reaction 下载免费PDF全文
Terbium-doped Zn_2SiO_4 films were successfully prepared on Si wafers by a simple sol-gel dip-coating and solid-phase reaction method of ZnO and SiO_2. X-ray diffraction (XRD) and UV-Vis absorption results revealed that films processed below 850℃ were ZnO in wurzite structure, and films processed above 850℃ were Zn_2SiO_4 in wellimite structure. Photoluminescence measurements of the Tb-doped Zn_2SiO_4 films showed two strong emission bands at 490 and 545nm. The photoluminescence lifetime was 4.6ms. 相似文献